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特种设备无损检测X射线检测习题集2012版

发布时间:2013-10-17 11:37:34  

特种设备无损检测技术

培训考核习题集

二0一二年三月

说 明

《特种设备无损检测技术培训考核习题集》是在《锅炉压力容器无损检测新编教材配套习题集》基础上改写而成的。改写过程中纠正了书中的一些错误外,还增加了材料、焊接、热处理等基础知识的题目。

编写本习题集的主要依据是《射线检测》、《超声波检测》、《磁粉检测》、《渗透检测》、《特种设备无损检测相关知识》五本教材,编写时还参考了全国考委会《锅炉压力容器无损检测人员考试习题集》、江苏省《无损检测习题集》以及部分美国ASNT习题。 本书主要编写人:强天鹏、施健。

无损检测知识部分的习题集的排列编号与教材的章节对应。RT和UT部分的计算题按难易程度和实用性分为四个等级。Ⅰ级资格人员应掌握*级题,理解或了解**级题;Ⅱ级资格人员应掌握**级以下题,理解或了解***级题;Ⅲ级资格人员应掌握***级以下题,理解或了解****级题。建议在理论考试中,计算题部分“掌握”的等级题占75%左右,“理解”或“了解”的等级题占25%左右。其它题型则未分级,学员可参考锅炉压力容器无损检测人员资格考核大纲中“掌握”、“理解”和“了解”的要求来确定对有关习题的熟练程度。

材料、焊接、热处理知识部分的习题选用了是非和选择题两种题型,主要是考虑这两种题型有利于学员对基础概念的掌握。 欢迎读者对书中的缺点错误批评指正。

2012年3月〃南京

目 录

说明

第一部分 射线检测

一、是非题 是非题答案

二、选择题 选择题答案

三、问答题 问答题答案

第一部分 射线检测

共: 803题

其中: 是非题 301题 选择题 284题 问答题 118题 计算题 100题

一、 是非题

1.1 原子序数Z等于原子核中的质子数量。 ( √)

1.2 为了使原子呈中性,原子核中的质子数必须等于核外的电子数。 ( √)

1.3 当原子核内的中子数改变时,它就会变为另一种元素。 (Χ)

1.4 当一个原子增加一个质子时,仍可保持元素的种类不变。 ( )

1.5 原子序数相同而原子量不同的元素,我们称它为同位素。 ( )

1.6 不稳定同位素在衰变过程中,始终要辐射γ射线。 ( )

1.7 不同种类的同位素,放射性活度大的总是比放射性活度小的具有更高的辐射剂量。

( )

1.8 放射性同位素的半衰期是指放射性元素的能量变为原来的一半所需要的时间。

( )

1.9 各种γ射线源产生的射线均是单能辐射。 ( )

1.10 α射线和β射线虽然有很强的穿透能力,但由于对人体辐射伤害太大,所以一般不用 于工业探伤。 ( ) 111 将元素放在核反应堆中受过量中子轰击,从而变成人造放射性同位素,这一过程称为

“激活”。 ( )

1.12 与其他放射性同位素不同,Cs137是原子裂变的产物,在常温下呈液态,使用前须防

止泄漏污染。 ( )

1.13 与Ir192相比,Se75放射性同位素的半衰期更短,因此其衰变常数λ也更小一些。

( )

1.14 射线能量越高,传播速度越快,例如γ射线比Χ射线传播快。 ( )

1.15 Χ射线或γ射线强度越高,其能量就越大。 ( Χ )

1.16 Χ射线或γ射线是以光速传播的微小的物质粒子。 (Χ)

1.17 当χ射线经过2个半价层后,其能量仅仅剩下最初的1/4。 ( )

1.18 如果母材的密度比缺陷的密度大一倍,而母材的原子序数比缺陷的原子序数小一半

时,缺陷在底片上所成的象是白斑。 ( )

1.19 标识Χ射线具有高能量,那是由于高速电子同靶原子核相碰撞的结果。 ( )

1.20 连续Χ射线是高速电子同靶原子的轨道电子相碰撞的结果。 ( )

1.21 Χ射线的波长与管电压有关。 ( )

1.22 Χ射线机产生Χ射线的效率比较高,大约有95%的电能转化为Χ射线的能量。

( )

1.23 一种同位素相当与多少千伏或兆伏能力的Χ射线机来做相同的工作,这种关系叫做同

位素的当量能。 ( )

1.24 同能量的γ射线和Χ射线具有完全相同的性质。 ( )

1.25 Χ射线的强度不仅取决于Χ射线机的管电流而且还取决于Χ射线机的管电压。( )

1.26 与C060相对,CS137发出的γ射线能量较低,半衰期较短。长 ( Χ )

1.27 光电效应中光子被完全吸收,而康普顿效应中光子未被完全吸收。 ( )

1.28 一能量为300KeV的光子与原子相互作用,使一轨道电子脱离50KeV结合能的轨道,

且具有50KeV动能飞出,则新光子的能量是200KeV。 ( )

1.29 光电效应的发生几率随原子序数的增大而增加。 ( )

1.30 光电子又称为反冲电子。 ( Χ )

1.31 随着入射光子能量的增大,光电吸收系数迅速减少,康普顿衰减系数逐渐增大。( )

1.32 当射线能量在1.02MeV至10MeV区间,与物质相互作用的主要形式是电子对效应。

( )

1.33 连续Χ射线穿透物质后,强度减弱,线质不变。 ( )

1.34 射线通过材料后,其强度的9/10被吸收,该厚度即称作1/10价层。 ( )

1.35 当射线穿过三个半价层后,其强度仅剩下最初的1/8。 ( )

1.36 连续Χ射线的有效能量是指穿透物质后,未被物质吸收的能量。所以穿透厚度越大,

有效能量越小。 ( )

1.37 CO60和Ir192射线源是稳定的同位素在核反应堆中俘获中子而得到的,当射线源经过

几个半衰期后,将其放在核反应堆中激活,可重复使用。 ( )

1.38 Χ射线和γ射线都是电磁辐射,而中子射线不是电磁辐射。 ( )

1.39 放射性同位素的当量能总是高于起平均能。 ( )

1.40 Χ射线与可见光本质上的区别仅仅是振动频率不同。 ( )

1.41 高速电子与靶原子的轨道电子相撞发出Χ射线,这一过程称作韧致辐射。 ( )

1.42 连续Χ射线的能量与管电压有关,与管电流无关。 ( )

1.43 连续Χ射线的强度与管电流有关,与管电压无关。 ( )

1.44 标识Χ射线的能量与管电压、管电流均无关,仅取决于靶材料。 ( )

1.45 Χ射线与γ射线的基本区别是后者具有高能量,可以穿透较厚物质。 ( )

1.46 采取一定措施可以使射线照射范围限制在一个小区域,这样的射线称为窄束射线。

( )

1.47 对钢、铝、铜等金属材料来说,射线的质量吸收系数值总是小于线吸收系数值。( )

1.48 原子核的稳定性与核内中子数有关,核内中子数越小,核就越稳定。 ( )

1.49 经过一次β衰变,元素的原子序数Z增加1,而经过一次α衰变,元数的原子序数Z

将减少2。 ( )

1.50 放射性同位素衰变常数越小,意味着该同位素半衰期越长。 ( )

1.51 在管电压、管电流不变的前提下,将Χ射线管的靶材料由钼改为钨,所发生的射线强

度会增大。 ( )

1.52 在工业射线探伤中,使胶片感光的主要是连续谱Χ射线,标识谱Χ射线不起什么作用。

( )

1.53 Ir192射线与物质相互作用,肯定不会发生电子对效应。 ( )

1.54 高能Χ射线与物质相互作用的主要形式之一是瑞利散射。 ( )

1.55 连续Χ射线穿透物质后,强度减弱,平均波长变短。 ( √ )

1.56 不包括散射成分的射线束称为窄射线束。( √ )

1.57 单一波长电磁波组成的射线称为“单色”射线,又称为单能辐射。( √ )

1.58 α射线和β射线一般不用于工业无损检测,是因为这两种射线对人体辐射伤害太大。( 3 )

1.59 原子由一个原子核和若干个核外电子组成。( √ )

1.60 原子核的核外电子带正电荷,在原子核周围高速运动。( 3 )

1.61 原子序数Z=核外电子数=质子数=核电荷数。( √ )

1.62 原子量=质子数+中子数。( √ )

1.63 中子数=相对原子质量(原子量)-质子数=相对原子质量(原子量)-原子序数Z。( √ )

1.64 不稳定的同位素又称放射性同位素,Z≥83的许多元素及其化合物具有放射性。( √ )

1.65 目前射线检测所用的同位素均为人工放射性同位素。( √ ) -

1.66 Χ射线谱中波长连续变化的部分,称为连续谱。( √ )

1.67 康普顿效应的发生几率大致与光子能量成正比,与物质原子序数成反比。( 3 )

1.68 瑞利散射是相干散射的一种。( √ )

1.69 只有入射光子能量>1.02MeV时,才能发生电子对效应。( √ )

1.70 光电效应和电子对效应引起的吸收有利于提高照相对比度。( √ )

1.71 康普顿效应产生的散射线会降低照相对比度。( √ )

1.72 射线照相法适宜各种熔化焊接方法的对接接头和钢板、钢管的检测。( 3 )

2.1 Χ光管的有效焦点总是小于实际焦点。 ( √ )

2.2 Χ射线机中的焦点尺寸,应尽可能大,这样发射的Χ射线能量大,同时也可防止靶过分受

热。(Χ)

2.3 Χ射线管中电子的速度越小,则所发生的射线能量也就越小。 ( √ )

2.4 由于Χ射线机的电压峰值(KVP)容易使人误解,所以Χ射线机所发出的射线能量用

电压的平均值表示。 ( )

2.5 全波整流Χ射线机所产生射线的平均能比半波整流Χ射线机所产生的平均能高。

( )

2.6 移动式Χ射线机只能室内小范围移动,不能到野外作业。 ( )

2.7 移动式Χ射线机有油冷和气冷两种绝缘介质冷却方式。 ( )

2.8 相同千伏值的金属陶瓷管和玻璃管,前者体积和尺寸小于后者。 ( )

2.9 “变频”是减小Χ射线机重量的有效措施之一。 ( )

2.10 放射性同位素的比活度越大,其辐射强度也就越大。 ( )

2.11 适宜探测厚度100mm以上钢试件γ源的是Co60,适宜探测厚度20mm以下钢试件的γ

源是Ir192。 ( )

2.12 黑度定义为阻光率的常用对数值。 ( )

2.13 底片黑度D=1,即意味着透射光强为入射光强的十分之一。 ( )

2.14 ISO感光度100的胶片,达到净黑度2.0所需的曝光量为100戈瑞。 ( )

2.15 能量较低的射线较更容易被胶片吸收,引起感光,因此,射线透照时防止散射线十分

重要。( )

2.16 用来说明管电压、管电流和穿透厚度关系曲线称为胶片特性曲线。 ( )

2.17 胶片达到一定黑度所需的照射量(即伦琴数)与射线质无关。 ( )

2.18 同一胶片对不同能量的射线具有不同的感光度。 ( )

2.19 比活度越小, 即意味着该放射性同位素源的尺寸可以做得更小。 ( )

2.20 胶片灰雾度包括片基年固有密度和化学灰雾密度两部分。 ( )

2.21 非增感型胶片反差系数随黑度的增加而增大,而增感型胶片反差系数随黑度增加的增

大而减小。 ( )

2.22 在常用的100KV-400KVΧ射线能量范围内,铅箔增感屏的增感系数随其厚度的增大而

减小。( )

2.23 对Χ射线。增感系数随射线能量的增高而增大。但对γ射线来说则不是这样,例如,

钻60的增感系数比铱192低。 ( )

2.24 对Χ射线机进行“训练”的目的是为了排出绝缘油中的气泡。 ( )

2.25 Χ和γ射线的本质是相同的,但γ射线来自同位素,而Χ射线来自于一个以高压加

速电子的装置。 ( )

2.26 在任何情况下,同位素都优于Χ射线设备,这是由于使用它能得到更高的对比度和清

晰度。( )

2.27 对于某一同位素放射源,其活度越大,则所发出的射线强度也越大。 ( )

2.28 将一张含有针孔的铅板放于Χ射线管和胶片之间的中间位置上,可以用来测量中心射

线的强度。( )

2.29 相同标称千伏值和毫安值的Χ射线机所产生的射线强度和能量必定相同。 ( )

2.30 所谓“管电流”就是流过Χ射线管灯丝的电流。 ( )

2.31 放射源的比活度越大,其半衰期就月短。 ( )

2.32 胶片对比度与射线能量有关,射线能量越高,胶片对比度越小。 ( )

2.33 胶片特性曲线的斜率用来度量胶片的对比度。 ( )

2.34 从实际应用的角度来说,射线的能量对胶片特性曲线形状基本上不产生影响。

( )

2.35 宽容度大的胶片其对比度必然低。 ( )

2.36 显影时间延长,将会使特性曲线变陡,且在坐标上的位置向左移。 ( )

2.37 胶片特性曲线在坐标上的位置向左移,意味着胶片感光速度越小。 ( )

2.38 与一般胶片不同,Χ射线胶片双面涂布感光乳剂层,其目的是为了增加感光速度和黑

度。(√)

2.39 “潜象”是指在没有强光灯的条件下不能看到的影象。 ( )

2.40 嵌增感屏除有增感作用外,还有减少散射线的作用,因此在射线能穿透的前提下,

应尽量选用较厚的铅屏。 ( )

2.41 透照不锈钢焊缝,可以使用碳金属丝象质计。 ( )

2.42 透照钛焊缝,必须使用钛金属丝象质计。 ( )

2.43 透照镍基合金焊缝时使用碳素钢象质计,如果底片上显示的线径编号刚刚达到标准

规定值,则该底片的实际灵敏度肯定达不到标准规定的要求。 ( )

2.44 因为铅箔增感屏的增感系数高于荧光增感屏,所以得到广泛使用。 ( )

2.45 胶片卤化银粒度就是显影后底片的颗粒度。 ( )

2.46 梯噪比高的胶片成像质量好。 ( )

2.47 胶片系统分类的主要依据是胶片感光速度和梯噪比。 ( )

2.48 直通道型γ射线机比“S”通道型γ射线机的机体轻,体积也小。( √ )

2.49 铺设γ射线机输源管时应注意弯曲半径不得过小,否则会导致其变形或折断。( 3 )

2.50 像质剂一般摆放在射线透照区内显示灵敏度较低部位。( √ )

2.51 管道爬行器是一种装在爬行装置上的Χ射线机。( √ )

2.52 Χ射线机在同样电流、电压条件下,恒频机的穿透能力最强。( √ )

2.53 Χ射线管的阴极是产生Χ射线的部分。( 3 )

2.54 Χ射线管的阳极是由阳极靶、阳极体、阳极罩三部分构成。( √ )

2.55 一般阳极体采用导热率大的无氧铜制成。( √ )

2.56 携带式Χ射线机的散热形式多采用辐射散热式。( √ )

2.57 Χ射线管的阳极特性就是Χ射线管的管电压与管电流的关系。( √ )

2.58 Χ射线机采用阳极接地方式的自整流电路,对高压变压器的绝缘性能要求较高。

( √ )

2.59 Χ射线机的灯丝变压器是一个降压变压器。( √ )

2.60 γ射线机的屏蔽容器一般用贫化铀材料制成,其体积、重量比铅屏蔽体要小许多。

( √ )

2.61 在换γ射线源的操作过程中,必须使用γ射线计量仪表及音响报警仪进行检测。

( √ )

2.62 射线胶片由片基、结合层、感光乳剂层、保护层组成。( √ )

2.63 胶片感光后,产生眼睛看不见的影像叫“潜影”。( √ )

2.64 射线胶片的感光特性可在曝光曲线上定量表示。( 3 )

2.65 射线底片上产生一定黑度所用曝光量的倒数定义为感光度。( √ )

2.66 未经曝光的胶片,经暗室处理后产生的一定黑度称为本底灰雾度。( √ )

2.67 胶片对不同曝光量在底片上显示不同黑度差的固有能力称为梯度。( √ )

2.68 胶片有效黑度范围相对应的曝光范围称为宽容度。( √ )

2.69 胶片的特性指标只与胶片有关,与增感屏和冲洗条件无关。( 3 )

2.70 黑度计和光学密度计是两种不同类型的测量仪器。( 3 )

2.71 使用金属增感屏所得到的底片像质最佳,其增感系数也最小。( √ )

2.72 增感系数Q是指不用增感屏的曝光量Eo与使用增感屏时的曝光量E之间的比值,即:

Q=Eo/E (√)

2.73 金属增感屏具有增感效应和吸收效应两个基本效应。( √ )

2.74 由于增感系数高,荧光增感屏多用于承压设备的焊缝射线照相。( 3 )

2.75 像质剂是用来检查和定量评价射线底片影像质量的工具。( √ )

2.76 像质剂通常用与被检工件材质相同或对射线吸收性能相似的材料制作。( √ )

3.1 影象颗粒度完全取决于胶片乳剂层中卤化银微粒尺寸的大小。 ( )

3.2 象质计灵敏度1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被检出。 ( )

3.3 使用较低能量的射线可得到较高的主因对比度。 ( )

3.4 射线照相时,若千伏值提高,将会使胶片对比度降低。 ( )

3.5 一般对厚度差较大的工件,应使用较高能量射线透照,其目的是降低对比度,增大宽

容度。( )

3.6 增大曝光量可提高主因对比度。 ( )

3.7 当射线的有效量增加到大约250KV以上时,就会对底片颗粒度产生明显影响。

( )

3.8 增大最小可见对比度△Dmin,有助于识别小缺陷。 ( )

3.9 射线照相主因对比度与入射线的能谱有关,与强度无关。 ( )

3.10 用增大射源到胶片距离的办法可降低射线照相固有不清晰度。 ( )

3.11 减小几何不清晰度的途径之一,就是使胶片尽可能地靠近工件。 ( )

3.12 利用阳极侧射线照相所得到的底片的几何不清晰度比阴极侧好。 ( )

3.13 胶片的颗粒越粗,则引起的几何不清晰度就越大。 ( )

3.14 使用γ射线源可以消除几何不清晰度。 ( )

3.15 增加源到胶片的距离可以减小几何不清晰度,但同时会引起固有不清晰度增大。 ( )

3.16 胶片成象的颗粒性会随着射线能量的提高而变差。 ( )

3.17 对比度、清晰度、颗粒度是决定射线照相灵敏度的三个主要因数。 ( )

3.18 胶片对比度和主因对比度均与工件厚度变化引起的黑度差有关。 ( )

3.19 使用较低能量的射线可提高主因对比度,但同时会降低胶片对比度。 ( )

3.20 胶片的颗粒度越大,固有不清晰度也就越大。 ( )

3.21 显影不足或过度,会影响底片对比度,但不会影响颗粒度。 ( )

3.22 实际上由射线能量引起的不清晰度和颗粒度是同一效应的不同名称。 ( )

3.23 当缺陷尺寸大大小于几何不清晰度尺寸时,影象对比度会受照相几何条件的影响。( )

3.24 可以采取增大焦距的办法使尺寸较大的源的照相几何不清晰度与尺寸较小的源完全一

样。( )

3.25 如果信噪比不够,即使增大胶片衬度,也不可能识别更小的细节影像。 ( )

3.26 散射线只影响主因对比度,不影响胶片对比度。 ( )

3.27 底片黑度只影响胶片对比度,与主因对比度无关。 ( )

3.28 射线的能量同时影响照相的对比度、清晰度和颗粒度。 ( )

3.29 透照有余高的焊缝时,所选择的“最佳黑度”就是指是能保证焊缝部位和母材部位

得到相同角质计灵敏度显示的黑度值。 ( )

3.30 由于最小可见对比度△Dmin随黑度的增大而增大,所以底片黑度过大会对缺陷识别

产生不利的影响。 ( )

3.31 底片黑度只影响对比度,不影响清晰度。 ( )

3.32 试验证明,平板试件照相,底片最佳黑度值大约在2.5左右。 ( )

3.33 固有不清晰度是由于使溴化银感光的电子在乳剂层中有一定穿越行程而造成的。

( )

3.34 底片能够记录的影象细节的最小尺寸取决于颗粒度。 ( )

3.35 对有余高的焊缝照相,应尽量选择较低能量的射线,以保证焊缝区域有较高的对比

度。( )

3.36 对比度修正系数σ值与缺陷的截面形状有关,例如裂纹的截面形状与象质计金属丝

不同,两者的σ值也不同。 ( )

3.37 由于底片上影象信噪比随曝光量的增加而增大,所以增加曝光量有利于缺陷影象识

别。( )

3.38 射线照相的信噪比与胶片梯噪比具有不同含义。 ( √ )

3.39 射线照相固有不清晰度与增感屏种类无关。( 3 )

3.40 焦点至工件表面的距离是影响几何不清晰度的原因之一。( √ )

3.41 胶片对比度与显影条件有关。( √ )

3.42 一般情况下,胶片感光速度越高,射线照相影像的颗粒性就越不明显。( 3 )

3.43 焦点尺寸的大小与几何不清晰度没有关系。( 3 )

3.44 增感屏与胶片未贴紧会增大固有不清晰度。( √ )

3.45 衰减系数μ只与射线能量有关,与试件材质无关。( 3 )

3.46 几何不清晰度与焦点尺寸和工件厚度成正比,与焦点至工件表面的距离成反比。

( √ )

3.47 射线照相固有不清晰度可采用铂-钨双丝像质剂测定。( √ )

3.48 颗粒性是指均匀曝光的射线底片上影像黑度分布不均匀的视觉印象。( √ )

4.1 按照“高灵敏度法”的要求,300KVX射线可透照钢的最大厚度大约是40mm。

( )

4.2 γ射线照相的优点是射线源尺寸小,且对厚度工作照相曝光时间短。 ( )

4.3 选择较小的射线源尺寸dr,或者增大焦距值F,都可以使照相Ug值减小。( )

4.4 欲提高球罐内壁表面的小裂纹检出率,采用源在外的透照方式比源在外的透照方式

好。( )

4.5 环焊缝的各种透照方式中,以源在内中心透照周向曝光法为最佳方式。 ( )

4.6 无论采用哪一种透照方式,一次透照长度都随着焦距的增大而增大。 ( )

4.7 所谓“最佳焦距”是指照相几何不清晰度Ug与固有不清晰度Ui相等时的焦距值。

( )

4.8 已知铜的等效系数Ψ铜=1.5,则透照同样厚度的钢和铜时,后者的管电压应为前者的

1.5倍。( )

4.9 对有余高的焊缝进行透照,热影响区部位的散射比要比焊缝中心部位大得多。

( )

4.10 源在内透照时,搭接标记必须放在射源侧。 ( )

4.11 背散射线的存在,会影响底片的对比度。通常可在工件和胶片之间放置一个嵌字B

来验证背散射线是否存在。 ( )

4.12 不论采用何种透照布置,为防止漏检,搭接标记均应放在射线源侧。 ( )

4.13 由于“互易定律实效”采用荧光增感屏时,根据曝光因子公式选择透照参数可能会

产生较大误差。 ( )

4.14 当被透工件厚度差较大时,就会有“边蚀散射”发生。 ( )

4.15 在源和工件之间放置滤板来减少散射线的措施对γ射线并不适用。 ( )

4.16 使用“滤板”可增大照相宽容度,但滤板最好是放在工件和胶片之间。 ( )

4.17 在源和工件之间放置滤板减少散射线的措施对于平板工件照相并不适用。 ( )

4.18 在实际工作中正常使用的焦距范围内,可以认为焦距对散射比没有影响。 ( )

4.19 采用平靶周向Χ射线机对环焊缝作内透中心法周向曝光时,有利于检出横向裂纹,

但不利于检出纵向裂纹。 ( )

4.20 采用源在外单壁透照方式,如K值不变,则焦距越大,一次透照长度L3越大。( )

4.21 采用双壁单影法透照时,如保持K值不变,则焦距越大,一次透照长度L3就越小。

( )

4.22 用单壁法透照环焊缝时,所用搭接标记均应放在射源侧工件表面,以免端部缺陷漏

检( )。

4.23 对某一曝光曲线,应使用同一类型的胶片,但可更换不同的Χ射线机。 ( )

4.24 使用γ射线曝光曲线时,首先应知道射线源在给定时间的活度。 ( )

4.25 如果已知等效系数,用Χ射线曝光曲线来代替γ射线曝光曲线,也可能求出曝光参数。( )

4.26 小径管射线照相采用垂直透照法比倾斜透照法更有利于检出根部未熔合。 ( )

4.27 增大透照厚度宽容度最常用的办法是适当提高射线能量。 ( )

4.28 对尺寸很小的缺陷,其影象的对比度不仅与射线能量有关,而且与焦距有关。( )

4.29 材料的种类影响散射比,例如给定能量的射线在钢中的散射比要比在铝中大得多。

( )

4.30

4.31 在常规射线照相检验中,散射线是无法避免的。 ( ) 环缝双壁单影照相,搭接标记应放在胶片侧,底片的有效评定长度是底片上两搭接

标记之间的长度。 ( )

4.32 纵焊缝双壁单影照相,搭接标记应放在胶片侧,底片的有效评定长度就是两搭接标

记之间的长。 ( )

4.33 小径管双壁透照的要点是选用较高管电压,较低曝光量,其目的是减小底片反差,

扩大检出区域。 ( )

4.34 射线照相实际透照时很少采用标准允许的最小焦距值。 ( )

4.35 双片叠加观察是双胶片技术中的同速双片法经常采用的一种底片观察方法。( 3 )

4.36 选择射线源的首要因素是其对被检工件应具有足够的穿透力。( √ )

4.37 球罐γ射线全景曝光时,其曝光时间通过生产厂家提供的“专用计算尺”可以精确计

算出来。( 3 )

4.38 在满足几何不清晰度的前提下,为提高工效和影像质量,环形焊缝应尽量选用圆锥靶

周向X射线机作内透中心法周向曝光。( √ )

4.39 从射线照相灵敏度角度考虑:在保证穿透力的前提下,应尽量选择能力较低的X射线。( √ )

4.40 选择能量较低的X射线可以获得较高的对比度和宽容度。( 3 )

4.41 提高管电压是提高工效和灵敏度的有效方法之一。( 3 )

4.42 底片黑度可以通过改变曝光量来控制。( √ )

4.43 平方反比定律表示辐射强度与距离平方成反比。( √ )

4.44 对于散射源来说,往往最大的散射源来自于试件本身。( √ )

4.45 对厚度差较大的工件,散射比随射线能量的增大而增大。( 3 )

4.46 使用铅铂增感屏对减少散射线几乎不起作用。( 3 )

4.47 铅铂增感屏的铅铂厚度越大,其增感效率越大。( 3 )

4.48 在小径管透照中,影像各处的几何不清晰度都是一致的。( 3 )

5.1 显影十胶片上的AgBr被还原成金属银,从而使胶片变黑。 ( )

5.2 对曝光不足的底片,可采用增加显影时间或提高显影温度的方法来增加底片黑度,

从而获得符合要求的底片。 ( )

5.3 胶片在显影液中显影时,如果不进行任何搅动,则胶片上每一部位都会影响紧靠在

它们下方部位的显影。 ( )

5.4 定影液有两个作用,溶解未曝光的AgBr和坚膜作用。 ( )

5.5 所谓“通透时间”就是指胶片从放入定影液到乳剂层变为透明的这段时间。 ( )

5.6 减少底片上水迹的方法是温胶片快速干燥。 ( )

5.7 胶片表面起网状皱纹可能是胶片处理温度变化急剧而引起的。 ( )

5.8 冲洗胶片时,只要使用安全灯,胶片上就不会出现灰雾。 ( )

5.9 显影液中如果过量增加碳酸钠,在底片上会产生反差降低的不良后果。 ( )

5.10 使用被划伤的铅箔增感屏照相,底片上会出现与划伤相应的清晰的黑线。 ( )

5.11 胶片上静电花纹的产生是由于射线管两端的电压过高的原因。 ( )

5.12 射线底片上产生亮的月牙形痕迹的原因可能是曝光前使胶片弯曲。 ( )

5.13 射线底片上产生黑的月牙形痕迹的原因可能是曝光后使胶片弯曲。 ( )

5.14 如果显影时间过长,有些未曝光的AgBr也会被还原,从而增大了底片灰雾。( )

5.15 显影液中氢离子浓度增大,则显影速度减慢,故借助于碱使显影液保持一定PH值。

( )

5.16 定影液的氢离子浓度越高,定影能力就越强。 ( )

5.17 胶片未曝光部分变为透明时,即说明定影过程已经完成。 ( )

5.18 因为铁不耐腐蚀且容易生锈,所以不能用铁制容器盛放显影液。 ( )

5.19 溴化钾除了抑制灰雾的作用外,还有增大反差的作用。 ( )

5.20 显影时搅动不仅能够使显影速度加快,还有提高反差的作用。 ( )

5.21 所谓“超加和性”是指米吐尔和菲尼酮配合使用,显影速度大大提高的现象。( )

5.22 普通手工冲洗显影液不能用于自动洗片机。( √ )

5.23 定影液老化会导致底片长期保存后出现泛黄的现象。( √ )

5.24 铜、铁等金属离子对显影剂的氧化有催化作用。( √ )

5.25 水洗是胶片手工处理过程中重要步骤,水洗不充分的底片长期保存后会发生变色现象。( √ )

5.26 黑度、对比度、颗粒度是底片的主要质量指标。( √ )

5.27 米吐尔是显影液中的重要成分,它不但易溶于水,也易溶于亚硫酸钠溶液。( 3 )

5.28 吐米尔和对苯二酚都是显影剂,但吐米尔的显影能力大大低于对苯二酚。( 3 )

5.29 显影液中的溴化钾过量会大大抑制对苯二酚的显影作用。( √ )

5.30 显影液中保护剂的作用是阻止显影剂不被氧化,延长显影液的使用寿命。( √ )

5.31 显影液中促进剂的作用是增强显影剂的显影能力和速度。( √ )

5.32 氢氧化钠是显影液中促进剂,但它是强碱,在使用中要注意安全。( √ )

5.33 显影液中抑制剂的主要作用是抑制灰雾。( √ )

5.34 在定影过程中,定影剂与卤化银和金属银都发生化学反应。( 3 )

6.1 由于射线照相存在影象放大现象,所以底片评定时,缺陷定量应考虑放大的影响。 ( 3 )

6.2 各种热裂纹只发生在焊缝上,不会发生在热影响区。 ( 3 )

6.3 形状缺陷不属于无损检测检出范畴,但对于目视检查无法进行的场合和部位,射线照

相应对形状缺陷,例如内凹、烧穿、咬边等,评级。 ( )

6.4 射线照相时,不同的投影角度会使工件上不同部位的特征点在底片上的相对位置改变。

( √ )

6.5 熔化焊焊接过程中的二次结晶仅仅发生在焊缝,与热影响区无关。( 3 )

7.1 暗室内的工作人员在冲洗胶片的过程中,会受到胶片上的衍生的射线照射,因而白血球

也会降低。 ( )

7.2 一个射线工作者怀疑自己处在高辐射区域,验证的最有效方法是看剂量笔上的读数是否

也增加。( )

7.3 热释光胶片剂量计和袖珍剂量笔的工作原理均基于电离效应。 ( )

7.4 照射量单位“伦琴”只使用Χ射线或γ射线,不能用于中子射线。 ( )

7.5 当Χ或γ射源移去以后工件不再受辐射作用,但工件本身仍残留极低的辐射。( )

7.6 即使剂量相同,不同种类辐射对人体伤害是不同的。 ( )

7.7 小剂量,低剂量率辐射不会发生随机性损害效应。 ( )

7.8 只要严格遵守辐射防护标准关于剂量当量限值的规定,就可以保证不发生辐射损伤。

( )

7.9 从Χ射线机和γ射线的防护角度来说,可以认为1戈瑞=1希沃特。 ( )

7.10 焦耳/千克是剂量当量单位,库仑/千克是照射量单位。 ( )

7.11 剂量当量的国际单位是希沃特,专用单位是雷姆,两者的换算关系是1希沃特=100

雷姆。( )

7.12 Χ射线比γ射线更容易被人体吸收,所以Χ射线对人体的伤害比γ射线大。 ( )

7.13 当照射量相同时,高能Χ射线比低能Χ射线对人体的伤害力更大一些。 ( )

7.14 辐射损伤的确定性效应不存在剂量阀值,它的发生几率随着剂量的增加而增加。

( X )

7.15 照射量适用于描述不带电粒子与物质的相互作用,比释动能适用于描述带电粒子与物

( X )

7.16 在辐射防护中,人体任一器官或组织被Χ和γ射线照射后的吸收剂量和当量剂量在数

值上是相等的。( √ )

7.17 吸收剂量的大小取决于电离辐射的能量,与被照射物体本身的性质无关。

( X ) 的相互作用。

7.18 辐射源一定,当距离增加一倍时,其剂量或剂量率减少到原来的一半。

( X )

8.1 与电子回旋加速器相比,直线加速器能量更高,束流更大,焦点更小。 ( )

8.2 宽容度大是高能Χ射线照相的优点之一。 ( )

8.3 加速器照相一般选择较大的焦距,其目的是减小几何不清晰度,提高灵敏度。 ( )

8.4 中子几乎不具有使胶片溴化银感光的能力。 ( )

8.5 中子照相的应用之一是用来检查航空材料蜂窝结构的粘接质量。 ( )

8.6 中子对钢铁材料的穿透力很强,因此常用它来检测厚度超过100mm的对接焊缝的焊接

缺陷。 ( )

8.7 高能Χ射线照相的不清晰度主要是固有不清晰度,几何不清晰度的影响几乎可以忽

略。 ( )

8.8 射线实时成像检验系统的图像容易得到较高的对比度,但不容易得到较好的清晰度。

( )

8.9 象素的多少决定了射线实时成像系统图像识别细节的能力。 ( )

8.10 在高能射线照相中,增感屏的增感作用主要靠前屏。 ( ) 10.1 按ASME规范要求,透照双面焊缝的使用孔型象质计,应在象质计下放垫板,垫板厚

度应为上下焊缝余高之和。 ( )

10.2 在ASME规范中,100%照相和局部抽查的焊缝中允许的条件夹渣尺寸是不一样的。

( )

是非题答案

1.1 ○ 1.2 ○ 1.3 3 1.4 3 1.5 ○

1.6 3 1.7 3 1.8 3 1.9 3 1.10 3

1.11 ○ 1.12 ○ 1.13 3 1.14 3 1.15 3

1.16 3 1.17 3 1.18 3 1.19 3 1.20 3

1.21 ○ 1.22 3 1.23 ○ 1.24 ○ 1.25 ○

1.26 3 1.27 ○ 1.28 ○ 1.29 ○ 1.30 3

1.31 3 1.32 3 1.33 3 1.34 ○ 1.35 ○

1.36 3 1.37 3 1.38 ○ 1.39 ○ 1.40 ○

1.41 3 1.42 ○ 1.43 3 1.44 ○ 1.45 3 1.46 3 1.47 ○ 1.48 3 1.49 ○ 1.50 ○ 1.51 3 1.52 ○ 1.53 ○ 1.54 3 1.55 ○

2.1 ○ 2.2 3 2.3 ○ 2.4 3 2.5 ○ 2.6 ○ 2.7 3 2.8 ○ 2.9 ○ 2.10 3 2.11 32.16 32.21 32.26 32.31 32.36 ○2.41 ○2.46 ○

3.1 33.6 33.11 ○3.16 ○3.21 33.26 ○3.31 ○3.36 ○

4.1 ○4.6 3

4.11 34.16 34.21 ○○ 2.13 3 2.18 ○ 2.23 ○ 2.28 3 2.33 3 2.38 ○ 2.43 3 3 3.3 ○ 3.8 ○ 3.13 ○ 3.18 3 3.23 ○ 3.28 ○ 3.33 ○ 3.38 3 4.3 ○ 4.8 3 4.13 ○ 4.18 3 4.23 ○ 2.14 ○ 2.19 ○ 2.24 3 2.29 ○ 2.34 ○ 2.39 3 2.44 ○ 3.4 3 3.9 3 3.14 3 3.19 ○ 3.24 ○ 3.29 ○ 3.34 ○ ○ 4.4 3 4.9 ○ 4.14 ○ 4.19 3 4.24 3333○333○33○○○○3○○○○ ○ ○ 3 ○ 3 3 ○ 3 3 3 ○ ○ 3 ○ 3 ○ ○ 3

2.12 2.15 2.17 2.20 2.22 2.25 2.27 2.30 2.32 2.35 2.37 2.40 2.42 2.45 2.47 3.2 3.5 3.7 3.10 3.12 3.15 3.17 3.20 3.22 3.25 3.27 3.30 3.32 3.35 3.37 4.2 4.5 4.7 4.10 4.12 4.15 4.17 4.20 4.22 4.25

4.26 ○ 4.27 ○ 4.28 ○ 4.29 3 4.30 ○

4.31 ○ 4.32 3 4.33 ○ 4.34 ○

5.1 ○ 5.2 3 5.3 ○ 5.4 ○ 5.5 ○

5.6 3 5.7 ○ 5.8 3 5.9 ○ 5.10 ○

5.11 3 5.12 ○ 5.13 ○ 5.14 ○ 5.15 ○

5.16 3 5.17 3 5.18 3 5.19 3 5.20

5.21 3

6.1 3 6.2 3 6.3 ○

7.1 3 7.2 3 7.3 3 7.4 ○ 7.5

7.6 ○ 7.7 3 7.8 3 7.9 ○ 7.10

7.11 ○ 7.12 3 7.13 ○

8.1 3 8.2 ○ 8.3 3 8.4 ○ 8.5

8.6 3 8.7 ○ 8.8 ○ 8.9 ○ 8.10

10.1 ○ 10.2 ○

一、 选择题

1.1 原子的主要组成部分是( )。

A.质子、电子、光子 B.质子、重子、电子

C.光子、电子、Χ射线 D.质子、中子、电子

1.2 电磁波的频率(f),速度(c)和波长(λ)之间的关系可用(

A.f=λ2c B.c=f2λ

C.λ=f2c D.λ=f/c

1.3 原子核的质子数等于( )。 ○ 3 ○ ○ ○ )表示。

A.中子数 B.原子序数

C.光子数 D.原子量

1.4 质子和中子的区别是中子没有( )。

A.电荷 B.质量

C.自旋 D.半衰期

1.5 当几种粒子和射线通过空气时,其电离效应最高的是( )。

A.α粒子 B.β粒子

C.中子 D.Χ和γ射线

1.6 在射线探伤中应用最多的三种射线是( )。

A.Χ射线,γ射线和中子射线 B.α射线、β射线和γ射线

C.Χ射线,γ射线和β射线 C.Χ射线,γ射线和α射线

1.7 原子核外电子能级量最高的是( )。

A.外壳层 B.中间壳层

C.内壳层 D.以上均不是

1.8 同位素是指( )。

A.质量数相同而中子数不同的元素;

B.质量数相同而质子数不同的元素;

C.中子数相同而质子数不同的元素;

D.质子数相同而质量数不同的元素。

1.9 Χ射线、γ射线和α粒子有一个共同点,即它们都是( )。

A.均质粒子辐射 B.电磁辐射

C.微波辐射 D.电离辐射

1.10 在射线检验中采用的能量范围(约100KeVo-10MeV)射线穿过钢铁强度衰减的最主要

原因是( )。

A.光电效应 B.汤姆逊效应

C.康普顿效应 D.电子对效应

1.11 光子能量的数学表达式是( )。

A.E=h/v B.E=λ/hc

C.E=hv D.E=hv

1.12 强度为I的单色射线通过厚度为ΔX的材料后,强度减弱ΔI,其关系式为

△I=μIΔX,此式表示下列哪种现象( )。

A.光电效应 B.康普顿效应

C.吸收 D.半价层厚度

1.13 通常所说的200KVX射线指( )。

A.最大能量为0.2MeV的“白色”Χ射线

B.平均能量为0.2MeV的连续射线

C.能量为0.2MeV的连续射线

D.有效能量为0.2MeV的连续射线

1.14 单色射线是指( )。

A.标识Χ射线 B.工业探伤γ源产生的射线

C.用来产生高对比度的窄束射线 D.由单一波长的电磁波组成的射线

1.15 在一般的工业探伤中,射线与物质相互作用时,主要产生的二个效应是( )。

A.光电效应和电子对效应 B.光电效应和康普顿散射

C.康普顿散射和电子对效应 D.康普顿散射和电离

1.16 当光子与物质相互作用时,光子将部分能量用于逐出轨道电子,且剩余的能量变为电

子的动能,这就是( )。

A.康普顿散射 B.光电效应 2

C.电子对效应 D.电离

1.17 当光子与物质相互作用时,光子的波长增加,方向改变,这是由于( )的结果。

A.光电效应 B.康普顿散射

C.汤姆逊散射 D.电子对产生

1.18 康普顿散射的特征是( )

A.产生光电子 B.产生俄歇电子

C.产生反冲电子 D.产生正负电子对

1.19 光电效应的特征是( )。

A.产生光电子 B.发射标识Χ射线

C.发射二次电子 D.以上都是

1.20 已知某单能射线在钢中的半价层为3mm,则该射线在钢中的吸收系数为( )。

A.0.231cm B.2.31cm-1

C.2.079cm D.0.00231mm

1.21 射线通过物质时的衰减取决与( )。

A.物质的原子序数、密度和厚度 B.物质的杨氏模量

C.物质的泊松比 D.物质的晶粒度

1.22 窄束和宽束的区别是( )。

A.窄束是指散射和未散射的射线均达到检测器,而宽束是指只有未散射的射线到达检

测器。

B.窄束是指只有未散射的射线到达检测器,而宽束是指散射和未散射的射线均到达检

测器。

C.窄束和宽束区别在于源尺寸大小不同。

D.窄束和宽束区别在于照射场大小不同。

-1

1.23 散射线的主要成份是低能电磁辐射,它是由光子在哪一过程中减弱而产生的 ( )。

A.光电过程 B.康普顿过程

C.电子对过程 D.电离过程

1.24 从Χ射线管中发射出的射线包括( )。

A.连续Χ射线 B.标识Χ射线

C.β射线 D.A和B

1.25 连续Χ射线穿透厚工件时,有何特点?( )。

A.第二半价层小于第一半价层; B.第二半价层等于第一半价层;

C.第二半价层大于第一半价层; D.第二半价层与第一半价层关系不确定

1.26 当射线波长一定时,下列哪种物质的μ最大?( )

A.Fe B.Al C.Ti D.Cu

1.27 产生Χ射线的一般方法是在高速电子的运动方向上设置一个障碍物,使高速电子在这 个障碍物上突然减速,这个障碍物被叫( )。

A.阳极 B.阴极 C.靶 D.灯丝

1.28 Χ射线的穿透能力取决与( )。

A.毫安 B.千伏 C.曝光时间 D.焦点尺寸

1.29 γ射线的穿透能力取决于( )。

A.源的尺寸 B.源的种类 C.曝光时间 D.焦点尺寸

1.30 当施加于Χ射线管两端的管电压不变,管电流增加时,则( )。

A.产生的Χ射线波长不变,强度不变;

B.产生的Χ射线波长不变,强度增加;

C.产生的Χ射线波长不变,强度减少;

D.产生的Χ射线波长增加,强度不变。

1.31 Χ射线机的管电流不变,管电压减小时,则Χ射线将会发生( )

A.强度不变,波长减小 B.强度不变,波长增大

C.波长减小,强度减小 D.波长增大,强度减小

1.32 Χ射线管所产生的连续Χ射线的强度与管电压的关系是( )。

A.强度与管电压成正比 B.强度与管电压成反比

C.波长减小,强度减小 D.强度与管电压平方成反比

1.33 活度为80Ci、平均能量为1.66MeV的同位素源,经过3个半衰期后,其平均能量为 ( )。

A.0.008MeV B.0.22MeV

C.0.33MeV D.1.66MeV

1.34 放射性同位素衰变时,原子核衰变方式通常是( )。

A.粒子发射 B.K俘获

C.裂变 D.A和B

1.35 韧致辐射是指高速运动的电子同靶相碰撞时,与靶的什么相互作用而放也电子的能 量,产生连续Χ射线的?( )。

A.自由电子 B.原子核的质子或中子

C.壳层电子 D.院子核外库仑场

1.36 放射性元素Co60转变为Ni60的过程是一次( )。

A.α衰变 B.β衰变 C.γ衰变 D.K俘获

1.37 以下关于光电效应的叙述,哪一条是错误的( )

A.光电效应发生几率随光子能量的增大而减小;

B.光电效应发生几率随材料的原子序数增大而增大;

C.光电效应过程中除产生光电子外,有时还会产生反冲电子;

D.光电效应发射出的电子的能量肯定小于入射光子的能量。

1.38 以下关于康普顿效应的叙述,哪一条是错误的( )

A.散射光子的波长肯定小于入射光子;

B.反光子与散射光子能冲电子的能量为入射量之差;

C.散射角α越大,散射光子能量越小;

D.康普顿效应发生几率随入射光子能量增大而减小。

1.39 某放射性同位素的衰变常数为0.005371天,则其半衰期为( )

A.186天 B.129天 C.53天 D.537天

1.40 下列几种材料中,射线衰减系数较大的是( )

A.铜 B.铝 C.铁 D.碳

1.41 以下关于瑞利散射的叙述,哪一条是错误的( )

A.瑞利散射是相干散射的一种;

B.瑞利散射不改变光子能量,只改变光子的运动方向;

C.瑞利散射的发生几率随原子序数的增大而减小;

D.瑞利散射的发生几率随光子能量的增大而急剧减小。

1.42 射线照相难以检出的缺陷是( )

A.未焊透和裂纹 B.气孔和未熔合

C.夹渣和咬边 D.分层和折叠

1.43 射线照相法对哪一种焊接方法不适用。( )

A.气焊、电渣焊 B.气体保护焊、埋弧自动焊

C.手工电弧焊、系离子弧焊 D.摩擦焊、钎焊

1.44 以下哪些材料的熔化焊对接焊缝适宜使用射线照相法检测( )

A.钢和不锈钢 B.钛和钛合金

C.铝和铝合金 D.以上都适宜

1.45 以下关于射线照相特点的叙述,哪些是错误的( )

A.判定缺陷性质、数量、尺寸比较准确

B.检测灵敏度受材料晶粒度的影响较大

C.成本较高,检测速度不快

D.射线对人体有伤害

1.46 康普顿效应的发生几率大致是( C )与物质原子序数成正比,与光子能量成反比。

1.47 γ射线的光谱称为 ( A )

A.线状谱 B.连续谱 C.标识谱 D.以上都是

1.48 衰变常数λ反映了放射性物质的固有属性 (B)λ值越大,说明该物质越不稳定,衰

1.49 射线与物质相互作用导致强度减弱,其原因为( B )

A.吸收和散射 B.衰变和吸收 C. 衰变和散射 D. 以上都

1.50 对于不同物质和不同能量区域,光电效应、康普顿效应、电子对效应各自占优势的区

(

D

)

A.对于低能量射线和原子序数高的物质,光电效应占优势。

B.对于中等能量射线和原子序数低的物质,康普顿效应占优势。

C.对于高能量射线和原子序数高的物质,电子对效应占优势。

D.以上都是

1.51 各种效应对射线照相质量产生的影响是( C )

A. 光电效应和康普顿效应有利于提高照相对比度。

B. 电子对效应和康普顿效应有利于提高照相对比度。

C. 光电效应和电子对效应有利于提高照相对比度。

D. 光电效应和电子对效应会降低照相对比度。

2.1 管电压、管电流不变,将Χ射线管阳极由铜换成钨,产生Χ射线线质如何变化?

A.边硬 B.变软 C.不变 D.不一定

2.2 Χ射线管的阳极靶最常用的材料是( )。

A.铜 B.钨 C.铍 D.银

2.3 软射线Χ射线管的窗口材料一般是( )。

A.铜 B.钨 C.铍 D.银

2.4 Χ射线机技术性能指标中,焦点尺寸是一项重要指标,焦点尺寸是指( )。

A.靶的几何尺寸 B.电子束的直径

C.实际焦点尺寸 D.有效焦点尺寸

2.5 在条件允许的情况下,焦点尺寸应尽可能的小,其目的是( )。

A.减小设备体积 B.提高清晰度

C.增加能量密度 D.节省合金材料

2.6 Χ射线管中轰击靶产生Χ射线的高速电子的数量取决于( )。

A.阳极靶材料的原子序数 ; B.阴极靶材料的原子序数;

C.灯丝材料的原子序数; D.灯丝的加热温度。

2.7 下列哪一特征,不是Χ射线管的靶材料所要求的( )。

A.高原子序数 B.高熔点

C.高热传导率 D.高质量吸收系数

2.8 当两台相同型号的Χ射线机的千伏值和毫安值均相同时,则( )。

A.产生的Χ射线的强度和波长一定相同;

B.产生的Χ射线的波长相同,强度不同;

C.产生的Χ射线的强度相同,波长不同;

D.产生的Χ射线的强度和波长不一定相同。

2.9 高压变压器直接与Χ射线管相连接的Χ射线机叫做( )。

A.全波整流Χ射线机 B.自整流Χ射线机

C.交流Χ射线机 D.恒电压Χ射线机

2.10 Χ射线管对真空度要求较高,其原因是( )

A.防止电极材料氧化;

B.使阴极与阳极之间绝缘;

C.使电子束不电离气体而容易通过;

D.以上三者均是

2.11 决定Χ射线机工作时间长短的主要因素是( )

A.工作电太KV的大小; B.工作电流mA的大小;

C.工件厚度的大小; D.阳极冷却速度的大小。

2.12 Χ射线机中循环油的作用是( )

A.吸收散射线 B.滤去一次射线中波长较长的射线

C.散热 D.增强一次射线

2.13 大焦点Χ射线机与小焦点Χ射线机相比,其特点是( )

A.射线的能量低穿透力小; B.射线不集中,强度小

C.照相黑度不易控制; D.照相清晰度差。

2.14 一般Χ射线机调节管电压的方法通常是( )

A.调节灯丝的加热电压; B.调节阴极和阳极之间的电压;

C.调节阴极和阳极之间的距离; D.调节灯丝与阴极之间的距离。

2.15 Χ射线管中的阴极最常见的是( )

A.冷阴极 B.热阴极

C.旋转阴极 D.固定阴极

2.16 提高灯丝温度的目的是使( )

A.发射电子的能量增大; B.发射电子的数量增多;

C.发出Χ射线的波长较短; D.发出Χ射线的波长较长。

2.17 大功率Χ射线管阳极冷却的常用方法是( )

A.辐射冷却 B.对流冷却

C.传导冷却 D.液体强迫循环冷却

2.18 γ射线探伤机与Χ射线探伤机相比其优点是( )

A.设备简单 B.不需外部电源

C.射源体积小 D.以上三者都是

2.19 探伤所用的放射性同位素,都是( )

A.天然同位素 B.人造同位素

C.稳定同位素 D.以上三者都是

2.20 放射性同位素的辐射强度与时间的关系是( )

A.随时间增大 B.与时间无关

C.随时间减小 D.三者都不对

2.21 利用γ射线探伤时,若要增加射线强度可以采用( )

A.增加焦距 B.减小焦距

C.减小曝光时间 D.三者均可

2.22 下列四种放射性元素中,半价层最厚的是( )

A.Co60 B.Cs137 C.Ir192 D.Tm170

2.23 下列四种放射性元素中,半衰期最长的为( )

A.Co60 B.Cs137 C.Ir192 D. Tm170

2.24 Tm170γ源发出的射线能量为( )

A.0.084和0.052MeV B.0.11和0.15MeV

C.1.33和1.17MeV D.0.31和0.47MeV

2.25 180mm厚的钢试件射线照相,可能使用的γ射线源是( )

A.钴60 B.铥170 C.铱192 D.铯137

2.26 可使用铱192照相的钢试件厚度范围是( )

A.100-200mm B.8-60mm

C.4-15mm D.30-90mm

2.27 决定材料对X射线吸收量最重要的因素是( )

A.材料厚度 B.材料密度

C.材料原子序数 D.材料晶粒度

2.28 下面有关X射线管焦点的叙述,哪一条是错误的( )

A.有效焦点总是小于实际焦点;

B.焦点越小,照相几何不清晰度越小;

C.管电压,管电流增加,实际焦点会有一定程度的增大;

D.焦点越大,散热越困难。

2.29 放射性同位素源的比活度取决于( )

A.核反应堆中照射的中子流;

B.材料在反应堆中的停留时间;

C.照射材料的特性(原子量,活化截面);

D.以上全是。

2.30 下列四种放射性同位素中,可用来透照厚度为3-12mm的薄壁管,辐射特性类似

100-250KVX射线的是( )

A.Ir192 B.Cs137 C.Co60 D.Tm170

2.31 一般放射性比活度高的源其自吸收( )

A.较高 B.较低

C.两者无关 D.无自吸收

2.32 决定X射线管靶材适用性的两个因素是( )

A.拉伸强度和倔强强度 B.硬度和磁导度

C.电阻和抗氧化性能 D.原子序数和熔点

2.33 以下关于便携式X射线机操作使用的叙述,哪条是错误的( )

A.X射线停机超过3天,才需要训机

B.送高压前应预热灯丝

C.机内SF6气机过低,将影响绝缘性能

D.应保持工作和间歇时间1:1

2.34 以下哪条不是γ射线探伤设备的优点( )

A.不需要电和水 B.可连续操作

C.可进行周向曝光和全景曝光 D.曝光时间短,效率高

2.35 X射线管中,电子轰击靶时能量转换的主要形式是产生( )

A.连续X射线 B.标识X射线

C.短波X射线 D.热

2.36 Χ射线管管电流大小主要取决于( )

A.靶材料 B.灯丝电流

C.阳极到阴极的距离 D.以上都是

2.37 Χ射线管中轰击靶的电子运动的速度取决于( )

A.靶材的原子序数 B.管电压

C..管电流 D.灯丝电流

2.38 在管电压,管电流相同的情况下,下列哪种线路产生的射线质较硬,照射剂量率较

大?( )

A.半波整流 B.全波整流

C.稳恒直流 D.线路种类与射线的质和剂量率无关

2.39 在管电压,管电流相同的情况下,焦点尺寸越小,其焦点的温度( )

A.越低 B.越高 C.不变 D.不一定

2.40 各种胶片成像的粒度( )

A.随千伏值提高而增大 B.随千伏值提高而减小

C.与千伏值无关 D.变化服从勃朗宁定律

2.41 表示胶片受到一定量X射线照射,显后的底片黑度是多少的曲线叫做( )

A.曝光曲线 B.灵敏度曲线

C.特性曲线 D.吸收曲线

2.42 X胶片的片基常用的材料是( )

A.聚氯乙烯薄膜 B.聚氨脂薄膜

C.涤纶薄膜 D.聚乙烯薄膜

2.43 保存射线胶片的环境相对湿度应为( )

A.10-25% B.50-65%

C.70-85% D.越干燥越好

2.44 胶片特性曲线上,两个特定黑度点的直线的斜率叫做( )

A.胶片宽谷度 B.梯度

C.平均梯度 D.感光度

2.45 由胶片特性曲线可以得到胶片的技术参数是( )

A.胶片的反差系数 B.胶片的本底灰雾度

C.正常的曝光范围 D.三者均是

2.46 哪一因素变化,会使胶片特性曲线形状明显改变?( )

A.改变管电压 B.改变管电流

C.改变焦距 D.改变显影条件

2.47 实际使胶片卤化银颗粒感光的因素是( )

A.X或γ关量子 B.α粒子

C.电子 D.中子

2.48 下面有关胶片的四种叙述中,唯一正确的是( )

A.胶片颗粒度大,感光速度就快,底片图像清晰;

B.胶片颗粒度小,感光速度就快,底片图像模糊;

C.胶片颗粒度大,感光速度快,底片图像模糊;

D.胶片颗粒度小,感光速度快,底片图像清晰.

2.49 底片的黑度范围限制在胶片特性曲线的直线区域内,这是因为在此区域透照出的底片

( )

A.黑度大 B.感光度高

C.本底灰雾度小 D.对比度高

2.50 已曝过光的X胶片,不能在高湿的环境内保持时间过长,否则会引起( )

A.药膜自动脱落 B.产生白色斑点

C.产生静电感光 D.潜象衰退和黑度下降

2.51 胶片分类的依据主要是( )

A. 梯度和颗粒度 B. 感光度和颗粒度

C. 感光度和梯度 D. 灰雾度和宽容度

2.52 X胶片乳剂中与射线作用产生光化学作用的成分是( )

A.AgBr B.AgO2 C.AgS D.AgBr2

2.53 用含锑6%的铅合金作增感屏其原因是这种增感屏( )

A.清晰度号 B.斑点效果好

C.比较耐用 D.增感系数高

2.54 与非增感屏型胶片混合使用的增感屏是( )

A.荧光增感屏 B.铅箔增感屏

C.荧光铅箔增感屏 D.稀土荧光增感屏

2.55 荧光增感屏和铅箔增感屏相比,荧光增感屏的主要优点是( )

A.图像的清晰度高 B.可提高灵敏度

C.可缩短曝光时间 D.能屏蔽散射线

2.56 铅箔增感屏的主要优点是( )

A.可加速胶片感光同时吸收部分散射线

B.可提高照相清晰度

C.可减少照相颗粒度

D.以上都是

2.57 使用铅箔增感屏可以缩短曝光时间,提高底片的黑度,其原因是铅箔受X射线或γ射

线照射时( )

A.能发出荧光从而加速胶片感光;

B.能发出可见光从而使胶片感光;

C.能发出红外线从而使胶片感光;

D.能发出电子从而使胶片感光。

2.58 射线照相中,使用象质计的主要目的是( )

A.测量缺陷大小 B.评价底片灵敏度

C.测定底片清晰度 D.以上都是

2.59 什么是使用象质计的局限性( )

A.不能提供射线照相检验灵敏度的永久性证据;

B.不能比较两种不同透照技术的质量高低;

C.不能提供可检出缺陷尺寸的质量指示;

D.不能验证所用透照工艺的适当性。

2.60 平板孔型象质计的象质等级2-IT是指:( )

2.61 对母材厚度为12毫米的双面焊接的焊缝进行射线探伤时,在底片上能发现直径为0.32

毫米的钢丝质象质计,其质象计灵敏度为( ) A.象质计厚度为透照厚度2%,孔径为象质计厚度1倍,等效灵敏度为1.4% B.象质计厚度为透照厚度1%,孔径为象质计厚度2倍,等效灵敏度为1.4% C.象质计厚度为透照厚度2%,孔径为象质计厚度1倍,等效灵敏度为1% D.以上都不对

A.1%

B.1.5% C.2% D.2.5%

2.62 平板焊缝照相时,下面四种关于象质计摆放的叙述,唯一正确的摆放位置是( )

A.近胶片一侧的工作表面,并应靠近胶片端头;

B.近射源一侧工作表面,金术士垂直焊缝,并位于工件中部;

C.近胶片一侧的工作表面,并应处在有效照相范围一端的焊缝上,金属丝垂直于焊缝,细丝在外。

D.近射源一侧有效照相范围一端的焊缝上,金属丝垂直于焊缝,细丝在外。

2.63 钛对射线的吸收系数小于钢,在透照钛试件时采用了钢丝象质计,如果底片上显示

象质指数刚好达到标准要求,则该底片的灵敏度( ) A.刚好符合标准要求 C.远远超过标准要求

2.64 一直入射光强200cd/m,则底片黑度为2.3的区域透过的光强为:( )

A.5 cd/m C.1 cd/m

2.65 一个电压调节器由铁心变压器组成,变压器只有一个绕组,绕组上有许多抽头。这种

变压器叫做:( ) A.高压变压器 C.自耦变压器

2.66 一下关于周向辐射X射线管阳极靶的叙述,哪一条是错误的:( )

A.周向辐射X射线管的阳极靶有平面靶和锥形靶两种 B.平面靶多于300KVX射线管 C.平面靶散热效果比锥形靶好

D.使用平面靶X射线管的探伤机照相要注意横向裂纹漏检问题

2.67 在其他参数不变的情况下,若显影时间延长,胶片特性曲线会出现( )

B.灯丝变压器 D.脉冲变压器

22

2

B.达不到标准要求 D.无法判断

B.0.56 cd/m D.0.1 cd/m

2

2

A.梯度增大,感光速度提高

C.梯度减小,感光速度降低

B.梯度减小,感光速度提高 D.梯度增大,感光速度降低

2.68 Ir192所发出的主要γ射线能量为( )

A.0.66,0.84,0.91MeV

C.0.08,0.05,0.66MeV

2.69 以下哪一条,不是金属陶瓷管X射线机的优点( )

A.体积小

C.故障小

2.70 以下哪一因素,对胶片对比度不产生影响( )

A.射线能量

C.胶片类型

2.71 使用“真空暗盒”的主要优点是( )

A.提高主因对比度

C.减小底片颗粒粒度

2.72 胶片系统分类中所指的胶片系统包括( )

A.胶片,增感屏,暗盒 B.胶片,增感屏,暗盒,背防护铝板 B.减少固有不清晰度 D.以上都是 B.底片黑度 D.显影条件 B.重量轻 D.不需要训机 B.0.31,0.47,060MeV D.0.15,1.12,0.18MeV

C.胶片,增感屏,冲洗条件

D.源,胶片,增感屏,冲洗条件

2.73 适宜检测厚度5-30mm的钢试件的放射性同位素是( D )

A.Ir192 B.Tm170 C.Yb169 D.Se75

2.74 黑度计的光传感器要求线性好,主要是为了(D)

A.减少背景光的影响 B.抑制零点漂移 C.扩大量程范围 D.提高测量精度

2.75 “S”通道型γ射线机与直通道型γ射线机相比,其优点是(C)

A.重量轻 B. 体积小 C.输源管弯曲半径可以更小 D.以上都是

2.76 金属陶瓷X射线管的特点是(D)

A.抗震性强,一般不易破碎 B.管内真空度高,各项电性能好,管子寿命长

C.容易焊装铍窗口 D.以上都是

2.77 在增感型胶片的特性曲线中,黑度值随曝光量对数的增加而呈线性增大的区段叫做

(C)

A.曝光过度区 B. 曝光迟钝区 C.曝光正常区 D.反转区

2.78 铅铂增感屏的铅铂表面沾了油污后,后造成(C)

A.底片上会出现类似裂纹的黑线 B. 底片上产生黑影

以上都是

3.1 从可检出最小缺陷的意义上说,射线照相灵敏度取决于(

A.底片成象颗粒度

B.底片上缺陷图像不清晰度

C.底片上缺陷图像对比度

D.以上都是

3.2 射线底片上两个不同区域之间的黑度差叫做( )

A.主因反差 B.底片反差

C.清晰度 D.胶片反差

3.3 影响主因对比度的是( )

A.射线的波长 B.散射线

C.工作的厚度差 D.以上都是

3.4 下面哪个因素的变化使最小可见对比度增大( )

A.粗粒度胶片改用微粒度胶片;

B.底片黑度从1.5增大以2.5;

C.影像宽度从0.2mm增大到0.4mm;

D.透过底片光强从30 cd/m2增大到100 cd/m2。

C. 底片上产生白影) D.

3.5 射线底片上缺陷轮廓鲜明的程度叫做( )

A.主因对比度

C.清晰度

3.6 集合不清晰度也可称为( )

A.固有不清晰度

C.照相失真

3.7 射线透照的集合不清晰度( )

A.与工作厚度成正比,与焦点尺寸成反比;

B.与工作厚度成反比,与焦点尺寸成反比;

C.与焦点尺寸成正比,与焦距成反比;

D.与焦点尺寸成反比,与焦距成正比。

3.8 决定细节在射线底片上可记录最小尺寸的是( )

A.对比度

C.颗粒度

3.9射线照相底片的颗粒性是由什么因素造成的?( )

A.影像颗粒或颗粒团块的不均匀分布;

B.底片单位面积上颗粒数的统计变化;

C.颗粒团块的重重叠叠;

D.以上都是。

3.10 下列四种因素中,不能减小集合不清晰度的因素是( )

A.射源到胶片的距离;

C.射源的强度;

3.11 减小几何不清晰度的方法是( )

A.选用焦点较大射源; B.使用感光速度较快的胶片; B.胶片到工件的距离; D.射源的尺寸。 B.不清晰度 D.以上都是 B.几何放大 D.半影 B.颗粒度 D.胶片对比度

C.增大射源到胶片的距离; D.增大工件到胶片的距离。

3.12 固有不清晰度与下列哪一因素有关( )

A.源尺寸; B.胶片感光度;

D.射线能量。 C.胶片粒度;

3.13 为提高透照底片的清晰度,选择焦距时,应该考虑的因素是( )

A.射源的尺寸,射源的强度,胶片类型;

B.工件厚度,胶片类型,射源类型;

C.射源强度,胶片类型,增感屏类型;

D.射源尺寸,几何不清晰度,工件厚度。

3.14 下列四种因素中对底片的清晰度无任何影响的 是( )

A.射源的简单尺寸

C.射线的能量

3.15 下列哪一种情况对胶片梯度和底片颗粒度同时产生影响?( )

A.改变KV值

C.改变mA值

3.16 在射线照相中,使缺陷影像发生畸变最重要的原因是( )

A.射源尺寸 B.射源到缺陷的距离 B.改变焦距 D.改变底片的黑度 B.增感屏的类型 D.底片的黑度

C.缺陷到胶片的距离 D.缺陷相对于射源和胶片的位置和方向

3.17 下面关于集合修正系数σ的叙述,哪一条是错误的?( )

A.当缺陷尺寸小于射源尺寸时,才需要引入σ对底片对比度进行修正;

B.σ值越小,几何条件对底片对比度的影响越大;

C.为提高σ而改变透照布置,常用的方法是增大焦距;

D.为提高底片对比度,应尽量采用σ>1的透照布置。

3.18 当象质计金属丝影像宽度小于某一特定值时,其最小可见对比度△Dmin值( )

A.随影像宽度的减小而减小;

C.不随影像宽度而变化;

3.19 透照有余高的焊缝时,为使象质计金属丝在焊缝和母材部位得到相同显示,应 ( )

A.根据焊缝的余高选择合适的射线能量;

C.尽量选择较低能量射线;

3.20 以下哪一个参数不被认为是影响裂纹检出的关键参数( )

A.长度L

B.开口宽度W D.雷文与射线角度θ B.尽量选择较高能量射线; D.以上都不对。 B.随影响宽度的减小而增大; D.在某一影像宽度处有一极大值。 C.自身高度d

3.21 透照板厚一定且有余高的焊缝,散射比随有效能量的提高而( )

A.增大

3.22用单壁外透法透照同一筒体时,如不考虑焦点投影尺寸的变化,纵缝Ug与环缝Ug的区

别是:在一张底片的不同部位( )

A.纵缝Ug 值各处都一样,而环缝Ug随部位而变化;

B.环缝 Ug 值各处都一样,而纵缝Ug随部位而变化;

C.无论纵缝、环缝,Ug值在任何部位都相同,不发生变化;

D.以上都不是。

3.23 用置于透照区中心附近的铂—钨双丝透度计可以从射线底片上测出一定管电压下的

( )

A.吸收系数; B.散射因子;

D.形状修正系数。 B.减小 C.不变 D.不一定 C.固有不清晰度;

3.24 下列哪一因素的变化不会改变射线照相的主因对比度( )

A.试件的材质; B.射线的能谱;

C.散射线的分布; D.毫安分或居里分。

3.25 下列哪一因素对照相底片颗粒性五明显影响 ?( )

A.显影程度; B.使用铝增感屏;

C.射线穿透力; D.使用荧光增感屏。

3.26 工件靠近射源一侧的缺陷图像,在下列哪种情况下清晰度最差?( )

A.焦距增大; B.焦距尺寸减小;

C.工件厚度增大; D.胶片与工件距离减小。

3.27 如何提高射线底片的信噪比?( )

A.增加曝光量; B.提高管电压;

C.增大焦距; D.胶片与工件距离减小。

3.28 下列哪一参数不是影响小缺陷射线照相清晰度和对比度的共同因素?(

A.焦点或射源尺寸; B.黑度;

C.焦距; D.射线线质。

3.29 在什么条件下尺寸较大的源摄得的射线底片质量可与尺寸较小的源相当?(

A.增大源到胶片距离; B.采用较厚的铅增感屏;

C.使用速度快的胶片; D.缩短曝光时间。

3.30 决定缺陷在射线透照方向上可检出最小厚度差的因数是( )

A.对比度 B.不清晰度

C.颗粒度 D.以上都是

3.31 胶片与增感屏贴合不紧,会明显影响射线照相的( )

A.对比度 B.不清晰度

C.颗粒度 D.以上都是

3.32 以下有关d′的叙述,哪一条是错误的( ) ) )

A.d′值与df成正比

B.d′值与L1、L2成反比

C.d′小于缺陷宽度W时,底片上缺陷影象有本影,对比度根据缺陷形状进行修正

D.d′大于缺陷宽度W时,底片上缺陷影象无本影,对比度急剧下降

3.33 以下关于信息理论在射线照相方面的论述,哪一条是错误的( )

A.所谓“噪声“即是底片的颗粒度

B.信噪比是指缺陷影象对比度ΔD与噪声σD之比

C.只要信噪比大于1,缺陷就能够识别

D.信噪比越大,缺陷识别就越容易

3.34 按某种透照几何条件计算出直径0.32cm的象质计金属丝影象对比度修正系数 σ=0.5,这意味着( )

A. 金属丝影象黑度为0.5

B. 金属丝影象对比度为0.5

C. 直径0.32mm的金属丝影象对比度只相当于厚度差0.16mm阶梯试块的影响对比度

D. 以上都不对

3.35 以下哪一种措施不能提高射线照相的信噪比( )

A.使用速度更慢的胶片 B.增加曝光量

C.提高底片黑度 D.提高射线能量

3.36 计算的不清晰度最常用的计算公式是( )

22 A.U?Ug?Ui B.U?g?Ui 2Ui C.U??U D.U?Ug? 3Ug3g3i

3.37 颗粒的随机性表现在(D)

A.射线源发出的光量子到达胶片的空间分布是随机的;

B.感光银盐颗粒大小和分布不均匀性是随机的;

C.胶片乳剂层对光子的吸收是随机的;

D.以上都是。

3.38 射线照相几何不清晰度与以下哪一因素有关(C)

A.增感屏 B.底片黑度 C.源尺寸 D.射线能量

3.39 射线照相中,提高底片反差有利于小缺陷的检出,但同时会产生(D)

A.厚度宽容度减小 B.曝光时间延长 C.底片上有效评定区缩小 D.以上都是

3.40 下列有关胶片梯度的叙述,正确的是(B)

A.增感型胶片比非增感型胶片梯度大 B.选择梯度较大的胶片可提高对比度

C.胶片梯度随黑度的增加而减小 D.以上都是

3.41 现状小缺陷对比度取决于(C)

A.小缺陷高度 B.小缺陷截面积 C. 小缺陷体积 D. 以上都是

3.42 几何不清晰度与(D)

A.焦点尺寸成正比 B. 工件厚度成正比 C.焦点至工件表面的距离成反比 D.以上都是

4.1 按照“高灵敏度法”的要求,Ir192γ射线适宜透照钢的厚度范围是( A )

A.20-80mm B.30-100mm C.6-100mm D.20-120mm

4.2 大约在哪一厚度上,Ir192射线配合微粒胶片照相的灵敏度与Χ射线配合中粒胶片照

相的灵敏度大致相当( )

A.10-20mm B.20-30mm

C.40-50mm D.80-90mm

4.3 以下关于考虑总的不清晰度的焦距最小值Fmin的叙述,哪一条是错误的( )

A.Fmin值随射线源尺寸df的增大而增大;

B.Fmin值随固有不清晰度Ui的增大而增大;

C.Fmin值随工件厚度T的增大而增大;

D.应用Fmin的同时应考虑限制射线能量不能过高。

4.4 GB3323标准中,AB级照相的Ug值的计算公式是( )

11 A.Ug?L2 B.Ug?L2 1515

11 C.Ug?2 D.Ug?2 1010

4.5 双壁双影直透法一般用于多大直径管子的环焊缝透照( )

A.Φ89mm以下; B.Φ76mm以下;

C.Φ20mm以下; D.Φ10mm以下。

4.6 以相同的条件透照一工件,若焦距缩短20%,暴光时间可减少多少?( )

A.60% B.36% C.20% D.80%

4.7 用半衰期为75天的Ir192源在某时间对某个工件透照时的暴光时间围40分钟;5个

月后,用该源对同一工件透照,为得到同样的黑度的射线底片,暴光时间应为:( )

A.40分钟; B.2小时; C.2小时40分钟; D.4小时。

4.8 若散射线忽略不计,当透照厚度的增加量相当于1/2半价层时,则胶片接受的照射量

将减少多少?( )

A. 25%; B.70%; C.41%; D.30%。

4.9 射线能量200KV时,铜相对钢的等效系数为1.4,对14mm铜板照射,需采用多厚钢的暴

光量( )

A.10mm; B.20mm; C.10mm; D.15.4mm。

4.10 对于厚度差较大的工件进行透照时,为了得到黑度和层次比较均匀的底片,一般做法

是( )

A.提高管电流; B.提高管电压;

C.增加暴光时间; D.缩短焦距。

4.11 在同一个暗盒中装有两张不同感光速度的胶片进行暴光的主要目的是( )

A.为了防止暗室处理不当而重新拍片;

B.为了防止探伤工艺选择不当而重新拍片;

C.为了防止胶片上的伪缺陷而重新拍片;

D.用于厚度差较大工件射线探伤,这样在不同厚度部位都能得到黑度适当的底片。

4.12 用双胶片进行射线照相,要装两张不同感光速度的胶片,其选片原则是:两种胶片的

特性曲线:( )

A.应在黑度轴上一些重合; B.在黑度轴上无需重合;

C.应在lgE轴上有些重合; D.在lgE轴上无需重合。

4.13 铅箔增感屏上的深度划伤会在射线底片上产生黑线,这是因为:( )

A.铅箔划伤部位厚度减薄,对射线吸收减小,从而使该处透射线增多;

B.划伤使铅箔表面增大,因而发射电子面积增大,增感作用加强;

C.深度划伤与胶片之间的间隙增大,散射线增加;

D.以上都对。

4.14 透照有余高的焊缝,下面哪一条件的变化不会导致散射比显著增大?( )

A.射线能量从200KeV降低到100KeV;

B.照射场范围从Φ300mm增大到Φ500mm;

C.试件厚度从20mm增加到40mm;

D.焊缝余高从2mm增加到4mm。

4.15 比较大的散射源通常是( )

A.铅箔增感屏; B.暗盒背面铅板; C.地板和墙壁; D.被检工件。

4.16 由被检工件引起的散射线是( C )

A.背散射; B.侧向散射; C.正向散射; D.全部是。

4.17 射线探伤中屏蔽散射线是( )

A.铅箔增感屏和铅罩; B.滤板和光阑;

C.暗盒底部铅板; D.以上全是。

4.18 射线探伤时,在胶片暗盒和底部铅板之间放一个一定规格的B字铅符号,如果经过处

理的底片上出现B的亮图像,则认为( )

A.这一张底片对比度高,象质好;

B.这一张底片清晰度高,灵敏度高;

C.这一张底片受正向散射影响严重,象质不符合要求;

D.这一张底片受背向散射影响严重,象质不符合要求。

4.19 在射线机窗口加滤板,在工件上加补偿块减小厚度差,以及采用多胶片法,都是为了

( )

A.校正不清晰度; B.校正低密度;

C.校正对比度; D.校正低宽容度.。

4.20 置于工作和射源之间的滤板可以减少从工件边缘进入的散射线,其原因是滤板

( )

A.吸收一次射线束中波长较长的成分;

B.吸收一次射线束中波长较短的成分;

C.吸收背散射线;

D.降低一次射线束的强度。

4.21 滤板的作用相当于( )

A.增加密度; B.降低毫安; C.增加千伏; D.降低千伏。

4.22 已知C060源的半衰期为5.3年,用一个新源进行射线照相得到满意的射线底片,两年

后用该源对同一工件按同样条件进行射线照相,为得到同样的底片,暴光时间( )

A.不变; B.约延长10%;

C.约延长30%; D.约延长60%。

4.23 用铅箔增感,焦距1200MM暴光时间8分钟,得底片黑度1.5,现焦距为600MM,底片

黑度不变,暴光时间应为( )

A.1.6分钟 B.2分钟

C.1.25分钟 D.4分钟

4.24 暴光因子中的管电流,暴光时间和焦距三者的关系是( )

A.管电流不变,时间与焦距的平方成正比;

B.管电流不变,时间与焦距的平方成正比;

C.焦距不变,管电流与暴光时间成正比;

D.暴光时间不变,管电流与焦距成正比。

4.25 控制透照厚度比K值的主要目的是( )

A.提高横向裂纹检出率; B.减小几何不清晰度;

C.增大厚度宽容度; D.提高底片对比度

4.26 对能量为100KV的射线,铝的透照等效系数为0.08,则对于厚度25MM的铝试件,应

选择多少厚度钢的暴光量( )

A.25mm; B.2mm; C.20mm ; D.3mm。

4.27 采用双片暴光和双片观察技术,可以( )

A.增大对比度; B.减小不清晰度;

C.增大宽容度; D.减小颗粒度。

4.28 小径管环焊缝双壁双影透照时,适合的暴光参数是( )

A.较高电压,较短时间; B.较高电压,较长时间;

C.较低电压,较短时间; D.较低电压,较长时间。

4.29 小径管椭圆透照的有效透照范围长度( )

A.与焦距的平方成反比; B.与焦距的平方成正比;

C.与焦距成正比; D.与焦距无关。

4.30 对钢工件,大致在哪一透照厚度值上,使用C060的照相效果比IR192更好一些;

( )

A.40mm B.60mm

C.80mm D.120mm

4.31 暴光因子表达了哪几个参数的相互关系( )

A.管电压,管电流,暴光时间 B.管电压,暴光量,焦距

C.管电流,暴光时间,焦距 D.底片黑度,暴光量,焦距

4.32 穿过试件较薄截面的射线会在相邻厚截面下产生散射,从而对厚截面的影象产生影响,

这种影响称为( )

A.康普顿散射 B.瑞利散射

C.边蚀散射 D.固有不清晰度

4.33 以下关于双壁双影直透法的叙述,哪一条是错误的( )

A.直透法一般只适用与直径小于20MM的管子环焊缝照相;

B.直透法比斜透法更易于探伤操作;

C.直透法比斜透法更有利于检出根部未熔合和未焊透;

D.直透法比斜透法更有利于判断缺陷在焊缝中的位置。

4.34 透照厚度为150MM的钢对接焊缝,可选用的射线源是( )

A.300KV携带式X射线机 B.420KV移动式X射线机

C.IR192γ射线源 D.C060γ射线源

4.35 对厚度为15MM,直径1000MM的筒体的对接环缝照相,较理想的选择是( )

A.IR192γ源,中心透照法 B.锥靶周向X射线机,中心透照法

C.单向X射线机 D.平靶周向X射线机,中心透照法

4.36 在哪一种情况下,底片的有效评定范围会超出搭接标记以外( )

A.环缝双壁单影透照,搭接标记放在胶片侧;

B.环缝单壁外透法,搭接标记放在胶片侧;

C.纵缝单壁外透法,搭接标记放在射源侧;

D.环缝中心透照法搭接标记放在胶片侧。

4.37 小径管环焊缝照相的参数经验有效厚度比Ke的用途是( )

A.为焦距选择提供参考依据; B.为偏移距离选择提供参考依据;

C.为管电压选择提供参考依据; D.为暴光量选择提供参考依据。

4.38 锻件法兰对接焊缝射线照相,提高照相质量最重要的措施是( )

A.提高管电压增大宽容度 B.使用梯噪比高的胶片

C.使用屏蔽板减少“边蚀” D.增大焦距提高小裂纹检出率

4.39 下列不需要计算一次透照长度的透照方式是(B)

A.环焊单臂外透法; B.小径管双壁双影法; C.纵缝双臂单影法; D.环峰内透偏心法。

4.40 球罐γ射线全景曝光时,安全距离的计算不需要考虑下列哪个因素(A)

A.环焊余高; B.球罐壁厚; C.安全剂量限值; D.半值层。

4.41 下列有关曝光曲线制作的叙述,正确的是(D)

A.其它条件一定,管电压作为可变参数; B. 其它条件一定,曝光量作为可变参数;

C.其它条件一定,工件厚度作为可变参数; D.以上都是。

4.42下列有关曝光曲线使用的叙述,正确的是(C)

A.只要X射线机的规格相同,其曝光曲线都是通用的;

B. 曝光曲线一定后,实际使用中可对暗室冲洗温度作修改;

C. 曝光曲线一般只适用于透照厚度均匀的平板工件;

D.以上都是。

4.43 编制焊缝透照常规工艺需遵循的原则是(D)

A.应符合有关法规、标准、设计文件和管理制度的要求;

B.应考虑缺陷检出率、透照灵敏度和底片质量;

C.应考虑检测速度、工作效率和检测成本;

D.以上都是。

4.44 编制焊缝透照专用工艺卡必须明确的是(D)

A.工件情况; B.透照条件参数; C.注意事项和辅助措施; D.以上都是。

4.45 下列关于小径管椭圆透照像质要求叙述正确的是(B)

A.为达到透照灵敏度,可以不考虑厚度宽容度;

B.椭圆开口度太小,会使源侧与片侧焊缝根部缺陷产生混淆; C.椭圆开口度大,有利于焊缝根部面状缺陷的检出; D.以上都是。

5.1 显影的目的是( B )

A.使暴光的金属银转变为溴化银; B. C.去除未暴光的溴化银; D.

5.2 显影液的主要成分是( )

A.还原剂和促进剂; B. C.抑制剂; D.

5.3 还原集通常采用( )

A.亚硫酸钠; B. C.米吐尔和对苯二酚; D.

5.4 显影液中的促进剂通常采用( )

A.亚硫酸钠; B. C.菲尼铜; D.

5.5 显影液中的保护剂通常采用( )

A.亚硫酸钠; B. C.菲尼铜; D.

5.6 显影液中的抑制剂通常采用( )

A.亚硫酸钠; B. C.菲尼铜; D.

5.7 显影操作时,不断搅动底片的目的是(使暴光的溴化银转变为金属银;去除已暴光的溴化银。 保护剂; 以上全是。 溴化钾; 碳酸钠。 溴化钾; 碳酸钠。 溴化钾; 碳酸钠。 溴化钾;

氢氧化钠。 )

A.使未暴光的溴化银粒子脱落;

B.驱除附在底片表面的气孔,使显影均匀,加快显影;

C.使暴过光的溴化银加速溶解;

D.以上全是。

5.8 在显影过程中应翻动胶片或搅动显影液,其目的是( )

A.保护胶片时,使其免受过大压力;

B.使胶片表面的显影液更新;

C.使胶片表面上未暴光的银粒子散开;

D.防止产生网状皱纹。

5.9 显影时,哪一条件的变化会导致影象颗粒粗大?( )

A.显影液活力降低; B.显影液搅动过度;

C.显影时间过短; D.显影温度过高。

5.10 以下关于显影剂性质的叙述,哪一条是正确的( )

A.对苯二酚显影反差小;

B.菲尼酮可取代对笨二酚与米吐组成显影剂;

C.当温度降低时,对苯二酚显影能力显著降低,米吐尔则不明显;

D.当碱度增大时,米吐尔显影能力显著提高,对苯二酚则不明显。

5.11 定影液中的定影剂通常采用( )

A.硫代硫酸钠; B.冰醋酸;

C.明矾; D.亚硫酸钠。

5.12 定影液使用一定的时间后失效,其原因是( )

A.主要起作用的成分已挥发;

B.主要起作用的成分已沉淀;

C.主要起作用的成分已变质;

D.定影液里可溶性的银盐浓度太高。

5.13 在定影操作时,定影时间一般为( )

A.20分钟 B.底片通透即可

C.通透时间的2倍 D.30分钟

5.14 定影液是一种( )

A.酸性溶液; B.碱性溶液;

C.中性溶液; D.二者均不是。

5.15 在定影液中能抑制硫酸钠被分解析出硫的化学药品是( )

A.CH3COOH2 B.H3BO3

C.Na2SO4 D.Na2SO3

5.16 以下关于定影液配制的叙述中,哪一条是错误的( )

A.亚硫酸钠应在加酸之前溶解;

B.硫代硫酸钠应在加酸之后溶解;

C.硫酸铝钾应在加酸之后溶解;

D.酸性剂除加入醋酸外还应加入硼酸。

5.17 以下哪一种材料不适宜用作盛放洗片液的容器( )

A.塑料 B.不锈钢 C.搪瓷 D.铝

5.18 显影速度变慢,反差减小,灰雾增大,引起上述现象的原因可能是( )

A.显影温度过高 B.显影时间过短

C.显影时搅动不足 D.显影液老化

5.19 硼砂在显影液中的作用是( )

A.还原剂 B.促进剂 C.保护剂 D.酸性剂

5.20 硫酸铝钾在定影液中的作用是( )

A.定影剂 B.保护剂

C.坚膜剂 D.酸性剂

5.21 配制定影液时,如果在加酸之前就加入硫酸铝钾,则会发生硫酸铝钾被( )

A.氧化 B.还原 C.抑制 D.水解

5.22 盛放显影液的显影槽不用时应用盖盖好,这主要是为了( )

A.防止药液氧化 B.防止落进灰尘

C.防止水分蒸发 D.防止温度变化

5.23 显影配方中哪一项改变会导致影象灰雾增大,颗粒变粗( )

A.米吐尔改为菲尼酮 B.增大亚硫酸钠用量

C.硫酸钠改为氢氧化钠 D.增大溴化钾用量

5.24 以下关于停显液的叙述,哪一条是错误的( )

B.使用停显液可防止两色性雾鬻产生 C.使用停显影可防止定影液被污染

D.为防止药膜损伤,可在停显液中加入坚膜剂无水亚硫酸钠 A.停显液为酸性溶液

5.25 自动洗片机在正式洗片前,先输入一张清洗片,其目的是(D)

A.检查有无异常情况 B.清除液桶上沾染的被空气氧化的显影液

C.清除液桶上沾染的被空气氧化的定影液 D.以上都是

5.26 定影液、显影液配液时的要求是(B)

A.配置用水的硬度越高越好,有利与药液溶解;

B.因为硫代硫酸钠会大量吸热,所以配置定影液时水温要高一些;

C.除对配液容器材质有要求外,对搅拌棒的材质无要求;

D. 配液时应不停的激烈搅拌,有利于药液快速溶解。

5.27 胶片处理的标准条件和操作要点是(D)

A.显影温度20±2℃,时间4-6min,预先水浸,显影过程中适当搅动;

B.定影温度16-24℃,时间5-15min,定影过程中要充分搅动;

C. 干燥温度≤40℃,去除表面水滴后干燥;

D. 以上都是。

5.28 下列关于显影剂的说法错误的是(C)

A.米吐尔易溶于水,不易溶于亚硫酸钠溶液;

B.菲尼酮常温下不溶于水,但易溶于碱性水溶液;

C.菲尼酮与对苯二酚配合使用时显影能力极强,但性能不稳定;

D.对苯二酚可使影像具有很高的反差。

5.29 抑制剂的作用是(D)

A.抑制灰雾 B.抑制显影速度,有利于显影均匀

C.对影像层次和反差起调节和控制作用 D.以上都是

6.1 观片室的明暗程度最好是( )

A.越暗越好 B.控制在70流明左右

C.与透过底片的亮度大致相同 D.以上都不对

6.2 以上关于底片灵敏度检查的叙述,哪一条是错误的( )

A.底片上显示的象质计型号,规格应正确;

B.底片上显示的象质计摆放应符合要求;

C.如能清晰地看到长度不小于10MM的象质计钢丝影象,则可认为底片灵敏度达到该钢

丝代表的象质指数;

D.要求清晰显示钢丝影象的区域是指焊缝区域,热影响区和母材区域则无此要求。

6.3 以下关于底片黑度检查的叙述,哪一条是错误的( )

A.焊缝和热影响区的黑度均应在标准规定的黑度范围内;

B.测量最大黑度的测量点一般选在中心标记附近的热影响区;

C.测量最小黑度的测量点一般选在搭接标记附近的焊缝上;

D.每张底片黑度检查至少测量四点,取四次测量的平均值作为底片黑度值。

6.4 以下关于观片灯亮度的叙述,哪一条是正确的( )

A.观光时,灯越亮越好;

B.透过底片的光强最好为30cd/m;

C.透过底片的光强最好为100cd/m ; 22

D.光源的颜色最好为绿色,白色也可以。

6.5 一般情况下,正常人的眼睛大约可以看清( )

A.直径0.25MM的点和0.025MM的线

B.直径0.025的点和0.0025MM的线

C.直径0.025MM的点和0.25MM的线

D.直径0.0025MM的点和0.025MM的线

6.6 以下那些材料的焊接接头一般不会产生延迟裂纹( )

A.优质碳素钢 B.低合金钢

C.奥氏体不锈钢 D.钛合金

6.7 再热裂纹发生的位置一般在( )

A.母材 B.热影响区

C.焊缝区 D.以上都是

6.8 以上哪些材料的焊接接头一般不会产生再热裂纹( )

A.低碳钢 B.低合金高强钢

C.珠光体耐热钢 D.沉淀强化的奥氏体钢

6.9 结晶裂纹是热裂纹的一种,发生的位置一般是( )

A.焊缝区 B.热影响区

C.母材 D.以上都是

6.10 含碳量超过0.3%的钢,焊接时容易产生的缺陷是( )

A.热影响区裂纹 B.气孔

C.夹渣 D.未熔合

6.11 焊接坡口面加热不足或存在氧化皮可能引起( )

A.未焊透 B.未熔合

C.凹陷 D.咬边

6.12 焊接电流过小或焊接速度过快可能引起( )

A.裂纹 B.未焊透

C.咬边 D.焊瘤

6.13 坡口或焊材表面不清洁,有水或油污,可能引起( )

A.裂纹 B.夹渣

C.未熔合 D.气孔

6.14 焊接电流过大或焊条角度不对可能引起( )

A.未焊透 B.未熔合

C.气孔 D.咬边

6.15 以下哪一种焊接方法会产生钨夹渣( )

A.手工电弧焊 B.埋弧自动焊

C.非溶化极气体保护焊 D.电渣焊

6.16 以下哪一种缺陷不属于面积型缺陷( )

A.裂纹 B.未溶合

C.条状夹渣 D.咬边

6.17 底片上出现的白点影象,它可能是( )

A.钨夹渣 B.焊瘤

C.焊接飞溅 D.以上都是

6.18 静电感光的影象一般是( )

A.鸟爪型 B.树枝型

C.点状或冠状 D.以上都是

6.19 底片上的出现宽度不等,有许多断续分枝的锯齿形黑线,它可能是( )

A.裂纹 B.未溶合

C.未焊接 D.咬边

6.20 显影后呈现在射线底片上的亮的皱折痕迹是由于什么原因造成的?( )

A.静电感光; B.铅增感屏

C.曝光前胶片受折 D.曝光后胶片受折

6.21 造成底片上出现黑度小于其它部位的白影的原因是( B )

A.显影操作开始前,胶片上沾染了显影液; C.增感屏划伤

B.显影操作开始前,胶片上沾染了定影液 D.胶片跑光

6.22 为正确识别底片上的表面几何影像,评片人员应( D )

A.仔细了解试件结构和焊接接头形式; C.掌握试件和焊缝表面质量情况

B.熟悉不同焊接方法和焊接位置的焊缝成形特点 D.以上都是

7.1 收剂量的SI单位是( )

A.伦琴(R) B.戈瑞(Gy)

C.拉德(rad) D.希沃特(Sv)

7.2 当光子能量超过200KeV后,对于人体组织的吸收剂量与照射量换算关系大致为

( )

A.1戈瑞=0.01伦琴 B.1戈瑞=0.1伦琴

C.1戈瑞=10伦琴 D.1戈瑞=100伦琴

7.3 GB4792-84标准规定:放射工作人员受全身均匀照射的年剂量不应超过( )

A.50mSv B.50rem C.150mSv D.500mSv

7.4 GB4793-84标准规定:公众中个人受到全身照射年剂量当量不应超过( )

A.5rem B.15mSy C.50mSv D.5mSv

7.5 在相同吸收剂量的情况下,对人体伤害最大的射线种类是( )

A.Χ射线 B.γ射线 C.中子射线 D.β射线

7.6 以下哪一种探测器,不是利用射线在空气中电离效应原理( )

A.电离室 B.正比计数器

C.盖革-弥勒记数管 D.闪烁探测器

7.7 一旦发生放射事故,首先必须采取的正确步骤是( )

A.报告卫生防护部门; B.测定现场辐射强度;

C.制定事故处理方案; D.通知所有人员离开现场.

7.8 Ir192γ射线通过水泥墙后,照射率衰减到200mR/h,为使照射率衰减到10mR/h以下,至

少还应覆盖多少厚的铅板?(设半价层厚度为0.12cm) ( )

A.10.4mm; B.2.6mm; C.20.8mm; D.6,2mm。

7.9 离源200mm处的照射率为100mR/h,照射率为2mR/h辐射区边界标记离源的距离约为

( )

A.0.7m B.1.4m C.2.8m D.1m

7.10 射线的生物效应,与下列什么因素有关? ( )

A.射线的性质和能量 B.射线的照射量

C.肌体的吸收剂量 D.以上都是

7.11 热释光探测器用于( )

A.工作场所辐射监测 B.个人剂量监测

C.内照射监测 D.A和B

7.12 下列哪种仪器检测射线屏蔽物小泄漏的灵敏度最高 ( )

A.胶片微章计 B.钢笔型电离室

C.盖革计数器 D.固体剂量计

7.13 辐射损伤随机效应的特点是( )

A.效应的发生率与剂量无关

B.剂量越大效应越严重

C.只要限制剂量便可以限制效应发生

D.以上B和C

7.14 辐射损伤非随机效应的特点是( )

A.效应的发生率与剂量无关

B.剂量越大效应越严重

C.只要限制剂量便可以限制效应发生

D.以上B和C

7.15 以下GB4792-84标准关于特殊照射的叙述,哪一条是错误的( )

A.特殊照射事先必须周密计划

B.计划执行前必须经过单位领导及防射防护负责人批准

C.有效的剂量当量在一次照射中不得大于100mSv

D.经受特殊照射后的人员不应再从事放射工作

7.16 辐射防护三个基本要素是 ( D )

A.时间防护; B.距离防护;

C.屏蔽防护; D.以上都是。

7.17 下列关于利用半价层计算屏蔽层厚度的说法,不正确的是( B )

A.只要有散射线存在,其半价层就不是固定值

B.根据半价层计算出的屏蔽层厚度是准确的

C.半价层厚度随屏蔽层的厚度增加而增加

D. 屏蔽层厚度很大时,半价层厚度不再随屏蔽层厚度增加而增加

8.1 直线加速器中,电子以何种方式加速? ( )

A.高频电波; B.加速磁铁;

C.中子轰击; D.改变交流电磁铁磁场。

8.2 回旋加速器中,电子以何种方式加速? ( )

A.场发射; B.改变交流电磁铁磁场;

C.高频电流; D.加速磁铁。

8.3 射线照相中使用加速器的目的是( )

A.产生γ射线 B.产生高能量的Χ射线

C.产生中子射线 D.产生α射线

8.4 利用电磁铁和变压器在环形轨道中加速电子产生高能Χ射线的加速器叫做(

A.静电加速器 B.直线加速器

C.回旋加速器 D.三者均是

8.5 利用波导管沿直线轨道加速电子产生高能Χ射线的加速器叫做( )

A.静电加速器 B.直线加速器

C.回旋加速器 D.三者均是

8.6 以下哪一点不是高能射线照相的优点( )

A.穿透力强 B.曝光时间短

C.散射比小 D.总的不清晰度小

8.7 以下哪一条不是影响Χ射线实时成像图象质量的参数( )

A.屏的固有不清晰度

B.焦点尺寸和投影放大引起的几何不清晰度

C.噪声

D.以上都不是

8.8 以下哪一条不是评价射线实时成象系统图象质量参数( )

A.分辨力 B.对比度 )

C.放大率 D.以上都不是

8.9 中子射线照相使用的中子能量范围大致属于( )

A.快中子 B.慢中子

C.热中子 D.冷中子

8.10 间接曝光法是哪一种射线检测类别应用的方法( )

A.高能射线照相 B.中子照相

C.层析照相 D.康谱顿散射照相

8.11 用15MeV回旋回加速器对钢焊缝进行射线照相,显影后底片上布满了斑点,产生斑点

的原因可能是( )

A.曝光时间不正确 ; B.胶片与试件未贴紧;

C.曝光时使用铅箔增感屏不当; D.显影时间过长。

8.12 下列哪一种高能射线发生器所产生的Χ射线束锥角最小( )

A.10MeV B.15MeV

C.25MeV D.1MeV

8.13 放大照相所用的Χ射线机应是( )

A.软Χ射线机 B.铍窗口Χ射线机

C.微焦点Χ射线机 D.以上都是

8.14 以下哪一条不是运动中射线照相法的优点( )

A.透照过程连续进行、效率高

B.照射场范围小、辐射危害低

C.采用连续胶片作为记录介质处理、阅读、贮存方便

D.可通过投影放大技术提高分辨率

8.15 以下哪一种技术适宜检测大厚度物体的近表面缺陷 ( )

A.中子射线照相 B.运动中射线照相

C.康普顿散射照相 D.层析照相

8.16 以下元素中对中子吸收最大的是( )

A.铅 B.铁 C.铝 D.氢

8.17 中子射线照相中,直伏曝光法所使用的转换屏是 ( )

A.铅 B.铁 C.钨 D. 钆

8.18 适于中子照相法检出的缺陷是( )

A.厚钢铸件中的裂纹 B.厚钢件中的缩孔

C.厚钢铸件中的熔剂夹杂 D.以上都是

8.19 测试射线实时成像系统图像分辨力通常用 ( )

A.孔型象质计 B.线对测试卡

C.双丝象质计 D.B和C

8.20 测试射线实时成像系统对比度灵敏度通常用 ( )

A.阶梯试块 B.平底方孔试块

C.平底园孔试块 D.B和C

8.21 射线实时成像系统的最佳放大倍数主要取决于( )

A.射源尺寸和固有不清晰度

B.射源尺寸和屏尺寸

C.射源尺寸和空间分辨力

D.对比度灵敏度和总的不清晰度

8.22 射线实时成像系统的性能鉴定内容包括( )

A.象素和灰度等级 B.空间分辨力和对比度灵敏度

C.对比度和总的不清晰度 D.分辨力和放大倍数

8.23 射线实时成像的最大放大倍数取决( )

A.屏的亮度与对比度灵敏度 B.屏固有不清晰度与扫描速度

C.射线源的尺寸与屏的亮度 D.射线浑的尺寸与屏的固有不清晰度

10.1 ASME规范关于背射监测的规定是( )

A.在每个暗盒背后贴“B”标记;

B.在每个暗盒前面贴附“B”标记;

C.每10个暗盒中有一个必须贴附“B”标记;

D.无任何规定。

10.2 ASME规范关于象质计的有关规定是( )

A.只能选用平板孔象质计

B.只能选用金属丝型象质计

C.两种象质计均可使用

D.板厚2英寸以下任意选择丝型或孔型,但2英寸以上必须使用孔型。

10.3 以下关于100%透检环缝的照透次数的要求,哪一条叙述不符合ASME规范的有

关规定( )

A.透照次数应按K≤1.1的要求通过公式计算求出;

B.无K值要求,所选择的照透次数必须保证所得底片灵敏度满足有关规定;

C.对双壁单影法,至少要求照透3次,双壁双影椭圆透照,至少应照透2 次;

D.A和C。

10.4 以下关于象质计选用的叙述,哪一条不符合ASME规范的有关规定( )

A.即使是双壁透照,也必须按单壁焊缝厚度选择象质计;

B.对带垫板焊缝,垫板厚度不计入透照厚度;

C.对小径管双壁双影透照,可选择普通丝型象质计,也可以选择专用的等径丝型象质计;

D.以上都是。

10.5 以下关于象质计放置的叙述,哪一条不符合ASME规范的有关规定( )

A.通常每张底片上至少应有一个象质计;

B.环缝周向曝光中心透照法,至少应放4个象质计;

C.对于环缝垂直相交的纵焊缝,如与环焊缝同时曝光,则应在纵焊缝远端放一个象质计。

D.球形容器全景曝光则应在每条环缝各放3个象质计,其余焊缝,每条放1个象质计。

10.6 ASME规范对底片黑度的要求是( )

A.X射线1.8≤D≤3.5 γ;射线,2.0≤D≤4.0

B.X射线1.2≤D≤4.0γ;射线,1.8≤D≤4.0

C.X射找1.8≤D≤4.0γ;射线,2.0≤D≤4.0

D.X射线1.5≤D≤4.0γ;射线,2.5≤D≤4.5

10.7 使用ASME孔型透度计,现侧得透度计处黑度值为2.0,按ASME规范,有效评定区黑度范围应在()

A. 1.8-4.0 B. 1.2-3.5

C. 1.7-2.6 D. 1.5-3

10.8 以下哪一种规范标准不考虑透照厚度比K值,( )

A.中国GB3323标准 B. 日本JISZ标准

C.美国ASME规范 D. 欧洲EN标准

10.9 以下哪一种规范标准规定圆形缺陷用标准图样评定( )

A.中国GB3323标准 B. 日本JISZ标准

C.美国ASME规范 D. 欧洲EN标准

选择题答案

1.1 D 1.2 B 1.3 B 1.4 A 1.5 A

1.6 A 1.7 A 1.8 D 1.9 D 1.10 C

1.11 C 1.12 C 1.13 A 1.14 D 1.15 B

1.16 B 1.17 B 1.18 C 1.19 A 1.20 B 1.21 A 1.22 B 1.23 B 1.24 D 1.25 C 1.26 D 1.27 C 1.28 B 1.29 B 1.30 B 1.31 D 1.32 C 1.33 D 1.34 D 1.35 D 1.36 B 1.37 C 1.38 A 1.39 B 1.40 A 1.41 C 1.42 D 1.43 D 1.44 D 1.45 B

2.1 C 2.6 D 2.11 D 2.16 B 2.21 B 2.26 D 2.31 B 2.36 B 2.41 C 2.46 D 2.51 A 2.56 A 2.61 C 2.66 D 2.71 B

3.1 D 3.6 D 3.11 C 3.16 D 3.21 B 3.26 C 2.2 B 2.7 D 2.12 C 2.17 D 2.22 A 2.27 C 2.32 D 2.37 B 2.42 C 2.47 C 2.52 A 2.57 D 2.62 D 2.67 A 2.72 C 3.2 B 3.7 C 3.12 D 3.17 D 3.22 A 3.27 A 2.3 C 2.8 D 2.13 D 2.18 D 2.23 B 2.28 D 2.33 A 2.38 C 2.43 B 2.48 C 2.53 C 2.58 B 2.63 B 2.68 B 2.73 D 3.3 D 3.8 C 3.13 D 3.18 B 3.23 C 3.28 B 2.4 D 2.9 B 2.14 B 2.19 B 2.24 A 2.29 D 2.34 D 2.39 B 2.44 C 2.49 D 2.54 B 2.59 C 2.64 C 2.69 D 3.4 B 3.9 D 3.14 D 3.19 A 3.24 D 3.29 A 2.5 B 2.10 D 2.15 B 2.20 C 2.25 A 2.30 D 2.35 D 2.40 A 2.45 D 2.50 D 2.55 C 2.60 A 2.65 C 2.70 A 3.5 C 3.10 C 3.15 D 3.20 A 3.25 B 3.30 A

3.31 B 3.32 B 3.33 C 3.34 C 3.35 D

3.36

4.1 A 4.2 C 4.3 B 4.4 C 4.5 C 4.6 B 4.7 C 4.8 D 4.9 B 4.10 B B

4.11 D 4.16 C 4.21 C 4.26 B 4.31 C 4.36 B

5.1 B 5.6 B 5.11 A 5.16 B 5.21 D

6.1 C 6.6 C 6.11 B 6.16 C

7.1 B 7.6 D 7.11 B 4.12 C 4.17 D 4.22 C 4.27 C 4.32 C 4.37 C 5.2 D 5.7 B 5.12 D 5.17 D 5.22 A 6.2 D 6.7 B 6.12 B 6.17 D 7.2 D 7.7 D 7.12 C 4.13 B 4.18 D 4.23 B 4.28 A 4.33 D 4.38 C 5.3 C 5.8 B 5.13 C 5.18 D 5.23 C 6.3 D 6.8 A 6.13 D 6.18 D 7.3 A 7.8 D 7.13 A 4.14 B 4.19 D 4.24 B 4.29 D 4.34 D 5.4 D 5.9 D 5.14 A 5.19 B 5.24 D 6.4 C 6.9 A 6.14 D 6.19 A 7.4 D 7.9 C 7.14 D 4.15 D 4.20 A 4.25 A 4.30 D 4.35 B 5.5 A 5.10 C 5.15 D 5.20 C 6.5 A 6.10 A 6.15 C 6.20 C 7.5 C 7.10 D 7.15 D

8.1 A 8.2 B 8.3 B 8.4 C 8.5 B

8.6 D 8.7 C 8.8 C 8.9 C 8.10 B

8.11 C 8.12 C 8.13 C 8.14 D 8.15 C

8.16 D 8.17 D 8.18 C 8.19 D 8.20 B

8.21 A 8.22 C 8.23 D

10.1 A 10.2 C 10.3 A 10.4 C 10.5 B

10.6 C 10.7 C 10.8 C 10.9 C

三、问答题

1.0 什么叫核素?核素分为哪几类?

1.0 什么叫核力?核力具有那些性质?

1.1 射线可分为哪几类,用工业探伤的射线有哪几种?

1.0 X射线和γ射线具有哪些性质?

1.2 X射线和γ射线有哪些不同点?

1.3 产生X射线需要哪些条件?

1.4 X射线机发出的X射线为什么具有连续波长?

1.5 连续X射线和标识X射线有哪些不同点? 它们在射线探伤各起什么作用?

1.6 试述光电效应的机理和特点?

1.0 试述光电效应的机理和产生条件?

1.7 试述康普顿效应的机理和特点?

1.8 什么叫电子对应效应?电子对应效应产生条件是什么?

1.0 什么叫瑞利散射?瑞利散射的特点是什么?

1.9 试叙述射线与物质相互作用导致强度减弱、四种效应各起了什么作用?

1.10 试解释“窄束”和“宽束”, “单色”和“多色”的含义。

1.11 窄束单色射线在物质中的衰减规律怎样表示?宽束连续射线在物质中的衰减规

律又怎样表示?

1.12 什么叫射线的线质?连续X射线的线质又怎样表示?

1.13 什么叫连续X射线有效能量?为什么连续X射线穿透物质后有效能量会增大?

1.14 放射性同位素衰变有哪几种模式?

1.15 什么叫放射性同位素的半衰期? 它在射线检测中有什么用处?

1.16 什么叫半价层?它在检测中有哪些用处?

1.0 试述射线照相法的原理?

2.1 简述影响X射线管使用寿命的因素?

2.2 对探伤用的γ射线源有哪些要求?

2.3 与X射线探伤相比,γ射线探伤有哪些优点和缺点?

2.4 简述X射线管结构和各部分作用?

2.5 金属陶瓷X射线管有哪些优点?

2.6 X射线管的阳极冷却方式有几种? 冷却有什么重要性?

2.7 试述X射线机训练的目的和原理?

2.8 X射线机高压发生线路有几类? 它们在X射线输出上有何区别?

2.9 试述工业X射线胶片的特点和结构?

2.0 试述X射线机维护、保养的注意事项?

2.10 射线胶片有哪些特性参数?哪几项可在特性曲线上表示出来?如何表示?

2.11 增感型胶片和非增感型胶片的特性曲线有何区别?两种胶片的黑度与GD值关系

有何不同?

2.12 像质计有哪儿种类型,中国和美国各采用哪种象质计?

2.0 像质剂应如何使用和放置?

2.13 金属增感屏有哪些作用,哪些金属材料可用作增感屏?

2.0 何为放射性活度?它与γ射线源的强度有何联系?

2.14 硒75放射性同位素与铱192相比,具有有哪些特点?

2.15 胶片特性测试为什么要使用标准源,标准X射线源是用什么标定的?

2.16 工业射线胶片系统分类新方法有哪些特点?

2.0 何为胶片系统?胶片分类所依据的特性参数有哪些?

2.0 胶片的选用一般应考虑哪些因素?

2.0 工业射线胶片系统分类规定要考虑冲洗条件的影响,那么对冲洗条件应如何控制?

3.0 什么是射线照相灵敏度?绝对灵敏度和相对灵敏度的概念是什么?

3.1 什么是影响射线照相影象质量的三要素?

3.2 什么叫主因对比度? 什么叫胶片对比度? 它们与射线照相对比度的关系如何?

3.3 写出透照厚度差为△X的平板底片对比度公式和象质计金属丝底片对比度公

式,说

明公式中各符号的含义,并指出两个公式的差异?

3.4 就象质计金属丝的底片对比度公式讨论提高对比度的主要途径,并说明通过这些途径提高 对比度可能会带来什么缺点?

3.5 何谓固有不清晰度?

3.6 固有不清晰度大小与哪些因素有关?

3.7 何谓几何不清晰度?其主要影响因素有哪些?

3.8 实际照相中,底片上各点的Ug值是否变化?有何规律?

3.9 试述Ug和Ui关系以及对照相质量的影响。

3.10 试述底片影象颗粒度及影响因素。

3.11 什么叫最小可见对比度?影响最小可见对比度的因素有哪些?

3.12 为什么射线探伤标准要规定底片黑度的上下限?

3.13 写出裂纹的6个自身特征参数,并说明哪几个是射线照相的关键参数?

3.14 写出裂纹灵敏度通解公式,并说明公式中各符号的意义?

3.15 什么是几何修正系数,写出其计算式并说明其实用意义。

3.16 采用源在外的透照方式比源在内的透照方式更有利于内壁表面裂纹的检出,这一说 法是否正确,为什么?

3.17 为什么说象质计灵敏度不能等于缺陷灵敏度?

3.0 简述像质剂灵敏度和自然缺陷灵敏度的区别和联系?

3.18 在底片黑度,象质计灵敏度符合要求的情况下,哪些缺陷仍会漏检? 3.0 为什么裂纹的检出率与像质剂灵敏度对应关系不好?

4.0 试述射线源的选择原则?

4.0 何为曝光量?X、γ射线的曝光量分别指什么?

4.1

4.2

4.3

4.4

4.5

4.6

4.7 何谓曝光因子?何谓平方反比定律? 何谓互易定律失效?它对射线照相有何影响? 焊缝余高对X射线照相质量有什么影响? 透照有余高焊缝应注意哪些事项? 透照余高磨平的焊缝怎样提高底片灵敏度? 影响射线照相质量的散射线是如何产生的? 试述散射线的实际来源和分类。

4.0 散射比的影响因素有哪些?

4.8 常用控制散射线的方法有哪些。

4.9 指出小口径管对接焊缝射线照相对缺陷检出的不利因素,并提出改进措施。

4. 10 从提高探伤质量的角度比较各种透照方式的优劣?

4. 11 X射线线质的选择需要考虑嘟些因素?

4.12 选择透照焦距时应考虑哪些因素?

4. 13 计算一次透照长度时,公式中的外径D0是否计入焊缝余高。

4.0 焊缝透照的基本操作包括哪些内容?

4.0 大厚度比试件透照采取的特殊技术措施有哪些?

4. 14 计算搭接长度时,公式中的工件表面至胶片距离L2是否要考虑焊缝余高。

4. 15 计算小径管透照平移距离时,公式中的工件表面至胶片距离L2是否要计入焊

缝余高。

4.16 计算几何不清晰度Ug时,公式中的工件表面至胶片距离L2是否要计入焊缝

余高。

4.17 曝光曲线有哪些固定条件和变化参数。

4.0 为什么说不同的X射线机的曝光曲线各不相同?

4.0 射线照相实际透照时,为什么一般并不采用最小焦距值?

4.0 什么是优化焦距Fopt?射线检测中选择优化焦距的目的是什么?

4.18 GB3323标准和JB4730标准对几何不清晰度是怎样规定的?

5.1 叙述显形液的成分及作用。

5.2 叙述定影液的成分及作用。

5.3 影响显影、定影的因素有哪些?

5.4 暗室布局有哪些要求?

5.5 简述胶片处理的药液配制时的注意事项?

5.6 相对手工处理胶片而言,自动洗片机处理胶片有哪些优点?

6.1 底片的质量检查应包括哪些要求?

6.2 观片灯的性能要求有哪些?

6.3 底片上缺陷定性时的影像分析要点有哪些?

7.1 引入剂量当量的目的是什么? 在X射线和γ射线防护中,剂量当量和吸收剂量

怎样换算?

7.2 场所辐射监测和个人剂量监测的目的是什么?

7.3 场所辐射监测仪器有哪几种?

7.4 个人辐射监测仪器有哪几种?

7.5 叙述射线防护的三大方法的原理。

7.6 我国现行辐射防护标准对放射性工作人员的剂量当量限值有哪些规定?

7.7 什么叫随机性效应?什么叫确定性效应?

7.8 怎样理解电离辐射所致随机性效应是“线性无阀”的?

7.9 简述辐射防护的目的和基本原则?

7.10 简述现场透照时,控制区和监督区是怎样划分的?

8.1 简述中子射线照相的应用领域。

8.2 高能射线照相有哪些优点?

8.3 实时射线照相有哪些优点和局限性?

8.4 计算机射线照相技术(CR)有哪些优点和局限性?

8.5 什么是数字图像的分辨率?数字化射线成像技术的分辨率受哪些因素影响?

8.6 简述线阵列扫描数字成像系统工作原理?

8.7 X射线层析照相有哪些特点?

9.1 锅炉压力容器无损检测质量管理应包括哪些内容?

9.2 无损检测新工艺和新技术在生产中应用之前,为什么要经过工艺鉴定程序?

9.3 全面质量管理的主要内容是什么?

9.4 无损检测的质量管理一般包含哪些内容?

9.5 γ射线源的保管储存应满足哪些要求?

9.6 无损检测的工艺管理一般包含哪些内容?

9.7 什么是例外检查?制定射线检测的例外检测方案和工艺时,应考虑那几个方面的问题?

9.8 申请开展射线装置工作的单位必须具备哪些基本条件?

9.9 申请放射工作人员证必须具备哪些基本条件?

9.10 如发生人员受超剂量照射事故,应如何处置?

问答题答案

1.1答: (1) X射线和γ射线。它们都是波长很短的电磁波,按波粒二相性观点,也可以看

作是能量很高的光子流。X射线是高速运动的电子撞击金属产生的;γ射缝是放射性同位素在γ衰变过程中从原子核内发出的。

(2) 电子射线和β射线。它们都是高速电子流。电子射线是通过加速电子得到的;

β射线是放射性同位素在β衰变过程中从原子核内发出的。

(3) 质子射线、氘核射线和。α射线。它们都是带正电的粒子流,质子是普通氢原

子核H;氘核是氢同位素氘H1的原子核,由1个质子和1个中子构成;α粒子是氮原子核2H由2个质子与2个中子构成。质子射线与氘核射线可利用回旋加速器或静电加速器得到,α射线是放射性同位素在α衰变过程中从原子核内发出的。

(4)中子射线。它是高速中子流,可从原子反应堆中获得,也可通过加速器获得,或从放射性同位素锎252中获得。目前用于探伤的主要是X射线、γ射线和中子射线.其中X射线和γ射线广泛用于工业探伤,中子射线用于特种检验。

1.2答: X射线和γ射线都属电磁波范畴,两者最主要的不同点是产生方式不同。X射线是高

速电子撞击金属产生的,γ射线是放射性同位素从原子核中发出的。其他不同点包括:X射线是连续能谱, γ射线是线状能谱;X射线能量取决于加速电子的电压,γ射42

线能量取决于放射性同位素种类;X射线强度随管电压的平方和管电流而变,γ射线强度随时间的推移按指数规律减弱。

1.3答:产生X射线应具备五个条件:

(1)发射电子。将灯丝通电加热到白炽状态,使其原子外围电子离开原子。在灯丝

周围产生小的“电子云”,这种用热电流分离电子的方法叫热电子发射。

(2)电子聚焦。用钼圈中罩形阴极围绕灯丝,井将其与负电位接通。由子电子带负

电,会与它发生相互排斥作用,其结果是电子被聚成一束。

(3)加速电子。在灯丝与阳极间加很高的电压,使电子在从阴极飞向阳极过程中获

得很高速度。

(4)高真空度。阴阳极之间必须保持高真空度,使电子不受气体分子阻挡而降低能

量,同时保证灯丝不被氧化烧毁。

(5)高速电子被遏止。采用金属作阳极靶,使电子与靶碰撞急剧减速,电子动能转

换为热能和X射线。

1.4答:施加于X射线管两端的高压是脉动直流电压,由于电压不断变化,到达阳极的电

子速度各不相同,只有少数电子经过最高电压的加速。而电子与阳极靶的碰撞情况也各 不相同,少数电子经过一次碰撞,运动即被阻止,能量全部转换为X射线。波长最短的部分射线就属这种情况。大部分电子与靶要进行多次碰撞,速度逐渐降低,直至为0,碰撞过程中转换的X射线波长各不相同,有长有短,所以X射线管发出的X射线束波长呈连续分布。

1.5答:(1)产生机理不同,连续 X射线是高速电子与靶原子核的库仑场作用产生的,标识X

射践是高速电子把靶原子的内层轨道电子碰撞出轨道后,外层电子向内层跃迁时发出的。

(2)波长和能量不同,连续X射线具有混合波长,能谱为连续谱,最短波长取决于管

电压;而标识X射线波长为特定值,能谱为线状谱,波长与靶材料无素有关而与管电压无关。标识X射线波长较长,光子能量小,线质软,例如钨靶所产生的标识射线,能量最大的K系标识能量为69.5KV,在探伤中基本上不起作用。在探伤中,穿透试件,使胶片感光主要依靠连续X射线。

1.6答:当电子与物质原子中的束缚电子相互作用时,光子把全部能量转移给一个束缚电子,

使之脱离轨道,发射出去,而光子本身消失,这一过程称为光电效应。光电效应发射出去的电子叫光电子。

发生光电效应的必要条件是光子能量大于电子结合能。遵照能量守恒定律,光子部分能量消耗于光电子脱离原子束缚所需的电离能(电子在原子中的结合能),其余能量作为光电子的动能。自由电子不能吸收光子能量成为电子,这是因为在光电过程中,除光子和光电子外,还必须有第三者——原子核参加,才能满足能量守恒,所以光电效应只能发生在原子的内层轨道电子上,电子在原子中束缚越紧,发生光电效应几率越大,大约80%的光电吸收发生在紧靠核的K层电子上。

1.7答:光子与电子发生非弹性碰撞,光子的一部分能量转移给电子,使电子沿与光子入射

方向成一定角飞去,称作反冲电子,光子自身能量减小,波长变长,运动方向改变,这一过程称作康普顿效应。康普顿效应总是发生在自由电子或原子束缚最松的外层电子上,入射光子的能量由反冲电子和散射光子两者之间分配,电子反冲角Ψ在0?一90之间变化,光子散射角在0一180之间变化,散射角θ越大,光子的能量损失也就越大。

1.8答:当高能光子从原子核旁经过时,在核库仑场的作用下,光子转化为一个正电和一个

负电子,自身消失,这一过程称为电子对效应。根据能量守恒定律,只有当入射光子能量hv大于 2moC2,即hv> 1.02MeV才能发生电子对效应,入射光子的部分能量转变为正负电子对的静止质量(1.02MeV ),其余就作为电子的动能。电子对效应之所以需要原子核库仑场参与作用,是为了满足能量守恒。

1.9答:四种效应(即光电效应,康普顿效应,电子对效应,瑞利散射)的发生几率与入射光

子能量及物质原子序数有关。一般说来,对低能量射线和原子序数高的物质。光效应占优势,对高能量射线和原子序数高的物质,电子对效应占优势,瑞利散射的影响大大低于上述三个效应。在钢铁中,当光子能量在10KeV时,光电效应占优势,???

随着光子能量的增大,光电效应比率逐渐减小,康普顿效应比率逐渐增大,在稍后过100KeV后两者相等,此时瑞利散射趋于最大,但其发生率也不到10%,1MeV附近射线的衰减基本上都是康普顿效应造成的;电子对效应自1.02MeV以后开始发生,并随能量的增大发生几率逐渐增加,在10MeV附近,电子对效应与康普顿效应作用大致相等;超过10MeV以后,电子对效应对射线强度度衰减起主要作用。

1.10答:射线束通过狭缝后照射到物体上,贯穿物体后又经过狭缝准直后到达探测器,这种

射线称作窄束射线,由于狭缝的作用,到达探测器的只有一次透射线。把强度受散射线影响的射线称为“宽束”射线。

X射线的“色”的概念是从可见光中的颜色和波长的关系引伸而来,把单一波长的

射线称为“单色射线”,把波长混合的射线称为“多色射线”,把连续波长的射线称为“白色射线”

1.11答:射线穿透物质时,其强度按指数规律衰减。对窄束单色射线,其强度衰减公式为:

I= Ioe-μT

(1)式中:I:透射线强度;Io :入射线强度;μ:线衰减系数; T:穿透厚度,对于连 续X射线,在穿透物质过程中的线秩会逐渐硬化,线衰减系数μ是个变量,在此情况下可用平均衰减系数代替。所以,连续射线的强度衰减公式为:

I= Ioe-μT (2) 对宽束射线,必须考虑散射的影响,透过物质的射线强度I包括一次透射线Ip和散射线Is两个部分,令散射比n=Is/Ip, 宽束射线强度衰减公式推导如下:

I=Ip+ Is(1+n)=Ioe-μT(1+n) (3)

综合(2)(3)式,宽束连续射线的强度衰减公式为

I=Ioe??T(1+n)?

1.12答:线质是对射线穿透物质能力的度量,穿透力较强的射线称其线质较硬,穿透力较弱

的射线称其线质较软。对单色射线,线质可用光子能量或波长定量表示,对连续X射线,因其能量和波长是连续分布的.一般可用半价层,吸收系数或有效能从来定量表示。

1.13答:如果某一单能射线的吸收系数与连续X射线在特定厚度范围内平均吸收系数相等,

便可用此单能射线的能量来表示连续X射线的平均能量,称作有效能量。连续X射线包含有能量不同的光子,在穿透物质过程中,能量较低的光子较容易被物质吸收,因此,从而使透过物质后.不同能量射线所占的强度几率发生变化,低能量射线所占几率减少,从而使透过射线的平均能量或有效能量增大0字符。

1.14答:放射性同位素衰变上要有以下模式:

(1) a衰变:放出带两个正电荷的氢核。

(2)β衰变,包括:β—衰变: 放出电子,同时放出反中微子;

β+ 衰变: 放出正电子,同时放出中微子;

电子俘获: 原子核俘获一个核外电子。

(3)γ衰变: 放出波长很短的电磁波。

内转换:原子核把激发能直接交给核外电子,使电子离开原子。

(4)自发裂变,原子核自发分裂为两个或几个原子核。

1.15答:放射性同位素衰变掉原有核数的一半,也就是说源的放射强度减少到原来一半所需

的时间,答为半衰期,用符号T1/2二表示。射线检测中,通过半衰期,可以了解放射性同位素的稳定性,放射源可使用时间的长短,计算源的剩余强度,确定曝光时间。

1.16答:使入射射线强度减少一半的吸收物质的厚度称作半价层,用符号T1/2表示。射线检

测中,通常利用半价层来评价射线的穿透力,表示X射线的有效能量,标定X射线标准源。

2.1答:X射线管失效的因素包括:灯丝老化、发射电子能力下降;阳极靶烧坏,X射线转换效率降低;真空度下降,使X射线管不能正常工作。为延长X射线管使用寿命,应做到

(1)在送高压前提前通电预热灯丝,使其活化。

(2)使用负荷一般控制在最高管电压的90%以内。

(3)使用过程中要保证阳极不过热、冷却系统应正常有效,要按照规定保证工作和

间歇时间。

(4)严格按照说明书要求训机。

(5)X射线机应轻搬轻放,防止受震。

2.2答:(1)能辐射出能量符合需要的γ射线。

(2)有足够长的半衰期,能保证一定的使用时间。

(3)有足够大的放射强度,以保证实际使用曝光时间,不致过长。

(4)比活度高,射源尺寸小。

(5)易于制造,成本低。

(6)容易贮藏,安装,不易造成污染。

2.3答:主要优点为:

(1)射线能量高、穿透力强。例如Co60在钢中穿透厚度可达180mm, Ir192穿透厚

度可达100mm。

(2)设备体积小,重量轻,只需一两个人,小型运输工具便可搬运携带。

(3)价格低,运行维修费用低。

(4)不需用电,适宜野外工作。

(5)可用于特殊场合,例如狭小部位和孔洞及高压电场中。

(6)采用周向曝光或全景曝光工作效率很高。

主要缺点为:

(1)由于γ射线源每时每刻都在辐射射线,因此对设备的可靠性和防护方面的要

高一些。

(2)射线能量不可调节,无法按透照厚度选择能量。

(3)射线强度随时间减弱,曝光时间有时较长。

(4)固有不清晰度较大,对比度较小,在应用的大部分厚度范围,灵敏度低于X射 线。

2.4答:X射线管构成:

阴极:灯丝,发射电子;

阴极头:灯丝支座,聚焦电子。

阳极:靶,遏制电子,发出X射线;

阳极体:支承靶,传递靶热量;

阳极罩:吸收二次电子,减少管壁电荷,提高工作稳定性;

管壳:连接两极,保持真空度。

2.5答:(1)用钢壳取代玻璃壳,因此抗震性强不易破碎。

(2) 金属外壳接地,管壁不会聚集电荷,工作稳定。

(3) 真空度高,用金属和陶瓷取代玻璃后,排气温度可从400℃提高到800℃,真空

度大大提高,从而电性能好,使用寿命长。

(4)体积小,重量轻。由于陶瓷电绝缘强度比玻璃高得多,用陶瓷代替玻璃作阴极和

阳极的绝缘体后;体积和重量均大辐度减小。

2.6答:X射线管冷却方式有辐射散热,充油(水)冷却以及旋转阳极自然冷却二种。

X射线管如不及时冷却,阳极过热会排出气体,降低管子的真空度,严重时可将靶面 熔化,龟裂脱落,使整个管子丧失工作能力。

2.7答:新的或长期不用的X射线机使用前必须进行训练,其目的是为了提高X射线管真空度,保证仪器工作稳定。X射线管工作作时,阳极受到电子撞击温度升高,会排出气体,降低管内真空度。同时管内残余气体电离,其质量较大的正离子会高速冲向阴极,使阴极金属和钨丝溅散,这些溅散金属能吸收气体,提高管内真空度。训练时管电压和管电流逐渐增加,可保证吸收气体过程始终占优势,吸收气体量大于排除气体量,从而提高X射线管的真空度。

2.8答:按输出的高压波型,高压发生线路可分为四类。

(1)半波整流线路;(2)全波整流线路;(3)脉动倍压线路;(4)全波恒倍压线路。在相同电压下,不同线路的X射线输出是不同的,全波恒倍压线路输出的射线强度最大,有效能量最高,脉动倍压线路和全波整流线路次之,半波整流线路输出的射线强度最低。

2.9答:与其他胶片相比,工业射线胶片的特点是双面涂膜,乳剂层厚,梯度高,黑度大。

其乳剂层厚度可达数十微米,反差系数高达3.5以上,最大黑度一般超过4。

工业射线胶片面一般采用聚脂纤维做片基,双面涂有药膜,药膜共有三层,即:结

合层,感光乳剂层、保护层。

2.10答:射线胶片的特性参数主要有:感光度(S),梯度(G),灰雾度(D0),宽容度(L),

颗粒度(Gr)。其中前四项可以特性曲线上定量表示出来。

感光度 S=1/E

梯度 G=tg? (平均梯度G=2/(lgE2- lgE1))

灰雾度 D0:曲线与纵坐标交点值

宽容度 L= lgE2- lgE1

2.11答:增感型胶片的特征曲线可分为五个区段,即:迟钝区、曝光不足区、曝光正常区、

曝光过度区、反转区、非增感型胶片特性曲线上没有曝光过度区和反转区。增感型胶片的G值与黑度的关系是:在较低黑度范围,G随黑度的增加而增大,但当黑度超过一定数值后,黑度再增大,G值反而减小。非增感型胶片G值与黑度成正比。黑度越大,G值越大。

2.12答:象质计的主要类型有:丝型、平板孔型、阶梯孔型,其中丝型使用最广泛,平

板孔型主要在美国应用,阶梯孔型主要在欧洲地区应用。中国使用的象质计是丝型象质 计,美国则同时使用丝型象质计和平板孔型象质计。

2.13答:金属增感屏除了具有增加感光的作用外,还具有减小散射线的作用。

金属增感屏最常用的材料是铅,在高能射线照相中还采用铅、钽、钨等材料制作的 ????增感屏。

2.14答:与Ir192相比,Se75的半衰期较长(120天),能量较低(平均能量0. 22MeV),

适用的透照厚度较小(钢5-30mm),源的价格较贵。

2.15答:胶片特性曲线的标准测试方法要求使用标准射线源,这主要是为了保证测试结果的

准确性,胶片感光度受射线能量的影响较大,所以标准射线源主要是对源的能量进行标定.此外,为减少散射线的影响,规定标准源必须加铜滤板。

2.16答:射线胶片系统分类新方法有以下特点:

(1)按胶片系统进行分类,系统包括胶片、增感屏、冲洗条件的组合,不是单纯只考虑胶片。

(2)著重于按成像质量指标作为分类依据,感光速度不作为分类的主参数。

(3) 胶片系统分类的四个特征参数为:D=2.0和D=4.0时的梯度G,D=2.0时的颗粒度?0,D=2.0时的梯度噪比G/?。

3.1答:影响射线质量的三个要素是:对比度、清晰度、颗粒度。

射线照相对比度定义为底片影像中相邻区域的黑度差。

射线照相清晰度定义为胶片影像中不同梯度区域分界线的宽度。用来定量描述清晰度的是“不清晰度”

射线照相清晰度对视觉产生影响的底片影像黑度的不均匀程度。

3.2答:由于不同区域射线强度存在差异所产生的对比度称为主因对比度,其数学表达式为: ?I/L?(???T)/(l?n)

式中:I:透过试件达胶片的射线强度;△I:局部区域射线强度增量; ?:射线的吸收系数;△T:局部区域透射厚度差;n:散射比。 由上式可以看出,主因对比度取决于透射厚度差、射线的质以及散射比。 胶片对比度就是胶片梯度,用胶片平均反差系数定量表示,数学式为: G=△D/△lgE

式中:G:胶片平均反差系数;△D:底片黑度差;△lgE:曝光量对数值的量

影响胶片对比度的因素有:胶片类型,底片黑度,显影条件。

射线照相底片对比度是主因对比度和胶片对比度的综合结果,主因对比度是构成底片对比度的根本因素,胶片对比度可以看作是主因对比度的放大系数。

3.3答:厚度为△X的平板底片对比度公式

?D??0.434?G?X?1?n? (1)

象质计金属丝底片对比度公式

?D??0.434?G??d/?1?n? (2)

式中:?:射线吸收系数;G:胶片反差系数;?:几何参数正系数;?X:平板透照厚度差;d:象质计金属丝直径;n:散射比。

两个公式的差别在几何修正系数?,由于透度计金属丝直径d远小于焦点尺寸,在一定透照条件下,几何因素会影响金属丝影象对比度,所以公式(2)引入?对底片对比度进行修正。当缺陷尺寸大于焦点尺寸时,焦点尺寸对底片对比度的影响可忽略不计,所以公式(1)中没有几何修正系数?。

3.4答:象质计金属丝底片对比度公式

?D??0.434?G??d/?1?n?

提高对比度主要途径和由此带来的缺点:

(1)增大?值。在保证穿进力的前提下,尽量采用能量较低的射线,但这样会使曝光时间增加。

(2)增人G值。可选用G值更高的微粒胶片;由于非增感型胶片G值和黑度成正比,也可通过提高底片黑度增大G值。但高G值的微粒胶片感光速度往往较慢,需要增大曝光时间,提高黑度也需要增加曝光时间,此外,黑度的提高会增大最小可见对比度?Dmin.对灵敏度产生不利影响。

(3)提高?值。可选择焦点尺寸小的射源,或增大焦距,这样做也会使曝光时间延长。

3.5答:当射线穿过胶片时,会在乳剂层中激发出电子,这些电子具有一定动能,会向各个方向飞散,并能使途经的卤化银晶体感光,其结果是得试件轮廓或缺陷在底片上的影象产生一个黑度过渡区,造成影象模糊,这个过渡区称为固有不清晰度Ui.

3.6答:固有不清晰度Ui值受以下因素影响:

(1)射线的质。透照射线的光子能址越高,激发的电子在乳剂层中的行程就越长,固有不清晰度也就越大。

(2)增感屏。据文献报道:在中低能量射线照相中,使用铅增感屏的底片的固有不清晰度

大于不使用铅增感屏的底片;:增感屏厚度增加也会引起固有不清晰度增大;在Y射线和高能量x射线照相中,使用铜屏、钽屏、钨屏、钢屏的固有不清晰度均小于铅屏。

(3)屏------片贴紧程度。透照时,如暗盒内增感屏和胶片贴合不紧,会使固有不清晰度增大。为改善屏—片贴合情况,提出使用一种真空暗盒。

固有不清晰度与胶片的类型和粒度无关,与暗室处理条件无关。

3.7答:由于射线源具有一定尺寸。所以照相时工件轮廓或缺陷边缘都会在底片上产生半影。这个半影宽度便是几何不清晰度Ug,Ug的最大值Ugmax发生在远离胶片的工件表面。

Ug的计算式: Ug?dfb/?F?b?;Ugmax?dfL2/L1

式中:df:射源尺寸;F:焦距;b:缺陷至胶片距离:

L1:焦点至工件表面距离;L2: 工件表面至胶片距离。

由以上公式可知,Ug值与射源尺寸和缺陷位置或工件表面至胶片距离成正比;与射源至工件表面距离成反比。

3.8答:实际照相中,底片上不同部位影象的Ug值是不同的,但为了简化计算,便于应用,有关技术标准仅以透照中心部位的最大Ug值作为控制指标。对不同部位Ug值的变化忽略不计。底片上不同部位的Ug值变化规律如下:

(1)焦点尺寸变化引起Ug值变化:由于x射线管的结构原因,沿射线管轴向不同位置焦点投影尺寸是变化的。阳极侧焦点小,阴极侧焦点大。因此底片上偏向阳极一侧的Ug值小,偏向阴极一侧的Ug值大。

(2) L2/L1变化引起Ug值变化:透照纵缝时,被检区域各部位L2/L1不变,Ug值不变,而透照环缝时,被检区域各部位的L2/L1值都比中心部位要大,因此端部的Ug值也会增大。

3.9答:可简要归纳为以下几点:

(1)射线照相中。通常主要考虑的是几何不清晰度Ug和固有不清晰度Ui.两者共同作用形成总的不清晰度U,比较广泛应用的,表达U. Ug. Ui的关系式是

2U2?Ug?Ui2

(2)由于U是Ui和Ug的综合结果.提高清晰度效果显著的方法是设法减小Ug和Ui中较大的一个,而不是较小的一个。例如,当Ui值远小于Ug值时.再进一步减小Ui值。以期望减小U,其效果是不显著的。

(3)在X射线照相中,Ui值很小,影响照相清晰度的决定因素是Ug值。

(4)在Co60, Cs137及Ir192 Y射线照相中,Ui值较人,对照相清晰度有显著影响,为提高清晰度,宜尽量减小Ug,使之不超过Ui值。考虑提高对细小裂纹的检出率宜选择Ug?Ui的条件,必要时可取Ug=Ui/2的透照几何条件2

3.10答:底片影象是由许多形状大小不一的颗粒组成的,人们观察影象时在感觉上产生的不均一或不均匀的印象称为颗粒性,用仪器测定由各影象不均匀引起的透射光强变化,其测定 结果称为颗粒度。由于颗粒大小是随机分布的,所以颗粒度一般是采用均方根离差?来变量。日前较通用的方法是用直径24微米的扫描孔测定颗粒度。

肉眼所观察到的颗粒团实际上是许多颗粒交互重迭生成的影象。影象颗粒与胶片卤化银颗粒是不同的概念,影象颗粒大小取决于以下因素:1.胶片卤化银粒度,2.曝光光子能量,3.显影条件。

3.11答:在射线底片上能够辨认某一尺寸缺陷的最小黑度差称为最小可见对比度,又称识别界限对比度。当射找底片对比度?D大于识别界限对比度?min时.缺陷就能识别.反之则不能识别。最小可见对比度?Dmin与影象大小和黑度分布、底片颗粒度、黑度、观片条件以及人为差异等因素有关。

3.12答:探伤标准中规定底片黑度上下限是为了保证底片具有较高的对比度△D和较小的识别界限对比度△Dmin,从而得到较高的灵敏度。

非增感型胶片G值随黑度的增加而增大,G值增大,△D也会增大,因此,底片取较大的黑度可获得较高对比度△D,另一方面△Dmin在低黑度范围内大致不变,在高黑度范围内随黑度的增加而增大,为得到较小的识别界限对比度,△Dmin,又要控制底片黑度不能

过大,综合以上关系,黑度对△D及△Dmin的影响如图。由图可见,当黑度D过大或过小,都会使△Dmin>△D,使透度计影像不能识别,从而降低探伤灵敏度。

此外,底片黑度的上限值还受到观片灯亮度的影响,当透过底片光强超过100cd/m2,人眼的识别缺陷能力最强,透过光强低于30cd/m2时,识别能力显著下降。为保证足够的透过光强,受观片灯亮度限制,也必须规定底片黑度上限。

3.13 答:裂纹的自身特征参数有:(1)长度L;(2)走向X;(3)裂纹平面相对于射线束的倾角θ;(4)裂纹埋深h;(5)裂纹自身高度d;(6)裂纹开口宽度w。

对射线照相来说,影响裂纹检出灵敏度的关键参数是h、d、w。

3.14答:裂纹灵敏度通解公式:d?W=???dsin??Wcos??U?

式中:d:裂纹自身高度;W:裂纹开口宽度;d?W:裂纹体积(影响射线透过强度变化的因素);裂纹的形状系数(?=1或0.67,与Ui值有关);裂纹平面与射线的夹角;?:?:dsin?:裂纹白身高度在底片上投影尺寸;Wcos?:裂纹开口宽度在底片上的投影尺寸;U:总的22不清晰度U?g?Ui; ??

?X:可识别的阶梯块厚度差;与E=I tp???,?,n有关,

?1?1?X?0.014CSGD?0.014?1?n/?G?

3.15答:几何修正系数?是考虑在一定透照几何条件下,射源焦点尺寸会对小缺陷对比度产生影响而提出的,影响?的因素有①源至工件表面在距离L1;②工件至胶片距离L2;③焦点尺寸df;④缺陷宽度d或W;⑤缺陷截面形状。

21????d'??当d? <d时: ????1????2?d?????1/2?1??d'??1?d'?????sin??? ?d??d???

当d??d时 ??

裂纹的?计算公式 ??d'????1 4?d?

当d?<W时: ??1?1d'* 2W

?11?d'?当d??W时: ??*?? 2?W?

?可用于缺陷灵敏度的理论分析计算,也可用于透照时几何条件的选择,例如,在实际透照中,为保证小缺陷的对比度不受几何条件的影响,一般均采用d?/d

透照布置,由此可推算出应取的焦距值F:

已知d?/d?0.5, ??1的?0.5,则d??0.5d

又d?=df?L2/(L1+L2)

? df?L2/(L1+L2)?0.5d

则 F= L1+L2?2?df?L2/d

式中L1、L2、df见前所述,d为要求识别的金属丝直径。

而当源在外透照时,胶片贴在工件表面,此时胶片与内表面裂纹的距离b值最小,裂纹影象的几何不消晰度最小,对比度也最高,所以缺陷检出率高。

3.16答:采用源在外的透照方式比源在内的透照方式更有利于内壁表面裂纹的检出,这一说法是正确的,在实验和实际工作中均已得到验证,从理论上分析也是有道理的。源在内透照时,胶片贴在工件表面,由几何不清晰度公式Ug=df*b/F (F-b)可知,裂纹影象存在一定的几何不清晰度,此外,由于裂纹的开口尺寸W大大小于焦点尺寸df几何修正系数?大大

小于1,照相几何条件(焦距F,缺陷到胶片距离b)会对裂纹影像对比度产生影响,使对比度下降,从而是缺陷检出率降低。

而当源在外透照时,胶片贴在工件表面,此时胶片与内表面裂纹的距离b值最小,裂纹影象的几何不清晰度最小,对比度也最高,所以缺陷检出率高。

3.17答:象质计灵敏度是评价射线照相技术质量的一种手段。一般说来,象质计灵敏度越高,发现缺陷的能力越强,但象质计灵敏度和缺陷探测灵敏度之间不能划等号,后者的情况要复杂得多,是缺陷白身几何形状、吸收系数、位置及取向角度的复合函数。.虽然人们设计了各种型式的象质计,但到目前为止,还没有一种完美的象质计,能恰当反映出射线照相技术对各种白然缺陷的探测能力。

3.18答:(1)小缺陷。如果小缺陷的影象尺寸小于不清晰度尺寸,影象对比度小于最小可见对比度,便不能识别。因此对一定的透照条件,存在着一个可检出缺陷临界尺寸,小于临界尺寸的缺陷便不能检出。例如小气孔、夹渣、微裂纹、白点等。

(2)与照射方向不平行的平面型缺陷。平面型缺陷具有方向性,当缺陷平面与射线之间夹角过人,会使对比度降低,甚至在底片上不产生影象,从而造成漏检。例如坡口及层间未熔合,钢板分层的漏检以及透照工艺不当,?角过大造成横向裂纹漏检均属此类情况。

(3)闭合紧密的缺陷。对某些紧闭缺陷即使透照角度在允许范围内,仍不能产生足够的透照厚度差,从而造成漏检。例如紧闭的裂纹,未熔合,锻件中的折迭等。

4. 1答: 曝光因子是一个用来确定曝光参数的物理量,其形式为:

X射线曝光因子??管电流???时间?mA?min 距离cm2

?射线曝光因子??射源强度???时间?Ci?min 距离cm2

对同一台X射线机或同一个放射同位素来说,只要曝光因子值不变,照相的曝光最也就不变,摄得底片黑度必然相同。对射线强度、时间和距离三个参数,如果实际透照时需要改变一个或两个参数,便可用曝光因子计算其他参数,从而保证照相曝光量不变。

平方反比定律是指射线强度与距离的平方成反比的规律,其数学式为:

I1/I2??F1/F2? 2

原理是:近似认为射源是一个点,在其照射方向上任意立体角内取任意垂直截面,单位时间内通过的光量子总数是不变的,但是由于截面积与到射源的距离的平方成正比,所以单位面积的光量子密度,即射线强度与距离的平方成反比。

4.2答:互易定律是光化学反应的一条定律,该定律指出,决定光化学反应产物质量的条件,只与总曝光量相关,即取决于照度和时间的乘积,而与这两个因素的单独作用无关,由于它指出了时间和照度的互易关系,所以称为互易定律,如果与这一定律结论有偏离,则称互易定律失效。

如果不考虑光解银对感光乳剂显影的引发作用的差异,互易定律可引伸为显影黑度只与总的曝光量有关,而与照度和时间分别无关。

在射线照相中,当采用铅箔增感和无增感时,遵守互易定律。设产生一定显影黑度的曝光址E=I?t,当射线强度I和时间t相应变化时,只要两者乘积E值不变,底片黑度不变。

当采用荧光增感时,互易定律将会失效,I与t发生变化时,尽管I与t的乘积不变,底片黑度仍会改变。用公式描述保证底片黑度不变的前提下,曝光量E与射线强度、I、时间t的关系,其形式为E?I?t。(P? l)

互易定律是利用曝光因子公式和平方反比定律修正透照参数的基础,如果互易定律失效,则不能利用曝光因子和平方反比定律修正参数,这将使透照参数的选择复杂化。

4.3答:大多数焊缝在射线照相时都保留着焊缝余高,由于余高的存在,透过母材部分的射线要比透过焊缝部分的射线强得多,而且照射母材部分的X射线产生的散射要比照射焊缝部分的X射线产生的散射线强得多,这样,来自母材部分的散射线会与透过焊缝部分的X射线所产生的散射线叠加在一起,使照相质量降低。散射比与余高的变化关系是:余高宽度越窄,高度越大,散射比越大。

4.4答:(1)由于焊缝余高的存在,底片上焊缝部位黑度D1总是小于母材部位黑度D2,照相时应注意保证Dl、D2均在标准允许的黑度范围内。

(2)由于底片对比度△D随黑度D的增加而增大,而识别界限对比度△Dmin也随黑度D的增加而增大,因此透照有余高焊缝时,通过控制适当的焊缝部位黑度Dl和母材部位黑度P

D2,可使母材部位和焊缝部位能识别的透度计线径相等,此黑度称为余高焊缝透照的最佳黑度。

(3)底片对比度随射线有效能量的降低而增人,但另一方面,射线有效能量的降低会使焊缝部位的透射线I1与母材部位的透射线I2的比值大大减小,从而使母材部位的散射线对焊缝部位的影响更严重,其结果是降低了对比度,因此透照有余高焊缝时,焊缝部位的对比度不是单纯地随射线能量的降低而增大,而是在某一线质时,焊缝部位的底片对比度达到最大值。此线质称为余高焊缝透照的最佳线质。

4.5答:对余高磨平的焊缝透照,提高灵敏度的要点是尽量提高底片对比度和控制底片黑度。提高对比度的途径包括:

(l)选用?值更高的胶片:

(2)选用较低能量的射线:

(3)采用反差更高的显影配方;

(4)进一步减小散射线;

(5)选择最佳黑度。底片黑度同时影响底片对比度和最小可见对比度。试验证明,当黑度约为2.5时可识别的透度计线径最小,称为余高磨平焊缝透照的最佳黑度。因此,对余高磨平的焊缝最好选择黑度约为2.5的曝光参数。

4.6答:射线穿过物质时,与物质发生各种相互作用,其结果是除了一部分直接前进的透射线外,还有向各个方向射出的散乱射线以及光电子,反跳电子等。光电子和反跳电子穿透力极弱,大多数被物体自身吸收,即使射到物体外,也很容易被空气吸收,对探伤质量不产生影响.散乱射线中的一部分是由光电效应引发的荧光X射线能量,这部分射线能量远小于透射线,例如,铁的K?日荧光射线约7Kev,很容易被物体和增感屏吸收,对探伤质量也不产生什么影响。因此影响探伤质量的散射线主要是由康普顿效应和瑞利散射产生的,在射线能量很低(小于200KeV)范围内,散射线由康普顿效应和瑞利散射共同产生,在射线能量较高范围内,散射线主要由康普顿效应产生。

4.7答:受射线照射的各种物体都会成为散射源,但强度最大,对探伤质量影响最大的散射源是试件本身。

散射线一股按散射方向分类,来自胶片暗盒正面(射源方向)的散射称为“前散射”或

“正向散射”,来自胶片暗盒后面的散射称为“背散射”。来自侧面的由试件周围向试件背后或试件中较薄部位向较厚部位的散射称为“边蚀散射”。

4.8答:(1)使用铅箔增感屏,吸收部分前散射线和背散射线。

(2)暗盒后衬铅板,进一步减少背散射。

(3)使用铅罩和铅光阑,限制照射范围,减少散射源。

(4)采用铅遮板或钡泥屏蔽试件边缘,减少“边蚀”效应。

(5)用流质吸收剂或金属粉末对形状不规则及厚度差较大的试件进行厚度补偿,以减少较薄部分散射线对较厚部分的影响。

(6)采用滤板去除射线中线质较软的部分,减少边蚀效应。

(7)减小或去除焊缝余高,降低焊缝部位散射比。

4.9答:小口径管焊缝射线照相采用双壁双影法透照,对缺陷检出的不利因素和改进措施有以下几点:

(1)双壁双影透照时,由于射源侧焊缝比胶片侧焊缝离开胶片的距离相差一个管子直径,故射线源尺寸的影响较大,使几何不清晰度增加,小缺陷对比度降低,为减小射线源尺寸对几何不清晰度和对比度的影响,可选择焦点尺寸小射线源,适当增大焦距。

(2)透照小口径管时射线的穿透厚度自中心向两端变化很大,易导致底片上中心部位黑度过大,边缘部位黑度过小,为减少被检区域不同部位的黑度差,易适当提高射线能量,采用“高电压,短时间”的透照工艺。

(3)由于管子直径较小,散射线引起的“边蚀”效应比较严重。相应的措施是在射线机窗口处加滤板。或采用铅罩屏蔽焊缝以外部分,以减少“边蚀”。

(4)双壁双影透照时焊缝被倾斜投影到胶片上,缺陷影象会发生畸变。为减少畸变,应控制透照角度和椭圆开口间距,间距一般为3—10mm,最大不超过15mm.。

4.10答:从提高象质计灵敏度,减小透照厚度比K和横向裂纹检出角?以及保证一次透照长度L3等方面评价,几种透照方法比较如下:单壁透照优于双壁透照:双壁单影优于双壁双影;焊缝单壁透照时,源在内中心法优于源在内偏心法,源在内偏心法优于源在外。

4.11答:(l)适用的射线能量范围主要根据试件的材质和厚度确定,以保证能穿透试件为射线

能量的下限,以保证足够的灵敏度为射线能量的上限。

(2)具体管电压数值主要根据底片对比度要求而确定,当被检区城厚度变化较小时,需增大对比度,应采用较低管电压,当被检区域厚度变化较大时,需兼顾宽容度,适当降低对比度,应采用较高管电压。

(3)射线能量不仅影响底片对比度,而且影响固有不清晰度和散射比,这些都应在选择射线能量时加以考虑。

4.12答:(1)焦距的选择应满足几何不清晰度的要求。

(2)焦距的选择还应保证在满足透照厚度比K的条件下,有足够大的一次透照长度L3。

(3)为减少因照射场内射线强度不均匀对照相质量的影响,焦距取大一些为好。

(4)由于射线强度与距离平方成反比,焦距的增加必然使曝光时间大大延长,因此,焦距也不能过大。

4.13答:不计入余高。计算公式中的Do取筒体外径即可。

因为在工件上划线时,一般是在筒体上测量一次透照长度,且筒体直径远远大于焊缝余高值,忽略余高对实际工作不产生影响,为使计算结果一致,统一作出规定不计入余高是比较适宜的。

4.14答:应考虑焊缝余高。计算搭接长度△L时,公式中的L2应为板厚T与焊缝余高△h之和,忽略余高△h将产生较大误差,所以是不合适的。

4.15答:为保证计算结果一致,统一规定计入一个焊缝余高,即L2=Do+△h式中Do为管子外径,△h为焊缝余高。

4.16答:应计入焊缝余高,对单面焊L2=T+△h,对双面焊L2=T+2△h,对小径管环焊缝双壁双影透照L2=Do+2△h.

4.17答:曝光曲线的固定条件有①X射线机,②焦距,③胶片型号,④增感方式,⑤暗室处理条件,⑥基准黑度,⑦试件材质。曝光曲线的变化参量有:穿透厚度,曝光量,管电压。

4.18答:两个标准对Ug的规定是一定的,即

21/3L2 15

11/3 AB级:L1=10df? L22/3; Ug=L2 1011/32/3L2 B级:L1=15df? L2; Ug=15 A级:L1=7.5 df?L22/3; Ug=

5.1答:显影液的主要成份及作用:

显影剂一米吐尔+对苯二酚或菲尼酮+对苯二酚。将感江的卤化银还原成金属银。 保护剂一亚硫酸钠。阻止显影剂与氧发生作用,使其不被氧化。

促进剂一碳酸钠、硼砂、氢氧化钠。增强显影剂的显影能力和速度。

抑制剂一溴化钾、苯并三氮锉。抑制灰雾的产生。

5。2答:定影液的主要成份及作用如下:

定影剂一硫代硫酸钠或硫代硫酸铵。与银离子反应,生成可溶于水的络合物,从而把卤化银从胶片的乳剂层中除去。

保护剂一亚硫酸钠。保护定影剂,防止其在酸性溶液中发生分解析出硫而失效。

坚膜剂一硫酸铝钾或硫酸铬钾。减少胶片乳剂层吸水膨胀变软的程度,减少划伤和药膜脱落。

酸性剂一模酸和硼酸。中和胶片带来的碱性物质并防止坚膜剂水解。

7.1答:不同种类的射线(x、?、中子、电子、?、?等),不同类型的照射(内照射、外照射)即使吸收剂量相同.所产生的生物损伤程度也是不同的,为统一衡量评价不同种类射线在不同照射条件下对生物引起的危害,引入了剂量这一物理概念。

剂量当量H是吸收剂量D与品质因素Q及其他修正因素N之乘积,即H=DQN. 剂量当量的国际单位是希沃特(Sv),专用单位是雷姆(rem),1希沃特=l焦耳/千克,1希沃特=l00雷姆。

对X射线和?射线,就防护而言,Q与N值均为1,所以可以认为吸收剂量和剂量当

量在数值上是相等的,即l希沃特=l戈瑞,l雷姆=1拉德。

7.2答:场所辐射监测是一种预防性测量,通过测量工作场所和环境的照射率或剂量率,可以预先估计出处于场所的人员在特定时间内将要受到的照射量和吸收剂量,从而能告诫有关人员尽可能避开危险区域,指出允许工作时间,并对改善防护条件提供有价值的资料。

个人剂量监测是一种控制性测}k,通过测量被射线照射人的局部或整体的累积量,从而告诉工作人员到某一时刻以前所受到的照射址或吸收剂量,注意以后的照射量。如果被照射人受到超剂量照射,个人剂量监测不仅有助于分析超剂量的原因,还可以为射线病的治疗提供有价值的数据。.

7.3答:有固态电离辐射仪和气态电离辐射仪,前者包括电导率探测器,闪烁探测器等,后者包括电离室剂杖仪的计数管式剂量仪等。

7.4答:有胶片剂量计,电离室式剂量笔,荧光玻璃剂量计,热释光剂量计等。

7.5答:射线防护的三大方法是时间防护,距离防护和屏蔽防护,其原理如下:

时间防护的原理是:在辐射场内的人员所受辐射的累积剂量与时间成正比,因此, 在辐射率不变的情况下,缩短辐射时间便可减少所接受的剂量,从而达到防护目的。

距离防护的原理是:在源辐射强度一定的情况下,剂量率或照射量与离源的距离平方成反比,增大距离便可减少剂量率或照射量,从而达到防护目的。

屏蔽防护的原理是:射线穿透物质时强度会减弱,在人与辐射源之间设置足够的屏蔽物,便可降低辐照水平,达到防护目的。

7.6答:我国辐射防护标准GB4792-84“放射卫生防护基本标准”对于放射性工作人员的剂量当量限值的规定为: 年剂量当量限值,全身均匀外照射50mSv/年、眼晶体150mSv/年、其他单个器官或组织500mSv/年、特殊照射:一次不大于l00mSv,一生中不大于 250mSv。应急照射:一次不大于250mSv

在射线防护计算中,一般按全身均匀外照射取剂量当量限值,即50mSv/年,以此可换算出月、周、日、时的剂觉当量限值,月剂杖当址限值为50/ 12=4.16mSv/月;周剂量当量限值为50/50=1mSv/周;日剂量当星限值为1/6=16.7uS v/日;每小时剂量当量限值为

16.7/8=2.1uSv/时。

8. 1答:根据中子在某些较重元素中衰减较小,而在某些较轻元素中衰减较大的特点,中子照相在以下领域得到应用:航空航天,爆炸装置,粘结结构,核控制材料和核燃料检验、腐蚀检测、残留水和氢脆化部位的探测。具体的实例包括:蜡模铸造的汽轮机叶片、金属组件腐蚀情况,蜂窝结构的枯接质量、金属组件中的炸药,阀门中的密封橡胶圈等。

8.2答:高能射线照相的优点有:

(l)穿透力强,对钢的穿透厚度可达400mm以上:

(2)射线强度大,曝光时间短:

(3)散射线少,对比度好,灵敏度高;

(4)焦点小,几何不清晰度小:

(5)宽容度大,适用于大厚度差试件照相。

8.3答:实时射线照相的优点有:

①快速高效,可实现在线检测,即时得到检验结果:

②图象经数字化处理具有足够高的灵敏度,且贮存方便:

③容易实现检测自动化。

9.1答:锅炉压力容器无损检测量管理的内容应包括:

①人员管理,包括射线检测人员的资格取证、培训考核、人员技术档案和健康档案的记录与管理等;

②设备和器材管理,包括设备和器材的采购与验收,设备的定期检定、设备档案管理、设备的使用、维护、保养等:

③工艺管理,包括无损检测,工艺规程的编制和修订,工艺卡的建立、工艺执行情况的检查等:

④制度管理.对无损检测所有工作内容在质量方面作出具体规定文件,包括工作程序、要求、见证与检察监督、人员、设备器材、工艺管理的分项制度等。

9.2 答:无损检测新工艺和新技术在生产应用之前,必须先进行工艺 鉴定,是为了保证检测结果的可靠性和有效性。通过鉴定,评价新工艺和新技术本身是否科学与先进,对检测对

象是否适用,检测结果是否可靠、工艺文件是否齐全,方法标准和验收标准是否确定,是否符合有关法规的要求等。新技术、新工艺应用的一般程序是,新技术和新工艺的开发、试验研究—企业管理部门批准试用——技术和工艺经应用验证先进可靠,工艺文件和标准编制齐全、申请鉴定——企业上报管理部门组织鉴定,确认和批准——正式投入使用。

四.计算题

﹡1.1 Co60的衰变常数为0.131/年,求他的半衰期? (5.3年)

﹡1.2 已知Ir192半衰期为75天,试计算它的衰变常数为多少? (0.00924/年)

﹡1.3 Cs137(半衰期为33年)γ射线源用了16年以后,放射性强度还剩原来的百分之几?

(71.5%)

﹡1.4 求管电压为250KVrX射线机和能量为4MeV的直线加速器辐射连续X射线的效率(设

靶材均为钨Z=74,比例系数η0=1.2*10-6)。 (2.22%;35.52%)

﹡1.5 已知Co60γ源辐射两种能量的光子,一种是1.17MeV,另一种是1.33MeV,求它们

的波长分别是多少(A)?(计算到有效数字第三位,第四位四舍五入)(0.011A;0.009A)

﹡1.6 当X射线管的管电压为150KV时,产生的X射线的最短波长为多少?假如连续X射

线最大强度所对应的波长为最短波长的1.5倍,求最大强度处的光子能量为多少? (0.0827A;100KeV) ﹡1.7 能量为250KV的单色射线在钢中的线衰减系数为0.8cm-1,该射线钢的半价层是多

少? (0.866cm)

﹡﹡1.8用光子能量为1.25MeV的平行窄束γ射线,垂直贯穿铝板,要使贯穿后射线强度为

入射线强度的1/20,求铝板的厚度为多少? (?

﹡﹡1.9用光子能量为100KeV的平行,窄束X射线垂直贯穿30MM厚铝板,已知该射线在铝0000=0.15cm-1)(19.97cm)

铝中的半价层为1.2CM,求穿透射线强度与入射线强度之比?

(0.177)

﹡﹡1.10 单色平行宽束入射射线的照射率为30伦/分,贯穿30毫米工件后的照射率为16

伦/分,已知工件材料射线的吸收系数为0.693cm-1求散射比n和散乱射线照射率各为多少?

(3.26;12.24伦/分)

﹡﹡﹡1.11 透过厚铝板后的平行窄束X射线强度为400mR/h,在此铝板上另加20mm厚的铝

板,则透射线强度为200mR/h,如再加10mm厚的铝板;则透射线强度为多少? (141.1mR/h)

﹡﹡﹡1.12 在图示连续X射线中,设有两波长λ

已知λ

λBA和λB,其含λA、λB的射线强度相等,A和λB对铝的射线衰减系减分别为0.25和0.60cm-1, 为使含λA的射线强度为含和射线强度的5倍,应使射线透过多厚的铝板? (46mm)

1

A题1.12图B

﹡﹡1.13透过厚钢板后的平行窄束X射线再透过屏蔽好的12mm厚的钢板.若透射线照射率

为进过12mm钢板前的1/16.则对该x射线的半价层和吸收系数各为多少? (3mm;

2.31cm-1)

﹡﹡﹡1.14在离X射线管焦点2m处。测出透过衰减系数为1.2cm-1的钢板后的窄束x射线

照射率为1. 2R/h,为使离焦点4m处的照射率变为5OmR/h,问在此钢板上还应附加多厚的钢板?又钢板对此X射线的半价层为多少? (14.9mm;

5.8mm )

﹡﹡﹡﹡1.15用某一线质的X射纹测得Al和Cu的线吸收系数分别为0.24和1. 7cm-1,己

知A1、Cu及合金的密度分别为2.70、2.93g/cm2.试求用重量百分率表示的A190%.

Cu10%的合金对此X射线的线吸收系数。 (0.29cm-1)

﹡﹡1.16设有一辐射单一波长γ射线的同位素源,某时在离射源200cm处测得其照射率。

14天后同一时刻在离射源192cm处测出其照射率与前同.问此射源半衰期为多少?

(119天)

﹡﹡1.17某射线源,铅的半价层3mm,问铅的1/10价层和1/20价层分别为多少? (10mm.

13mm)

﹡﹡1.18用X射线透照母材厚度30mm.,焊缝余高4mm的试件,若射线线质不因厚度而异,

吸收系数均为0.693cm-1。求半价层厚度和射线贯穿工件后.母材部位和焊缝部位的射线

强度之比。(己知X射线的散射比对于母材和焊缝分别为2.5和3) (l0mm, 1.15)

﹡﹡﹡﹡1.19如果入射光子的波长为0.1,试计算康普顿散射中,散射光子与入射光子夹角

为30度时,散射光子的波长和能量各为多少? (0.1032 ;

120KV )

﹡﹡﹡1.20平行的连续X射线贯穿15mm钢板,强度减弱为1/16,假设此后再贯穿16mm钢

板,强度减弱到最初强度的1/128求此射线在前15mm的平均吸收系数和半价层厚度为

多少?在444后16mm内的吸收系数和半价层又为多少? (0. 185m-1;3.75m;0. 13m-1,

5. 33m)

﹡1.21标准X射线源用金属的半价层来标定,已知第一标准源和第二种标准源的半价层分

别为厚lmm和3.5mm的铜,求两种标准源在铜中的衰减系数? (0.693mm-1;0.

198mm,)

﹡﹡﹡1.22透照图示钢焊缝时,假定射线线质不随穿透试件厚度而变化,透过母材到达胶片

上A点的照射量(包括直接透射线和散射线)是透过焊缝区到达胶片上B点照射量的2. 4

倍,则焊缝区(B点)的散射比n为多少?母材区(A点)散射照射量是焊缝区(B点)散射线

照射量的几倍?(设A点的散射比n为1.4,试件对x射线的半价层为1. 5mm) (3;1.9) 15

AB18

题1.22图

﹡﹡1.23用某一电压的x射线穿进某种材质的板,得到如图所示的吸收曲线(衰减曲线)。纵

轴表示x射线强度的常用对数。曲线1是用窄束x射线作出的,不包含散射线,是直接透射吸收曲线:曲线2是相当于某一透照布置的宽束x射线吸收曲线。试按图求出以下各参数。

﹡﹡(1)半价层(第一半价层)是多少? (0. 35cm) ﹡﹡(2)透过厚3cm板时的平均线吸收系数?是多少? (1.3cm-1)

﹡﹡﹡(3)透过厚3cm板后x射线相对一定薄层的线吸收系数

(0.92cm-1 )

﹡﹡﹡(4)穿透厚度为1cm和3cm处的散射比是多少?(0.9955;2.98)

logI

1.0

0.8

0.6

?是多少? T?cm?

题1.23图

﹡﹡2.1己知x射线管中钨靶相对射线束中心倾斜20,靶被电子轰击范围为8?3毫米,求

该X射线管的有效焦点尺寸。 o

﹡﹡﹡﹡2.2已知射线中心的有效焦点尺寸为3*3mm,射线照相的有效照射场范围大致为±

15o,问有效照射场中阴极侧和阳极侧的焦点投影尺寸各为多少?

(5.3933mm;0.79133mm)

阴极侧题2.

2图阳极侧题2.3图

o ﹡﹡﹡﹡2.3 平靶周向X射线机,主射线束偏斜角为12.5,此方向上有效焦点尺寸为13

4.5mm,问在5方向上焦点投影尺寸是多少? (0.434.5mm)

﹡﹡2.4 X射线机所形成的X射线以40的圆锥向外辐射,而射线强度变化不超过20%的均

匀辐照场,其锥顶角为30,如果胶片长为360mm,为了保证胶片在均匀辐射场内,试计算焦距至少应为多少? (672mm)

﹡﹡﹡﹡2.5 采用针孔法测量焦点尺寸,已知针孔直径为0.2毫米,焦点至针孔距离800毫

米,针孔至胶片距离400毫米,拍摄出焦点影象为Φ2.3毫米,求该X射线管的有效焦点尺寸。(4mm)

﹡2.6 使用同一观片灯,黑度差为0.9的两个部位,透过可见光强度相差几倍? (7.94倍)

﹡2.7 透过X射线底片的光强要求不低于30cd/m2,如所观察的底片最大黑度为2.7,问观光

灯光强至少应为多少? (15036cd/m2) ooo

﹡﹡2.8 已知某品牌III型胶片感光速度为250,V型胶片感光速度为100,问达到相同黑度

(D=2.0),后者所需暴光量大约为前进几倍? (2.5倍)

﹡﹡﹡﹡2.9 有A、B两种不同类型的胶片,经完全相同条件曝光后,得到的底片黑度分别

为2.7和1.2。若忽略照相灰雾,这两种胶片的黑度1.0-3.0的范围内。γ值可视为常数,

γA=2,γB=3,求黑度1.5时,两种胶片的感光速度之比。 (5.01)

﹡﹡2.10 已知胶片平均梯度G为3.5,照相时暴光10毫安?分,底片黑度为1.6,现欲使底

片黑度达到2.5.问曝光量应增加到多少? (18mA?min)

﹡﹡2.11设曝光量增大到2.5倍,底片黑度增大1,则底片的反差系数为多少?若用同样照度

的观光灯观片时.黑度差为1的两个部位,黑度较小的与黑度较大的相比.透过的可见光

强度大多少倍?为使透过的可见强度相等,应将观光片亮度提高多少倍来观察黑度最大

部分 (2.51,10倍)

﹡﹡2.12欲使底片黑度达到1.5,用铅箔增感需曝光4分钟,用荧光增感需曝光40秒,不用

增感材料需曝光6分钟求铅增感屏的增感系数。 (1.5,90)

﹡﹡2.13 用同种胶片在相同条件下曝光,无增感时,曝光8分钟,底片黑度为1.2;有增

感时,曝光2 分钟,底片黑度为1.5。设胶片无增感时,在黑度为1.0到1.5范围内,

反差系数值视为常数,且=3。求此增感屏在黑度1.5时的增感系数K。

﹡﹡2.14 透照某工件时,底片显示GB透度计8号金属丝正好达到2%的相对灵敏度,为了

达到1.5%的相对灵敏度,则需要几号金属丝。(0.4mm,第10号金属丝)

﹡﹡2.15 透照板厚40mm的双面焊缝,可见0.63mm直径的钢丝,求照相灵敏度是多少?

(1.43%)

﹡﹡2.16对某平板工件进行透照拍片时,测得有缺陷部位的照射率比无缺陷部位的照射率高

30%,假设在底片黑度范围内胶片的γ值为3,求有缺陷部位与无缺部位的黑度差?

(0.34)

﹡﹡2.17 用单一波长的X射线,对两片厚度分别为30mm和25mm的工件同时照射,曝光

时间相同,材料的吸光系数都为1.368cm-1,经暗室处理后,对应的照射底片黑度分别为

2和3,求在此黑度范围内,胶片的反差系数γ值为多少? (3.3)

﹡﹡﹡2.18 用Ir192射线透照厚度有变化的钢试件,将摄得的底片放在观光灯上,用照度计

紧贴测定透光强,厚度20mm部分(黑度D1)为551x, 厚度31mm部分(黑度D2)

为1651x,求该胶片在D1,D2之间的平均梯度G。(设厚度20mm部分的散射比n1为2,

厚度为31mm部分的散射比n2为3,又对试件Ir192,γ射线的半价层为11mm)。 (2.7)

﹡3.1用?3?3mm Ir192源内透中心法透照内径1200mm壁厚38mm的容器对接双面焊环焊

缝,求Ug。 (0.21mm)

﹡3.2用?4 ?4mm 1r92源内透照 50mm厚的A面焊对接焊缝。欲使Ug≤0.2mm.,求射源

至胶片最小距离?(1134mm)

﹡﹡3.3透照板厚为40mm的双面焊对接焊缝,焦距600mmX射线机焦点尺寸2?2mm,照相

几何不清晰度Ug为多少?如透照管电压为300KV,又己知固有不清晰度Ui与管电压千

伏值V的关系式为Ui=0.0013V0.79试计算固有不清晰度Ui值.并计算出总的不清晰度U 值

为多少?(0.158mm;0. 118mm;0.20mm )

﹡﹡3.4透照无加强高的焊缝时,气孔部分的透射线比无气孔部分的透射线总强度(包括了

散射线强度)增大了50%,若底片黑度范围内的胶片?值为3.5,求气孔和无气孔部位的射线照相对比度。(0.616)

﹡﹡3.5从射线服相底片上测得缺陷处的黑度为3.5,无缺陷处的黑度为3,己知

n=2,?=3cm?1.在1到4的然度范围内? =4,忽略缺陷对射线的吸收,求缺陷的高度为多少?

(0.282cm )

﹡﹡﹡3.6透照厚度为18mm的钢焊缝,有气孔和无气孔部位的底片黑度分别为1. 1和1.0.

若延长曝光时间后,无气孔部位的底片黑度增大到1.4,问此时有气孔部位的底片黑度为多少?(设黑度0.5-2.5范围内,胶片反差系数?与黑度D成正比增加。 (1.54)

﹡﹡3.7板厚20m。的试件上有一条线切割槽,宽0.2mm,深2mm,第一次采用垂直透照,射

线与线切割栖槽高度方向平行.所得底片上的影象△D1=0.18,第二次采用倾斜透照,射线与梢高度方向夹角为10?,求第二次透照线切剂拍的影象对比度△D2?(假设焦点尺寸对照相对比度无影响.两次透照射线能量相同.胶片相同,底片黑度相同,散射比无变化)

(0.1035)

﹡﹡3.8透照板厚34mm的双面焊对接焊缝.射源尺寸为2?2mm,焦距600mm,透照管电压

280KV,试计算.(1)透度计放射源侧时的形象几何不清晰度和总的不清晰度。(2)透度计放胶片侧时的影象几何不清晰度和总的不清晰度(设固有不清晰度Ui与管电压千伏值V的关系为Ui=0.0013V0.79透度计放胶片侧时,设透度计至胶片距离L2=1mm)

(0. 135mm :0. 175mm: 0. 034mm: 0. l l lmm )

﹡﹡﹡﹡3.9假定射线线质不因试件厚度而变化.试件对使用X射线的半价层为2mm,且黑度

D与胶片?在黑度0.5-3.5.内成正比关系,焦点尺寸很小,其影响可忽略不计(所用胶片特性曲线如下图所示)。今透照板厚20mm,余高3mm的钢焊缝,底片上母材区黑度为

2.5.焊缝中心黑度为1.5。若将该试件焊缝余高磨平,仍按同一条件摄片.则此时透度计

金属丝在焊缝中心的对比度是余高层磨平前的多少倍(求到小数点以后1位)?(2.6倍)

﹡﹡﹡3.10单面焊缝中有根部未熔合及坡口未熔合缺陷各一处.如图所示,已知两未熔合高

度均为1.5mm,宽度均为0. 2mm,射线垂直透照时,两缺陷影象对比度相差多少倍.(几何条件对服相对比度影响、焊缝余高的影响均忽略不计;坡口与射线夹角为35度) (4.3倍)

D

2.51.762.02

题3.10图

﹡﹡﹡﹡3.11透照钢焊缝时,在母材与焊缝处所得底片黑度分别为2.5与1.5,已知在母材和焊缝处的散射比分别为2和4,假定射线的线质不因厚度而变化,底片黑度在1至多的范围内.照度与胶片的对比度?值成正比。试计算放在母材与焊缝处的同直径金属丝透度计所产生的底片对比度之比△D母材/ △D焊缝为多少? (2.78)

﹡﹡﹡﹡3.12对厚度为20mm的平板工件进行透照拍片时,在底片上得到有缺陷部位和无缺陷部位的黑度分别为2.6与2.2。己知射线在工件中的半价层为0.4cm,散射比为2.5,胶片在黑度2与3处的?值分别为2.6与3.8.在黑度0.5-3.5的范围内?与黑度成线性关系,求缺陷的高度是多少? (6.2mm)

﹡﹡﹡3.13对某平板工件进行透照拍片时,测得有缺陷部位和无缺陷部位的剂量率分别为205毫伦/分和200毫伦/分,假设缺陷对射线的吸收忽略不计,散射比为2。材料对射线的吸收系数?=2cm',求缺陷的高度?(0. 037cm)

﹡﹡﹡﹡3.14透照某厚工件时,散射比为1.9,在底片上可认别的最细金属丝直径为0. 4mm。若x射线机、管电压、管电流、焦距、胶片、增感屏等条件均不变。而减弱散射线后仍能获

得相同的底片黑计,问此时散射比变为多少才能识别直径0.32mm的金属丝(设金属丝直径在0.1-0.4mm范围内△Dmin =c?d

﹡﹡﹡3.15透照厚工件时.散射比为1.4,在底片I上可识别直径为0.25mm的最细金属丝.减小散射比为0.5后再透照,仍获得相同黑度的底片II.已知金属丝直径在0.1-0.4范围内, △Dmin=c?d?2

3?23且焦点尺寸影响可忽略不计.) (1) 且焦点尺寸可忽略,并设X射线机、管电压、管电流、焦距、胶片,增感屏

等条件均不变.问:

﹡﹡(1)底片II的曝光时间为底片I的多少倍? (1.6倍) ﹡﹡(2)同一直径的金属丝在这两张底片上的对比度之比为多少? (1.6) ﹡﹡﹡﹡(3)在底片II上可识别的最细金属丝直径为多少? (0.2mm)

﹡﹡﹡﹡3.16已知直径为0.5mm和0.7mm的气孔的识别界限对比度分别为0.07与0.05.其它条件不变。如果透照钢板时所得的识别界限为直径0. 7mm的气孔.采用屏蔽措施将散射线的影响减少可以识别0.5mm的气孔,问采用屏蔽措施以后,0. 7mm气孔的底片对比度是采取屏蔽拈施之前对比度的多少倍? (1.96倍)

﹡﹡﹡﹡3.17透照壁厚20mm,余高4mm的钢焊缝时,母材区黑度为2.8.焊缝中心黑度为

1.8。若射线线质不因穿透厚度而异,试件对使用射线的半价层为2.5mm.母材区散射比为2.0,问焊缝中心的散射比为多少?若黑度D与胶片梯度G在黑度0.5-3.5范围内成正比,则母材区象质计金属丝的影像对比度是焊缝中心同一线径金属丝影象对比度的几倍?(已知胶片的特性曲线:lg

﹡﹡﹡﹡3.18透照余高磨平,厚度为50mm的平板焊缝,底片上无缺陷部分的黑度为2.39,缺陷部位的最高黑度为2.61。假定该焊缝中的缺陷是气孔,求在透照方向上的最大尺寸.(己知胶片黑度2和3时的梯度G值分别为2.6和3.8,X射线入射焊缝前和透过焊缝后的衰减μ分别为3.1cm-1和1.7cm-1,又散射比n为2.5,黑度D与G在黑度1.0-3.5范围内成线性关系) (3.3mm)

﹡﹡﹡﹡3.19透照某焊缝时,在底片上发现直径为0.4mm的像质计金属丝,为能发现直径ED2=2.06; lgED1.8=1.85) (4.61;2.9)

为0.2mm的金属丝,底片对比度应为原来的几倍?(设直径为0.4mm和0.2mm金属丝的最小可见对比度?Dmin分别为0.02和0.03,又黑度和透照布置与摄片条件均不变,焦点尺寸影像忽略不计)。 (3倍)

﹡﹡﹡﹡3.20 将像质计放在厚试件上用t1分的曝光时间透照时,直径d1的金属丝在底片的影像对比度为?D1,然后用铅光阑和屏蔽板减少散射线做第二次透照,为得到同黑度的底片,需要t2分的曝光时间。此时,若同一直径金属丝的影像对比度为?D2,试证明下列关系:

?D2t2? ?D1t1

﹡﹡﹡﹡3.21用焦点5mm,400kVX射线,焦距1000mm,透照TA=50mm钢焊缝,得底片黑度1.8。求象质计灵敏度(?min)的理论值。(已知GD?2.64D0.83,

?Dmin?0.01,n?3.8,??0.8cm?1) (0.44mm)

﹡﹡﹡﹡3.22用焦点4mm、300KVx射线、焦距800mm透照TA=25mm钢焊缝,得像质计丝灵敏度S=1. 0%TA,若要检出的裂纹深度为20%TA,宽为0.05mm,求该裂纹最大可检角的理论值。(10. 16?)

﹡﹡﹡﹡3.23用焦点4mm, 300KV管电压、焦距800mm透照厚度50mm的钢焊缝,为在?=0?时可时检出最小深度4mm,最大开口宽为0.05mm.的裂纹.问象质计灵敏度的理论绝对?min值应为多少? (0. 79m)

﹡﹡﹡﹡3.24用焦点4mm、 400KVx射线、焦距 1000mm透射TA=50mm钢焊缝,得黑度

1.8,求象质计丝灵敏度中?min和?=00时裂纹灵敏度(d. W)的理论值。若裂纹最大开口宽0.040mm ,则最小可检裂纹深度为多少?己知?=0.8cm-1 , n=3.8, G1.8=4.3, △Dmin=O. 1

(2. 79m) ﹡﹡﹡﹡3.25两种标准有关RT参数规定值如下.试定从比较RT裂纹灵敏度(%)的高

低(设自然裂纹最大开口宽0.04mm, Ta=20mm).

﹡﹡﹡3.26已知焦点尺寸为4mm,焦距500mm透照厚度60mm,问该透照条件下? 0.4mm的象质计金属的影象对比度修正系数? p是多少?开口宽度W=0.2mm的表面裂纹的影象对比度修正系数? a是多少?又问若焦距增大至1000mm,裂纹裂纹的影象能提高多少?( 0.654,0.208, 0.416 )

﹡﹡﹡3.27焦点尺寸为9200mm、壁厚34mm的在用球罐进行射线照相,X射线机焦点尺寸为3mm焦距600mm,对于内表面焊缝上开口宽度0.1mm的裂纹,采用源在内和源在外两种透照方法分别照相,问哪一种方法较好,两种方式的裂纹对比度相差多少?(3.7倍)

21

﹡﹡4.1 gb3328-87标准关于照相机几何不清晰度Ug值的规定如下:A级Ug〈L23;AB15

1111L23;B级Ug?L23 已知射源尺寸为2*2mm,试计算板厚为24mm的双面级Ug?1015

焊对焊缝AD级和B级照相允许的最大Ug值,以及相应的最小焦距F。

(0.304mm; 212mm,0.202mm 306mm)

﹡﹡4.2在离Co60射源1米处测得照射率为18伦/时,在此位置放胶片对TA=20毫米的工

件进行透照拍片,己知该射线在工件中的半价层为10毫米,为了在胶片上获得适当黑度而

需要250毫伦的照射量,求每张胶片的曝光时间为多少?(3.33分)

﹡﹡4.3测得离Ir192源1米处的服射率为6伦/时,用此射源透照距源500毫米,厚度为2

厘米的工件,为了在胶片上获得2的黑度需要600毫伦的照射量,计算需曝光多少分钟?

(

﹡﹡4.4用240KV管电压.焦距800mm对厚20mm 工件进行透照.选用天津III型胶片,铅箔

增感,管电流5mA.曝光时间4分钟,底片黑度为2.若焦距改为600mm.管电流仍为5mA.欲

使底片黑度不变,曝光时间应为多少?(2.25分)

﹡﹡4.5透照某一工件,焦距为600mm.管电流为5mA.曝光时间3分钟,底片黑度为1.5.为

了减小几何不清晰度,将焦距改为8mm.管电流为4mA,其它条件不变,底片黑度要达到2.0.

假设黑度由1.5提高到2.0时,曝光量必须加30%.那么.曝光时间应该是多少?(8.67分)

﹡﹡4.6使用Ir192拍片.焦YE为800毫米.曝光20分钟.底片黑度2.5。50天后对同-工件拍

片,选用焦距1000毫米,欲使底片达到同样黑度需曝光多少时间? (49.6分)

﹡﹡4.7用某胶片透照厚度为30mm的钢板,该胶片的值为33。查曝光曲线需曝光量10

毫安分,该曲线制作条件是F=600mm, D=1.5,今改为F=1000mm,要求D=2.5。需要多

少曝光量?(55.8mA?min)

﹡﹡4.8在透照厚度为12毫米的钢板时,所用焦距为600毫米,曝光时间为4分钟,管电流

为10毫安。现透照8毫米厚的钢饭,管电流为5毫安,时间为3.5分钟,为达到相同黑度,

则应采用焦距为多少毫米?(己知半价层厚度为4毫米) (561mm)

﹡﹡4.9对厚40毫米的钢进行透照,胶片距射源1米,已知射线在钢中的半价层为1cm,散

射比为3.距射源0.5米处的照射率为4伦/分.要使胶片得到合适的曝光需要照射量500毫伦.

试计算应曝光多少分钟?(2分) ? =0. 693cm-1,n=2) (2分钟)

﹡﹡4.10原用焦距500mm.管电压200KV。管电流5mA,曝光4分钟透照某工件,所得底片黑度为1.0,现改为焦距750mm,管电压不变,管电流改为15mA,为摄得黑度1.5的底片.则曝光时间为多少.(由使用胶片的特性;曲线得知lgE1.0=1.8, lgE1.5=2.1)

﹡﹡4.11.原用焦距6mm,管电压220KVP.管电流5mA,曝光时间3分钟.所得底片黑度为1.5;现焦距改用800mm。管电流不变.管电流改为10mA,为使底片黑度达以2.5,问曝光时间应为多少?(所用胶片特性曲线如图所示) (5.33分)

题4.11图

﹡﹡﹡4.12由胶片特性曲线得知,黑度3.5时的曝光从为黑度1.5时曝光量的2.5倍。若实

际透照时曝光量的变化为?25%.为使透照焊缝时底片黑度总能满足1.5以上3.5以下和

条件。则通过母材区到达胶片的照射量应为通过焊缝区到达胶片照射量的几倍以内? (1.5倍)

﹡﹡﹡4.13假定使用的胶片特性曲线如下图所示,按探伤工艺卡规定透照焊缝时母材的最大黑度为3.0,而技术标准允许的最大黑度为3.5。若其他条件不变,焦距用650mm时焦距测定误差为?15mm,问在这种情况下母材黑度会否超过3.5?又最大黑度不超过3.5的焦距变化极限值是多少?(不会,607mm)

D

3.5

3.02.4

2.0

1.8

2.17lgE

lgE

题4.13图 题4.14图

﹡﹡4.14对厚度16mm的钢焊缝,按被检区黑度为2.0的摄片条件作了两次透照。并对两张底片上的同一部位测了黑度,得知在第一次透照中黑度为1.8.在第二次透照中黑度为2.4,若对黑度为2的变化是由曝光量的变化引起的,则第一次透照和第二次透照中的曝光量变化分别是百分之几?(所用胶片特性曲线如图所示)(减少8.8%,增加26%)

﹡﹡4.15按图(a). (b)给出的条件透照图(C)的钢试件,为能经常摄得黑度1.5以上、3.5以下的底片.则曝光量允许有百分之几的变动?(三图中涉及的射线机、胶片、铅增感受屏、焦距及暗室处理条件均同。)(士23%)

D

mA·min

25

10

1.5

1418

mmlgE2=2.3

AB

题4.15图

﹡﹡﹡﹡4.16按图(a), (b)给出的条件透照图(c)的钢试件,.若A点黑度过2.5.则B点黑度能否满足1.5以上条件?又B点此时的实际黑度是多少? (不能;0.68)

(三图中使用的射线机、胶片、增感屏、焦距、显影条件均同)

mA·min

40

D

2.5

10

1.5

12

18

Tmm

1.77

2.00

lgE

ADA=1.5

BDB=?

题4.16图

﹡﹡﹡﹡4.17按图(b). (c)给出的条件透照图(a)的试样.若DA=1.5, DU=0.6,则TB=?然后只改变曝光量,使用DB=1.2,则此时EB=?,又DA=?(三图中使用的射线机、胶片、增感屏、 焦距、显影条件均同) (21mm,20mA.min 2.92)

'

'

'

D

1.51.2

0.6

ADA=1.5

BDB=0.6

1.34

1.65

lgE

mA·min

E

2

10

16

题4.17图

﹡﹡4.18 以管电压参数的曝光曲线查得D=1.5,曝光量为10mA*min的一组数据如下:

(1)今透照厚度18mm的试件,用管电流5mA.曝光时2分钟,为得到黑度1.5.管 电压应为多少?( 190KV )

(2)假设在100KV-320KV范围内.管电压与透照厚度呈线性关系.求该线性方程,并求管

电压320KV对应的透照厚度Tm是多少?(34mm)

﹡﹡﹡﹡4.19 (1)如用180kv,25mA*min透照厚度16mm和20mm的钢试件,20mm部分的黑度为1.5,则16mm的黑度是多少?(所用胶片特性曲线和曝光曲线如下所示)。

(2)对按(1)的条件透照的底片,检查员要求厚度20mm部分的黑度为2.0,为此必须重新摄片,但由于操作上的原因,只能改变管电压透照(曝光量不变),则管电压应为多少?[注](1)(2)中使用的射线机、胶片、增感屏、焦距、显影条件均同)(3.19 210kv)

?2.1.cVT

?a?

题4.19图?b?

﹡4.20欲对容器纵缝进行连续拍片,透照厚度TA=40mm焦距取600mm,胶片规格为360mm长,试确定一次透照长度和搭接长度各为多少?(透照厚度比为K=1.03)

(280mm;20mm)

﹡4.21 用双壁单影法透照外径400mm的容器直缝,焊缝为双面焊对接焊缝,板厚为10mm,焦距600mm,求一次透照长度L3和有效评定长度Leff?(k=1.01) (180mm;184.2mm)

﹡﹡4.22用XY3010X射线机外透法透照外径1592,板厚46mm的锅筒环焊缝,如焦点至工作表面距离L1为700mm,则100%检查满足?T/T=10%的最小透照次数N和依次透照长度L3分别是多少? (16次, 312.5毫米)

﹡﹡4.23用XY2525X射线机双壁单影法透照?219*16mm的钢环焊缝.若焦距为500mm,则100%检查满足△T=0.1T的最少透照次数和一次透照长度L3分别是多少?(7次;98.3毫米)

﹡﹡4.24用双壁单影透照外径325,壁厚20mm的管子环焊缝,

(1)用x射线机透照,焦距600mm,按K ?1.1的要求.需要曝光几次?(6次)

(2)用1r192Y射线透照.焦距330mm.按?1.1的要求.需要曝光几次?(4次)

﹡﹡﹡4.25采用内透法进照内径300mm,板厚30mm.的筒体环缝.问(1)焦距选择600mm.满足k=1.1的一次透照长度L3是多少?(2)焦距选择1000mm,满足k=1.1的一次透照长度L3是多少?(3)实际工作中的一次透照长度应如何确定? (942mm.整道环缝;根据取决于照射场大

小)

﹡﹡4.26采用外透法透照内径800mm,壁厚20mm.的筒体环焊缝,若焦距F选择500mm,要求透照K?1.1.问至少需要透照几次才能完成100%检查,又如要求透照10次完成100%检汽,(K?1.1不变),则焦距 F至少应选择多少?2(14次;1121mm)

﹡﹡4.27采用双壁双投影的形式.透照?38*3毫米管子焊缝,已知焊缝宽度为8毫米.选用焦点尺寸为?3mm的x射线机,要求Ug?0.2mm.试计算最小焦距和透照偏移距离? (椭圆开口间距取5mm) (672mm; 205.4mm)

﹡﹡4.28用焦点尺寸df=3m的x射线机180KV的管电压透照?57X3.5和管子环焊缝.己知焊缝宽度b=10m.试求(1)要求Ug=3Ui.椭圆开口间距q=5mm时的透照焦距F透照偏移距离Lo(设Ui=O.013V0.79 .焊缝余高△h=1.5mm); (2)若透照距离L1=800mm.则此时Ug为Ui的几倍?(740mm;196mm;2.58倍)

﹡﹡4.29透照板厚20mm.余高4mm的钢焊缝,若母材区和焊缝区的散射比n分别为2.0和3.0.线质不随透照厚度而变化,试件对所使用的X射线的半价层为2mm,求透过母材到达胶片的照射量(包括透射线和散射线)是透过焊缝到达胶片上照射量的几倍?此时被检查区黑度能否满足黑度在1.2以上、3.5以下的条件?(由使用胶片的特性曲线得到

lgED1.2=1.64 .lgED3。5=2.25) (3倍)

﹡﹡4.30透照某工件原用胶片A.曝光量l0mA*min所得底片黑度1.5,现改用胶片B,求获得黑度1.5所需的曝光量?又如欲使胶片B照相黑度达到2.5.则曝光量应为多少?(所用胶片特性曲线右图)(15.8mA*min;19mA*min)

2.1.题4.30图

﹡﹡6.1观察射线底片时.若透过底片的光强相同。则最小可见对比度△Dmin也相同。今用亮度L0的观片灯观察黑度1.6的底片.然后再观察黑度2.5的底片。为使最小可见对比度△Dmin不变.应使观片幻片亮度提高多少?(8倍)

﹡﹡6.2观察射线底片时.若透过光强相同.刻最小可见对比度△Dmin 也相同。今用亮度为12001x的观片灯观察黑度1.4的底片2然后又观察黑度3.2的底片2因原亮度难于观察,需将亮度提高后观察,此时为使最小可见对比度△Dmin不变,应将亮度调至多少lx? (75600lx)

﹡﹡﹡﹡6.3 今摄得黑度分别为2.1和2.9的两张底片,按同一条件进行观察。观片时若透过光以外的环境光强与透过黑度为2.9的底片后的光强相同,则同一直径的象质计金属丝在黑度2.9的底片上可见对比度是黑度2.1的底片上可见对比度的几倍?(设黑度在

1.2-3.5范围内,△D与D成正比。)

(0.8倍)

﹡﹡7.1 Ir192源活度为50居里,求距源1米处和20米处的照射率(Ir192的Kr=4.72) (23.6R/h;0.059R/h)

﹡﹡7.2 相同活度的Co60和Ir192,在相同的距离上两者的照射率相差多少倍?(Co的Kr-13.2,Ir192的Kr=4.72)

(0.8倍)

﹡﹡7.3 测得距源14米出的照射率为108微希沃特/时,欲使照射率减少至25微希沃特时,问离源的距离应为多少?

(29.1m)

﹡﹡7.4 放射工作人员每周的剂量限量为1毫希沃特,如工作人员每周需在照射场停留25小时,问该照射场允许的最大剂量是多少?如实测该照射场的剂量率是30微希沃特,问在该照射场中的工作人员每周允许工作多少小时?

(40μSv;33h)

﹡﹡7.5 已知某一γ源1米处剂量率为16毫希沃特,问20米处的剂量率为多少?又采用屏

蔽方法欲使20米处剂量率降至4微希沃特,问需铅防护层的厚度为多少?(设该能量放射

铅半价层的T1/2=0.5cm) (40μSv;1.66cm)

﹡﹡7.6 使用Ir192拍片,在距源25米处操作,实测照射剂量率6.7毫伦/时,如每天允许

剂量率为16.7毫伦,问每天应工作几个小时?又90天后,使用同一射源拍摄,要求每天工

作8个小时,问保证不超过允许剂量的操作距离是多少?

(2.49h,29.5mR)

﹡﹡﹡7.7 在露天进行X射线照相,已知焦距点1米处漏射线剂量率200Mr,散射线剂量率

为各位置漏射线剂量率的9倍,现场拍片30张,每张曝光4分钟,如1人操作,为保证接

受剂量不超过10mR,应距焦点几米?如在距焦点12米处操作,为保证每人接受剂量不大于

10Mr,上述工作应由几人分担?此时每人可接受的照射剂量为多少mR? (20m,3人,9.3mR)

﹡﹡﹡7.8 安装400KVX射线机,为保证每天实际累计曝光时间250分钟时,摄片人员的射

线照射量不大于8Mr,用混凝土墙进行遮挡。已经混凝土的吸收系数为0.2cm-1,射线贯穿

混凝土后的散射比为2,X射线照射率为128R/min2m,射线管焦点与摄片人员的最小距离

为2m,求防护墙厚度。 (746mm)

﹡﹡﹡7.9 用Ir192源进行野外透照,射源活度为20ci,忽略散射线。若一天实际曝光时

间为2小时,为使射线照射量控制在一天照射限值之内,射线工作人员离源的最小距离应为

多少?射源距离公众活动场所至少多少米?(允许照射量:射线工作者16Mr/天,公众1.6Mr/

天;忽略非曝光时间的照射量。)

﹡﹡7.10 2离300KVX光机某距离处测得照射率为3毫伦/时,工作人员在该点每天工作6

小时,如果采用屏蔽防护,试计算需要加多厚的混凝土才能使该点的计量减弱到日安全计量

16.7毫伦以下?(设混凝土的半价层为3.1厘米) (21cm) (34.35m,108.63m)

﹡﹡7.11 用Cs137γ射线源做野外透照拍片,射源强度为5居里,忽略散射线,已知一个人一天的允许计量为16.7毫伦,如果工作人员一天的总计曝光时间为1小时,求射线工作人员距离射线源的最小距离为多少米?(Cs137γ的Kr=3.28)

﹡﹡7.12 已知钴Co60γ射线源,放射强度为5居里2工作人员离源6米处工作,工作点的最大容许照射率为4.17毫伦/时,忽略散射线影响,试计算在源与工作点之间,需要加的铅版厚度为多少厘米?(已知铅版的半价层为1.07厘米,Co60γ的Kr=13.2) (5.84cm)

﹡﹡7.13 2一颗放射性强度为10居里的Ir92源,工作人员距源1米处工作,需要设计一个屏蔽层,现仅有15毫米厚的铅版可作一层屏蔽,其余要用铁作屏蔽层,在不考虑散射影响情况下,需要多厚的铁才能使工作点的计量为2.1毫伦/时?(已知铅的半价层为3.5毫米,铁的半价层为10毫米)

﹡﹡﹡7.14 一测得距源10米处的计量率为100毫伦/时,采用厚度为16mm的铅屏蔽后,该点计量率降至60毫伦/时,已知铅对该能量的射线的吸收系数为0.698cm,求散射比和散射线计量率。 (0.82;27mR/h) -1 (9.91m) (68.5mm)

计算题选解

1.11 解 1:设透过厚铝板后的窄束透射线强度为I1,加20mm铝板后的窄束透射线强度为I2,再加10mm铝板后的窄束透射线强度为I3

由窄束单色X射线衰减律

I?I0e??T

?2???200?400?e得 ? ????I3?200?e

?(2)式两边平方有:I32?40000e?2?

I32(3)?(1),得?100200

I3?2000

2 I3?1414(mR/h)

解2:由题意,I2=200mR/h

I3=400mR/h,

1?半价层Th=2cm,再加的10cm铝板为个半价层 2

I1m由?() I2

1200?1?得I3?I2???I2?()2? 22?2?

=141.4(mR/h)

答:透射线强度I3=141.4(mR/h)。

1.12 解:设含?A和?B的透射线强度分别为IAO和IBO,通过厚度为X和铝板后的强度分别为IA和IB,力量中成分对铝的衰减系数分别为?A和?B

??AX?I?I?e?AAO

则:???BX?I?I?eBO?Bm1

由题意,X=0时,IAO=IBO

X=X时,IA=5IB

(1)?(2),得

IA

?eX(?B??A)?5 IB

5=e

X(0.6?0.25)

Ln5=0.35X

?X=

答:应使射线透过46mm的铝板。

1.13 解:设透过12mm钢板前后的照射率分别为I0和I 则:

I1?1?1????mI02?2?16

m

m=4,即m?T?12,T? ??

12

?3?mm? m

0.6930.693?1

?2.31?cm? Th0.3

?1

答:半价层为3mm,吸收系数?=2.31?cm?。

1.14 解:设焦距为2m和4m时透过钢板前的射线强度分别为I01和I02,透过后分别为

I1和I2

??T

??I1?I01e则:? 02??(T?x)

??I2?Ie

(1) (2)

(1)÷(2),得

I1I01??T??T??x

??eI2I02?I01?x

?eI02

(3)

由题意,

I01?F2?

????4 ?I02?F1??

(4)

将(4)代入(3)

I1

?4e?x I2

e?X?6

X?

ln6

?1.49(cm) 1.2

0.693T1/2??0.58cm

3.2

答:钢板厚14.9mm,半价层为5.8mm

1.15 解:设合金密度为?0,吸收系数为?0,各合金元素得质量洗手系数分别为?1/?1和?2/?2,重

??1100

?0.29(cm?1)?1和?2 ?则:?a??a????1?1??2?2????2100??

答:吸收系数0.23(cm1)

1.16 解:设此同位素原来得放射性原子核为N0,14天后同一时刻得放射性原子核数为N,则由衰减公式 -

N?N0e?14? (1) 又设I1和I2分别为原来距源200cm处和14天后距源200cm处得放射强度,设I3为14天后距源192cm处得放射强度,则按题意有

I1?I2

I21922?() I3200

I2N? I1N0

1922) 200

?7??ln0.96 ??0.00583

0.693?T1/2??119(天) 0.00583则e?14??(

答:此源得半衰期为119天

1.17 解: 111 =m m?1020.3

?T1/10?mH?10(cm)

同理

T1/20?13(cm)

答:1/10价层为10mm,1/20价层为13mm。

1.18 解:求半价层:T1/2?1(cm)

求母材部位与焊缝部位射线强度比:

Im1?nm???Tm?Tf??e If1?nf

?1.15

答:半价层厚度为10mm,母材部位和焊缝部位射线强度比为1.15。

1.19 解:

' ????'???0.242?1?cos?? ???0.0032(A) ???0.1032(A) V?12.4'??'??120(KV)

答:散射光子波长??0.1032(A);能量V?120(KV)

1.20 解:求前15mm的值和T1/2

11 n?4 T(1/2)1?3.75(mm) ?2n16

1?0.1848(mm?1)

求后16mm的?值和T1/2

11? n'?3 T(1/2)2?5.35(mm) n82

?2?0.13(mm?1)

答:前15mm的1?0.1848(mm),T(1/2)1?3.75(mm) 后16mm的2?0.13(mm),T(1/2)2?5.35(mm) ?1?1

1.22 解:设透过母材区和焊缝区到达胶片上的直射线强度分别为IA和IB,散射线强度分别为ISA和ISB,散射比分别为nA和nB,照射量分别为EA和EB 则: IA?2H?4 IB?T

EAIA?1?n?2.4??4? EBIB1?n1?nB

nB?3

nA?ISAI,nB?SB IBIB又

ISAIAnA???1.9 ISBIBnB

答:焊缝区散射比nB?3母材区和焊缝区射线强度比ISA/ISB?1.9。

1.23 解:(1)半价层T1/2,在图A中是指x射线强度I?I0/2时的厚度,由图A上 lg(I0/2)?1.7

由曲线1可查得T1/2?0.35(mm)

(2)图中穿透厚度3cm之间得平均吸收系数,以曲线1中连接板厚0cm点和3cm点得直线所表示得吸收系数。此吸收曲线可用下式表示:

I?I0?e??X

logI??0.434?X I0

这里,x=3cm,logI0=2,

又由图,x=3cm,logI=0.3

??

(3)透过厚度3cm板厚得x射线相对于薄层得线吸收系数?。是指具有与曲线1上厚度3cm处切线相同斜率得吸收曲线的线吸收系数。

设透过厚3cm时的x射线强度为I3,再透过薄层?X的x射线强度为I3’

则:I3?I3?e'???X2.3??2?0.3??1.3(cm?1) 3

'I3log?0.43???X I3

I3'??lgI 令logI3

则 ???2.3

图中,?lgI ?X?lgI表示厚度3cm处的切线斜率,即 ?X

?lgI?0.4 ?X

???0.92(cm?1)

(4)1cm处散射比

由图中曲线1、2可查得.logIPI?1.25,logI1?1.55

n1?IS1?0.9955 IS2

IS2?2.98 IP2同理 n2?

答:(1)半价层T1/2?0.35(mm);(2)平均吸收系数???1.3cm

(3)线吸收系数?=0.92 cm;(4)散射比n1=0.9955,n2=2.98。 -1?1

2.2 解: 实际焦点尺寸dfn= df13。=8.77mm辐射角-15处的焦点投影尺寸dfn ??sinxsin20

sin35?sin35?0.5736dfn=d2=38.77=38.77=5.39(mm) f??sin75sin750.9659

辐射角+15处的焦点投影尺寸dfp

题2.2解图15??75?sin5?

dfp = df ==8.7730.09 =0.79(mm)

?sin105

答:阴极侧15?dfn =5.3933mm ,

阳极侧15?dfp=0.7933mm 。

2.3 解:已知轴向有效焦点df1=1mm

则实际焦点df2= df/ tg12.5=1/0.2217=4.51mm,而5方向上焦点投影尺寸。。

df2= df 2tg5。=4.5130.0875=0.4(mm)

答:5方向上的焦点投影尺寸为0.434.5mm 2.5 解: 由公式df=

得 df = 。L1Ldf1-(1+1)d L2L280080022.3-(1+)0.2 400400

= 4.6-0.6= 4(mm)

答:有效焦点df = 4mm

2.9 解:设完全相同条件曝光所用的曝光量为E。,所得底片黑度

DAO =2.7 DBO =1.2

黑度1.5时,A片所用曝光量为EA ,B片所用曝光量为EB 由公式?= D2?D1 lgE2?lgE1

得 ?= DA?DAODB?DBOB= lgEA?lgEOlgEB?lgEO

即 lgEADA?DBO1.5?2.7= == -0.6 EOrB2

D?DAOEB1.5?1.2= B = = 0.1 EOrB3 lg

∴ EA-0.6 =10 EO

EB 0.1 =10EO

两种胶片感光速度比

1

SAEAEB100.11.26= == ?0.6? = 5.01 SB1EA100.251

EB

答:两种胶片感光速度比SA= 5.01 SB

2.10 解: lgE2D?D12.5?1.6= 2 = =0.257 E1r3.5

0.257 E2 = E1210=102100.257 =18(mA2min)

答:曝光量增加到18mA2min。

2.13 解:求无增感时,底片黑度达到1.5所需的曝光时间 lgE2D?D11.5?1.2= 2 = = 0.1 E1r3.5

0.1 E2 =E1210=831.26=10.07

增感系数K=E210.07==5 'E2

答:增感系数K=5

6?BZ6?8 -0.22.14 解: d = 1010=10=10 =0.63(mm) 10

0.015 d?= 0.633= 0.47(mm) 0.02

答:应看到10号金属丝,直径0.4 mm。

2.16 解: ΔD = D2 -D1 =?2lgE2=32lg13=0.34 E1

答:有缺陷部位与无缺陷部位黑度差ΔD =0.34

2.17 解:设穿透30mm的射线剩余强度为I1,穿过25mm的射线剩余强度为I2 I1I0e?uT1

-u(T1-T2) -1.336(3-2.5) ?= e= e = 0.5 ?uT2I2I0e

求反差系数γ ??D1?D22?3??3.32 1lg0.5lgI2

答:反差系数??3.32。

2.18 解:设透过厚度20mm和30mm部分后到达胶片上的直接透射强度分别为I1和I2 ,散

射比分别为n1和n2,照射量分别为E1和E2

31?20I1?2?2?2I2

E1I1(1?n1)1?2??2??1.5 E2I2(1?n2)1?3

lgE1?lgE2?lg1.5?0.176

又设观光灯的入射光强度为L0,透射光强度分别为L1、L2

则:

L0L0LD1?D2?lg?lg?lgL0?lgL1?lgL2?lgL1L2L1

165?lg?lg3?0.47755

? G?D1?D20.477??2.7 lgE1?lgE20.176

答:平均梯度 G?2.7

3.3 解: (1)

Ug?df?TA/(F?FA)?2?(40?4)/[600?(40?4)]

?0.158mm

(2)

UUi?0.0013V0.79?0.0013?3000.79?0.0013?90.56?0.118mm

???0.20mm 答:Ug?0.158mm,Ui?0.118mm,U?0.20mm

E2?3.5?lg1.5?0.616 E13.4 解: ?D?D2?D1?lg

答:有气孔部位与无气孔部位?D?0.616

3.5 解: 由 ?D??0.434???X

1?n

得 ?X???D(1?n)?(3?3.5)(1?2)??0.282(cm) 0.434??0.434?3?4

答: 缺陷高度为0.282cm

3.5 解: ?0.434??1?X

?D1?KD1D??1??1

?0.434?X?D2?2KD2D2

1?n

D1?1.0 ?D1?1.1?1.0

?D2?Dx?1.4

1.1?1.01.0? 代入 Dx?1.41.4

D2?1.4Dx?1.54

?1.54 答:气孔部位黑度Dx

3.7 解: 根据已知条件

?1??2,r1?r2,n1?n2,??1,?T?2mm

1

?T1?

W0.20.2

???1.15mmsin?sin10?0.1736

?0.434????T?D11?n1?T1

?? 由公式 ?0.434?T?D2?T2222

1?n2

得 ?D2?

?D1??T20.18?1.15

??0.1035

?T12

答:第二次照相?D2

?0.1035。

3.8

解: (1)

Ui?0.0013V0.79?0.0013?2800.79?0.0013?85.75?0.111(mm)Ug?df?b/(F?b)?2?(34?4)/[600?(34?4)]?0.135U???0.175

(2)由以上已求得Ui?0.111

透度计与胶片距离b取1mm

U?df?b/(F?b)?2?1/(600?1)?0.034

U???0.111

透度计放射源侧时,Ug?0.135mm,U?0.175mm 透度计放胶片侧时,Ug?0.034mm,U?Ui?0.111mm

3.9 解:有余高时,焊缝中散射比nf大于母材中散射比 nm

Io(1?nm)e??TmIm

?IfIo(1?nf)e??Tf

由胶片特

Im2.02?1.76?10?1.8 性曲线可知If

0.693

3.10 解:e??Tm?2(20?23)又 e??Tf?e???Tm?Tf??e?2.83 1?n代入(1)式,m1?n?1.8?0.64 f2.83焊缝磨平后,焊缝中散射比与母材中散射比相同,n'f?nm;焊缝部位黑度与母材部位黑度相同,D'f?Dm;又已知?与D成正比关系,设??KD(K为比例系数)设透度计金属丝产生的对比度在焊缝磨平后为?Df,在焊缝磨平前为?D'f ?0.434??m?X?m?Df?D'??Dm?1?nm1?f?Df?nmff 1?nf1?nfKDmDm?1?nmKD?1?nm?2.5?1?2.6 fDf1.50.641?nf1?nf答:磨平后金属丝对比度是磨平前的2.6倍。 根据所给条件可知,两缺陷部位的?相同,?相同,n相同,??1,根据未熔

合的透照厚度差?T1?1.5mm,坡口未熔合的透照厚度差?T2为?T2?W??sin35??0.35(mm)

两缺陷影象对比度之比为

?0.434????T

?D1

1

?D???T1?1.5?4.3(倍)

2?0.434?T 2?T20.35

1?n

3.11 解: 由?D??0.434???X 3.12 解:

D=3, 1?n?0.434??1?X得?D1?D?2?0.4342?X 1?n2式中:?X为透度计钢丝直径 因为 D与?成正比 所以有??11?KD1?2?kD2??KD1?D12KD2D2代入并化简 得 ?1D1?D11?n11?n1D?D?(1?n2??12)2D2D2(1?n1)1?n21?n2?2.5(1?4)1.5(1?2)?2.78答:?D母材/?D焊缝=2.78 根据题意设??KD?b,求比例系数可K、b 由已知条件:D=2, ?=2.6 2.6=2K+b ?=3.8 3.8=3K=b

解得K=1.2,b=0.2

??=1.2D+0.2

当 D=2.4时,?=3.02 又??0.693

0.4?1.7325

?0.434???X

由公式?D?1?n ?D(1?n)?(2.2?2.6)(1?2.5)?X???0.62(cm) 得?0.434??0.434?1.73?3.02

答:缺陷高度为6.2mm

3.13 解:已知 E2205??1.025 E1200

?0.434???X?D 由公式 ?? 和 ?D? 21?nlgE1

可得 lgE2?D?0.434??X?? E1?1?n

?X?

E1?n?lg20.434?E1

?1?2?lg1.025?0.037(cm)0.434?2

答:缺陷高度为0.037cm

3.14 解: (1)底片Ⅰ、Ⅱ黑度相同,曝光量相同,即E1=E2 E2(I?Is1)t1I(1?n1)t1???1 E1(I?Is2)t2I(1?n2)t2

t11?n11?1.4???1.6 t21?n21?0.5

?0.434???X

?D21?n21?n1???1.6 (2) ?D11?n2

1?n1

?0.434??d1

1?n? 1?n2 (3) ?Dmin1?Dmin2

d1?Dmin1(1?n1)d??d2?Dmin2(1?n2)d

?21?21?n11?n2 1?n21d2?d1()?0.25?()?0.19(mm)1?n11.6

答:(1)底片Ⅱ曝光时间为底片Ⅰ的1.6倍

(2)?DⅡ/?DⅠ=1.6

(3)应可见0.2mm钢丝

3.16 解:由公式 ?D??0.434???X

1?n

得 0.07??0.434??0.5

1?n2 ?0.434??0.7

0.05?1?n1

0.5(1?n1)7?50.7(1?n2)

(1?n1)49??1.96(1?n2)25 其中n1未屏蔽时的散射比,n2未屏蔽时的散射比,两式相除 得

? 采取屏蔽措施后,0.7mm气孔的底片的对比度为 ?D0.7

将(2)式代入 ?0.434??0.7?1?n2

得 ?D0.7?0.05(1?n1)?0.05?1.96 1?n2

0.05是不屏蔽时,0.7mm气孔所能得到的底片对比度,所以屏蔽后0.7mm气孔的

底片对比度提高了1.96倍。

3.17 解 (1)设母材区和焊缝中心到达胶片上的透射线量分别为E1和E2

E1I1(1?n1)t22.5(1?2)?? 则 E2I2(1?n2)t1(1?n2)

ED2.8E12.06?1.85

?10?1.62? 由已知条件

ED1.8E2

(2)代入(1)

3.18 解: 3

1.62?3.03?(1?n2)

1?n2?5.61

? n2

=4.61

(3) 设母材区和焊缝中心同一直径金属丝景象的对比度分别为?D1和?D2,则

?0.434?1

1G1?1?d?

?D21?n1

?D?

1

?0.434??d?

12G2?21?n2

由题意,

?1??2,????1,

G1?C?D1,G2?C?D (C——常数)

2

?

?D1D1(1?n1)2.81?4.61

?D?D??

22(1?n2)1.81?2.0

?2.9

答:焊缝散射比n2为4.61,

母材区象质计金属丝对比度是焊缝区的2.9倍。

设该气孔尺寸为?X G??X

由 ?D?

0.434?1?n

?X??

2.3?D(1?n)

得 ?G?

??1.7cm?1,n?2.5

已知

?D?2.39?2.61??0.22

又 G?D

?设 G?C1?D?C2

式中 C1、C2均为常数 求C1、C2,将已知条件代入: 2.6?C1?2?C2 3.8?C1?3?C2 解之得 C1?1.2,C2?0.2 回代(2)式 G?1.2D?0.2

故 G2.61?1.2?2.61?0.2?3.33 G2.39?1.2?2.39?0.2?3.07

G2.61?G2.393.33?3.07

??3.2

22

?2.3?(?0.22)?(1?2.5)

代入(1)得 ?X??0.326(cm)?3.3(mm)

1.7?3.2?1

? G?

答:该气孔尺寸为3.3毫米。

3.19 解:为在底片上识别0.2mm金属丝,必须满足下式条件:

?D??Dmin

设散射线控制前后直径d0.4在底片上的影象对比度分别为?D1和?D2

1

?D21?n2

?则 1?D1

?0.434?1G1?1d0.4?

1?n1

?0.434?2G2?2d0.4?

d0.21?n1

? ?

d0.41?n2

1?n1?Dmin2d0.4

??得

1?n2?Dmin1d0.2

将(4)代入(2)

?D2?Dmin2d0.40.030.4

? ?D??D?d?0.02?0.2?3

1min10.2

答:底片对比度应为原来的3倍。

0.434???X 3.20 解: ?D1??1?n1

?D2??0.434???X 1?n2

?D11?n2IP?IS2??1?n1IP?IS1 即 ?D2

又 底片黑度相同,胶片受到的曝光剂量相同 ? E?(IP?IS1)t1?(IP?IS2)t2

IP?IS2t1?t2 即 IP?IS1

?D1t1?t2 ? ?D2

3.21 解:

Ui?0.0013?4000.79?0.15(mm)

U?(0.26?0.15)?0.30(mm)

?2?M??MU?0,M?0.83?X

?r?2.3?Dmin?Cs?1GD?1

22?2.3?0.01?0.08/(1?3.8)??(2.64?1.8)?1?0.32mm

2?1 M1?0.83?X?0.83?0.32?0.2656(mm)? ?min?0.2656/2?[(0.2656/2)?0.2656?0.30]

?0.44mm

答:象质计灵敏度

3.22 解: Ug ?min?0.44mm ?df?TA/(F?TA)?4?25/(800?25)?0.13(mm)

Ui?0.0013?2200.79?0.09(mm)

U?(0.132?0.092)?0.16(mm)

1?X?1.2?/(??U)?1.2?0.25/(0.25?0.16)

?0.18(mm)22

?max?sin?1(1.5W/?X?U/d)

?sin?1(1.5?0.025/0.18?0.16/5) ?10.16?

答:该裂纹最大可检出角为10.16°。

3.23 解:用IQI丝灵敏度与裂纹灵敏度相关式: d?W?0.8?2/(1??/U)?0.8?2(??U)

0.8U???d?W???d?W?U?02

令 d?W?Q ?2?1.25Q??/U?1.25Q?0

??1.25Q/(2U)?{[?1.25Q/(2U)]2?(?1.25Q)}?0.625Q/U?(0.625Q/U?1.25Q)

Q?d?W?4?0.025?0.1

Ug?4?50/(800?50)?0.27(mm)

1Ui?0.0013?3000.79?0.12(mm)

U?(0.27?0.12)?0.29(mm)

Q/U?0.1/0.29?0.34

?min?1.25?0.34/2?(0.625?0.34?1.25?0.1)?0.2125?0.5809?0.79(mm)1 22 答:象质计灵敏度的理论绝对值

3.24 解 ?min?0.79mm

Ug?4?50/(1000?50)?0.21(mm)

Ui?0.0013?4000.79?0.12(mm)

U?(Ug2?Ui2)?(0.212?0.152)?0.26(mm)

?X?2.3?Dmin?Cs?1GD?1?2.3?0.01?1.8/(0.8?4.3) ?0.32mm

M?0.83?X?0.83?0.32?0.2656

?min?M/2?[(M/2)2?M?U]?0.2656?2?[(0.2656/2)?0.2656?0.26]?0.43(mm)d?W?0.67?X?U?0.67?0.32?0.26?0.05574(mm2)dmin?0.05575/0.020?2.79(mm)21

答:最小可检裂纹深度dmin?2.79(mm)

3.25 解: 按ASME参数

U?(Ug2?Ui2)?(0.502?0.552)?0.74(mm)

d?W?0.8?2/(1??/U)

?0.8?0.50/(1?0.50/0.74)?0.1194(mm)

dmin?0.1194/0.02?5.96?6(mm)

按GB规定的参数

有 U22 '?(0.27?0.11)?0.29(mm)

0.322/(1+0.32/0.29)=0.03895(mm2)

min

min22 d? ? W′ =0.8 ? d? ? d?= 0.03895/0.02 =1.95 / dmin?2(mm) = 2/6 = 1/3

答:GB规定的参数裂纹灵敏度高,两者之比为1:3。

3.26 解:(1)求象质计金属丝的??

由题中数据 df=4 L2=60 F=500 则 d??df?L2/F?4?60/500?0.48,又已知金属丝直径d?0.4 d??d

??d?? ????? 4?d?

=?1?0.4?0.654 40.48?

(2)求裂纹的?c

由上一问求得

d??0.48?W=0.2

1?d?? ? ?c???2?W??1?10.2??0.208 20.48

? (3)F增大到1000mm时裂纹的?c

则 d??df?L2/F?4?60/100?0.24

d??W

1?d?????? ? ?c2?W??1?10.2??0.416 20.24

答:(1)象质计金属丝对比度修正系数??=0.654

(2)裂纹的比度修正系数?c=0.208

(3)焦距增大到1000mm,?c=0.416

3.27 解:df?3,F?600

源在内时,缺陷到胶片距离L2 =34+4=38mm

源在外时,缺陷到胶片距离L2 很小,取L2?2mm

则源在内,d1?df?L2F?3?38/600?0.19

源在外,d0?df?L2F?3?1/600?0.005

求源在内时,裂纹的对比度修正系数?1: ? ?

??W ? d1

1?d??? ?1=???2?W??1?0.1?0.263 0.14

求源在外时,裂纹的对比度修正系数?0:

? d0?W

? ?0?1?1d?10.005??1???0.975 2W20.1

答:源在外透照较好,两种方法裂纹对比度之比为0.975/0.263=3.7倍。

4.2 解: 本题未给出散射比, 所以计算不考虑散射线影响。

求透过工件后照射率:

11?18?20?4.5(R/h)?75(mR/min) 2??210

I?250 曝光所需时间t???3.33(min) I75 I?I0?

答:每张胶片曝光时间为3.33min。

4.3 解: 求500mm处照射率:

I1?I0R0R12210002?6??24(R/h) 2500

= 400(mR/min) 求穿透工件后的照射率:

I2?I1e??T(1?n)?400?e?0.693?2?(1?2) = 400(mR/min) 已知获得黑度2所需照射I=600mR 则曝光时间 t?I600??2(min) I2300 答:曝光时间为2分钟。

EF4.4 解: 1?1

2 E2F22

5?48002

?25?t600

t?2.25(min)

答:曝光时间应为2.25分钟。

4.5 解:求焦距800mm,底片黑度1.5所需曝光时间

ItF 11?1

2 I2t2F22

5?38002

? t2?6.67(min) 4?t26002

求焦距800mm,底片黑度2.0所需曝光时间

??6.67?1.3?8.67(min) t2

答:曝光时间应为8.67分钟。

4.7 解:求焦距1000mm,底片黑度1.5所需曝光量:

EF 2?2

2 E1F1

E2?E1?2F2

F12210002?10??27.8(mA?min) 6002

求焦距1000mm,底片黑度2.5所需曝光量:

lgE2D2?D12.5?1.5???0.3 E1?3.3

0..3 E2?E1?10?27.8?100..3?55.86(mA?min)

答:需要曝光量为55.86毫安?分。

4.9 解:求距射源1米处的照射率:

I?I0F2F020.52?4?2?1(R/min) 1

0.693?41 求穿透40mm工件后剩余强度: I??Ie??T(1?n)?1?e?(1?3)

?0.25(R/min)?250(mR/min) 曝光时间: t?500?2(min) 250

答:需曝光2分钟。

4.10 解:设D1?1.0时,与F1?500mm和F2?750mm相应的曝光量分别为E1和E2,

?,曝光时间为t2?,则由平方反比律得: D2?1.5、F2=750mm 时的曝光量为E2

?F2?E?750?? 2????? ?E1?F500???1?22

?750? E2?5?4????45(mA?min) 500??2

??E2?10 而 E22.1?1.8?45?2?90(mA?min)

?? ? t290?6(min) 15

答:黑度1.5焦距750mm所需曝光时间为6分钟。

4.11 解:求焦距600mm,黑度2.5所需曝光量:

E??E?103.9?3.6?5?3?100?3?30(mA?min) 求焦距1000mm,黑度2.5所需曝光量

F??28002

E???E??2?30??53.3(mA?min) F?6002

求曝光时间:

E??53.3 t???5.33(min) I10

答:曝光时间为5.33分钟。

4.12 解:设黑度3.5的曝光量为E1,黑度1.5的曝光量为E2 ,母材处照射量为Em,焊缝照

射量为Ef,最坏的情况是母材曝光量产生正偏差E1=1.25Em,而焊缝处曝光量产生负偏差E2=0.75Ef,为控制底片黑度,应保证

E1?2.5 E2

1.25Em?2.5 0.75Ef

Em?1.5 Ef 即 得

答:通过母格到达胶片的照射量应为通过焊缝到达胶片的照射量的1.5倍以内。

4.13 解:根据胶片特性曲线,黑度3.5与3.0的曝光量之比

透照时有焦距误差,焦距近,射线照射量大,当焦距为650-15=635mm时,曝光量增加到原来的 E3.5?102.17?2.11?1.148,实际E3.0

6502

?1.047倍<1.148 6352

? 母材黑度不会超过3.5

最大黑度不超过3.5的焦距变化极限值Flim

F2

2?1.148 Flim= 607(mm) Flim

答:该情况下母材黑度不会超过3.5,最大黑度不超过3.5的焦距变化极限值为607毫米。

4.14 解:E1?101?86?1?.9?0.912 E

E2?102?1?9?1.26 E

?第一次透照曝光量变化为?0.912?1??100%??8.8%,

第二次透照曝光量变化为(1.26?1)?100%?26%

答:第一次透照曝光量减少8.8%,第二次透照曝光量增加26%。

?和E2?,胶4.15 解:设透照图(c)工件时,14mm和18mm两部分的实际曝光量分别为E1

片特性曲线中与黑度1.5和3.5相应的曝光量分别为E1和E2,又设曝光量允许的变动量为?X%

则由图(a)知:

又由题意知: ?25E2??2.5 (1) E1?10

?(1?x) (2) E1?E1

?(1?x) (3) E2?E2

(3)?(2)得

?1?xE2E2?? (4) E1E1?1?x

由图(b)知:

4.16 解:

4.17 解: E2E?102?3?1?7?100.6?4 1 将(1)、(5)两式代入(4)式 4?2.51?x1?x 2.6x?0.6 ? x?23% 答:曝光量允许有?23%的变动。 (1)如DB?1.5, 则由图(a)知: ET18E?40?4 T1210又由图(b)得 ED2?5E?102?1.77?1.7 D1?5? ET8E?4?ED2?5?1.7 (D=1.5) TAED1?5? DB?1.5时,DA?2.5 又由此可知:DA?2.5时,DB?1.5 (2)由胶片特性曲线E???D?得 1EDB D?B?10?lg 式中 E1DB?EDA?4?102?14?25 125 ? DB?101?60lg37.86?0.68 答:B点黑度不能达到1.5;实际黑度约0.68。 (1)由图(b)得: 5) (

ED1.5?101.77?1.34?2.7 ED0.6

故 ETB?ETA?2.7?10?2.7?27(mA?min) 由曝光公式 E?C1?10C2VT

得 TB?E1127?lgTB?lg C2VC10.00048?1800.42 ?21mm

(2)? ED1.2?101.65?1.34?2 ED0.6

??1.2 欲使 DB

??2EA?2?10?20(mA?min) 则 EB

由胶片特性曲线公式E???D

1?

得 D?10?lgE

?

1.77 式中 E?ED1.5?2?10?2

??37.86,??1.06

? D?A?101101.77?2?lg1.0637.86?2.92

??20mA?min,D? 答:TB?21mm;EBA?2.92。

4.18 解:

(1)用插值法有V=V+Vx?Vo(Tx-To) Tx?To

已知数值代入V=160+220?160(18-12)=190(KV) 24?12

(2)由线性方程一般形式=KT+b将已知数据代入

160=K*12+b

200=K*20+b

可求出K=5,b=100

∴该线性方程为V=57+100

当V=320时,由线性方程求得Tm=V320-20=-20=34(mm) 55

答:(1)管电压为190千伏

(2)曝光曲线方程式为V=5T+100,当管电压320KV时,透镜厚度Tm=34米。

4.19 解:

(1)为求DT120=1.5时,DT16=?应先求出用180KV、25mA透照时,T20和T16两部分达到同一黑度时的曝光量之比

ET120C1?10C2VT1C2V(T2?T1)??10即 ET16C1?10C2VT2

=100.00048?180?(20?16)=2.2

由胶片特曲线得:E=101.77时,D=1.5,当E=101.77?2.2时,D=?可由下式求出:

1

? E=??D?D=10

? Dx=101101.77?2.2lg1.0637.86??lgE? =3.19

(2) 由胶片特性曲线得:

ED2.0?101.9?1.77?1.35 ED1.5

为使T20部分得黑度2.0,曝光量应为

E=25?1.35?33.75(mA?min)

当用180KV透照,黑度仍为1.5时,相应的厚度由下式求出:

由 E=C1?10

得 T=C2VT 1E133.75lg?lg=22 C2VC10.00048?1800.42

?仍用10(mA?min),而管电压改变

?V=57+100=5?22+100=210KV

答:(1)160mm部分黑度为3.19

(2)管电压应为210千伏

4.20 解:L3?0.5L1?0.5?(600?40)?280(mm)

?L?0.5L2?0.5?40?20mm

答:一次透照长度L3为280mm,搭接长度?L为20mm。

4.21 解: L3?0.3L1?0.3?600?180(mm)

△L=0.3L2?0.3?(10?4)?4.2(mm)

Leff?L3??L?180?4.2?184.2(mm)

答:一次透照长度180mm,有效评定长度184.2(mm).

4.22 解: D0/T>30

?采用近似式求? ??cos?1

??sin(?111cos?1?24.620 K1.1D0?sin?) D0?2L1

=sin?1(1592?sin24.62) 1592?2?700

=12.80

18001800

??16(次) ?N=011.8224.62?12.8

L3??D0

N?1592??312.5(mm) 16

答:最少透照次数N=16,一次透照长度L3=312.5mm。

4.23 解:D0/T=219、16=13.7《30

?求?采用精确式 ??cos?10.21T?D00.21?16?219?cos?1?22.630 1.1?2191.1D0

??sin(

?1?1D0?sin?) 2F?D0 =sin(219?sin22.630)=6.190 2?500?219

18001800

??6.24?7(次) ? N=00022.63?6.1928.82

L1??D

N?219??98.3(mm) 7

答:最少透照7次,一次透照长度L3为98.3mm。

1?(k2?1)T/D0(1.12?1)20/325??1??1?0??cos?cos?22.954.24 解: (1) ??K1.1???1

??sin(?1D0325sin?)?sin?1(sin22.950)?8.330 2F?D02?600?325

??????22.95?8.33?31.28 N=000180

??180?5.75?6(次) 31.28

325sin22.950)?22.20 2?330?325

0 (2)由上一问?=22.950,?=sin?1(00 ??????22.95?22.22?45.17

N=180

??180?3.98?4(次) 45.17

答:(1)焦距600mm,需曝光6次;

(2)焦距330mm,需曝光4次。

4.25 解:(1) Di?3000 D0?3000?2?30?3060

F=600 K=1.1 ??sin(?13060?sin24.6)?sin?10.6848?43.200 3060?2?600

0 ??43.2?24.6?18.6

180?9.66次?10次 18.6

3000?? L3??942mm 10 N=

(2)F改为1000,其他参数同上 ??sin(?13060sin24.6)?sin?11.20,sin??1, 3060?2?1000

?无解

对sin??1的解释如下:当sin??1时,整道焊缝满足K?1.1,也就是说,满足K=1.1的一次透照长度L3为整个环缝长度。

(3)实际工作中定向机、源在内透照的一次透照长度应根据定向机的均匀透照范围来确定,透照场顶角?最大不超过20,一般选择小于15当源在内时,可以证明,始终有以下关系

因此,对于定向机,透照场范围内任一次K值肯定满足K?1.1,???,?不可能超过150。

一次透照长度无须按K=1.1,??24.62计算,而应按??15,反推?值,例如对(1)所列参数,可作以下计算: 0000

??150,??sin?1(D0?2F3060?2?600sin?)?sin?1(?sin150)?9.050 D03060

??????150?9.050?60

N=1800

??180 ?30(次)6

L3?3000??314(mm) 30

答:(1)一次透照L3为942mm;(2)整道环缝均满足K<1

(3)按透照场锥顶?计算L3=314mm

4.26 解: ??cos?1(

1)?24.60 K

??sin?1(D0800?40?sin?)?sin?1[?sin24.6]?11.20 D0?2L1800?40?2?(500?20)

??????24.60?11.20?13.40

N=180

?=13.43?14(次)

又:如需求10次透照完成100%检验

则 ?=180=180 N

000 ?=?-?=24.6?18=6.6

L1?D0sin?840sin24.6(?1)?(?1)?1101(mm) 2sin?2sin6.6

F=1101+20=1121(mm)

答:焦距500mm时要透照14次,如要求10次完成透照,则焦距应增大到1121mm。

4.25 解:最小焦距F?L2?df

Ug?L2?(38?4)?3?38?4?672mm 0.2

透照平移距离

L0?F?(D0??h)L1672?40(b?q)?(b?q)?(8?5)?205(mm) 'D0??h40L2

答:最小焦距F为672mm,透照平移距离为205mm.

4.26 解:(1)由已知条件:

Ui?0.0013V0.79?0.0013?1800.79?0.0786

?0.236(mm) 而 Ug?3Ui?3?0.0786

F?df?L2

Ug?L2?df(D0?2?h)Ug?(D0?2?h)?3?(51?2?1.5)?(51?2?1.5)?740(mm)0.236

F?L'

2740?(51?2?1.5)又 L0?(b?q)?(10?5)?196mm '51?1.5L

(2)设Ug为Ui的x倍

L1?dfL2

Ug?dfL2xUi

得 x?dfL2

L1Ui?3?54?2.58(倍) 800?0.0786

答:(1)透照焦距F为740mm,透照平移距离为196mm;

(2) U

4.27 解:设透过母材区和焊缝到达胶片上的照射量分别为E1和E2

4Ip1(1?n1)E11?23??22??4??3 则 E2Ip2(1?n2)1?34g值为U1的2.58(倍).

由胶片特性曲线

ED3.5?102.25?1.64?4 ED1.2

EE1?3?D3.5?4 E2ED1.2 ?

? D材?3.5

答:母材与焊缝部位照射量之比E1/E2?3,被检区黑度可满足大于1.2,小于3.5的条件。

4.30 解:(1) ?f?EB?102.2?2.0?100.2?1.585 EA

f EB?EA??

(2) ?D??10?1.585?15.85(mA?min) E2.5?102.28?2.2?100.08?1.2 E1.5

E2.5?E1.5??D?15.85?1.2?19(mA?min)

答:胶片B,黑度1.5所需曝光量为15.85毫安?分,胶片B,黑度2.0所需曝光

量为19毫安?分。

?,则由黑度定义D?6.1 解:设观片灯原亮度为L0,提高后的亮度为L0L0,得 L

1.6?lgL0 (1) L

?L0 (2) L 2.5?lg

即 1.6=lgL0?lgL (3)

??lgL (4) 2.5=lgL0

(4)?(3),得

??lgL0?lg 0.9?lgL0

? ?L0 L0?L0?8 L0

答:亮度应提高8倍。

6.2 ?时,解:设观片灯照度L0时,透过黑度为1.4的底片的光强为L,观片灯照度增加为L0 透过黑度为3.2的底片后的光强仍为L,则

1.4?lgL0 (1) L

?L03.2=lg (2) L

(2)-(1),得

?-lgL-lgL0?lgL?lg1.8=lgL0?L0 L0

? ?L0?63 L0

?=63?1200?75600(Lx) L0

答: 应将观光灯调到75600勒克司。

6.3 解:设照射光强度为L0的观光灯在透过底片黑度2.1和2.9部分后的光强分别为

L1和L2

则 .1?lgL0 (1) L1

L0 (2) L2 .9?lg

(2)-(1),得

0.8?lgL0?lgL2?lgL0?lgL1?lgL1 L2

L1L?6.3 2?0.16 (3) L2L1

又设环境光强为Ls,则底片可见对比度

?Da??D?D? (4) Ls1?n?1?L

按题意,?D?D,即?D?C?D (C一常数)

代入(4)式得

?Da?C?D (5) Ls1?L

设同一直径的象质计金属丝在黑度为2.1和2.9的底片上可见对比度分别 ?Da1和?Da2

则 ?Da1?C?D (6) Ls1?L

C?D2 (7) Ls1?L2?Da2?

(7)?(6)得:

?Da2

?Da1LsDL1?2? LD11?s

L21?

已知 Ls?L2

? ?Da2

?Da1LsDL12.91?0.16?2????0.8 LsD12.91?11?L21?

答:可见对比度之比?Da2Da1?0.8倍。

7.1 解:已知 A?50Ci?50000mCi,R1?1m?100cm

R2?20m?2000cm,Kr?4.72

由公式 P?A?Kr50000?4.72得P??23.6(h) 1R21002

P2?50000?4.72?0.059(Rh) 22000

答:距源1米处照射率为23.6伦/时,距源20米处照射率为0.059伦/时。

7.2 解:已知Co60的Kr?13.2,Ir192的Kr?4.72

PCo

PIr

答:相差2.80倍。 ?Krco13.2??2.80(倍) KrIr4.72

7.3 解:由公式D1R1?D2R2

R2?

答:距离应为29.1米。 22D1R12?142??29.1(m) D225

D1??0.04(mS?)?40(?S?) t25

D1000 (2) t??33(h) D307.4 解:(1)D?

答:(1)允许最大剂量率40微希沃特。

(2)每周允许工作时间33小时。

7.5 解: (1)D2?D1R1R2?16000?20?40(?S?)

(2)222D240??10 D34

令 2???10

则 nlg2?lg10?1

n?1?3.32 lg2

d?n?T2?0.5?3.32?1.66(cm)

答:(1)20米处剂量率为40微希沃特,(2)需铅屏蔽层厚度1.66厘米。

7.6 解: (1)t1?D016.7??2.49(h) D16.7

0.693?9075 (2)求90天后衰减倍数 ?I2??T?e?e I1?0.435(倍)

求90天后25米处剂量率

D2?D1?I2?6.7?0.435?2.9145(mRh) I1

求每天工作8小时的允许剂量率

D3?

求操作距离

2R2?D3?R12?D2 D016.7??2.0875(mRh) t28

R2?R12?D2?D325?2.1945?29.5(m) 2.0875

答:(1)每天应工作2.49小时

(2)操作距离为29.5米。

7.7 解:

(1)设一米处的照射率为I1,拍30张片的照射量为E1,安全距离为Fx

则I1?200?(1?9)?200(mRh) E1?2000?[(4?30)?60]?4000(mR)

?

? ExF101?(1)2??2 E1Fx4000FxFx?20(m)

(2) 又设12米处的照射量为E12,获得安全照射量的分担人数为n,人均受

量为Ey

则 E12FE1?(1),12?()2 E1F12400012

? E12?27.8(mR),n?

Ey?27.8?9.3(mR) 3E1227.8??3(人) 1010

答:(1)距离焦点20米,(2)3人分担,每人受照量9.3毫伦。

7.8 解:设防护墙厚度为x

由题意,每天的安全照射率为

I?8mR?0.032mRmin (1) 250min

??X 而 I?Ioe(1?n) (2)

其中 Io?128Rmin?

(2) 式两边取自然对数

得 ??X?ln1 ?32(Rmin) (3)4I代入已知量 Io(1?n)

? X??1

?lnI10.032??ln Io(1?n)0.232000?(1?2)

?74.6cm

答:防护墙厚746毫米。

7.9 解:设射线工作人员的安全距离为Fx,非射线工作人员的安全距离为Fy,Ir192源 的照射率常数为0.472Rm

? IxF?(1)2 I1Fx

式中 Ix——距离为Fx时的安全照射率

Ix?16mR1.6mR?8(mRh),Iy??0.8mRh 2h2

I1——距离为F1(1m)时的照射率, I1?0.472?20?9.44(h)

? Fx?I1?F12?Ix9440?34.35(m) 8

Fy?I1?F129440??108.63(m) Iy0.8

答:射线工作人员安全距离34.35米,非射线工作人员安全距离108.63米。

7.10 解:近似计算屏蔽层厚度

由公式 I2?e??T I1

T2I2IT??ln??ln1 ?I10.693I21

?3.11800ln?21(cm) 0.69316.7

答:需混凝土厚度21厘米。

7.11 解:

由公式 X?A?K?t 2R

A?Kr?t5000?3.28?1??991(cm) ?3X16.7?10 R?

答:最小距离为9.91米。

7.12 解:6米处的照射剂量率

X?A?Kr5000?13.2 ?22R600

?0.183(Rh)?183(mRh)

加铅厚度:

TI2I1.07183?ln1?ln?5.84(cm) T??ln?I10.693I20.6934.171

答:需加铅厚度为5.84厘米。

7.13 解:查表可知Ir192?常数Kr?4.72;

已知铅半价层T(2)1?3.5mm;铁半价层T(2)2?10mm。

1米处的照射剂量率

A?Kr10?103?4.72? X? 22R100

?4.72(Rh)?4720(mRh)

穿透15mm铅版的照射剂量率X1。 X1?Xe ??T??Xe0.693?TT(2)1?4720?e?0.693?1.53.5

?242.15mRh

所需铁屏蔽层的厚度

T?T(2)2

0.693lnX110242.15?ln X20.6932.1

?68.5(mm)

答:需要铁屏蔽层的厚度为68.5毫米。

7.14 解:

由公式 I?Ioe??T(1?n)

n?I?T600.693?1.6e?1?e?1?0.82 Io100

Is?I60?n??27(mRh) 1?n1?0.8

答:散射比0.82;散射线剂量率27mRh。

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